맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

탄소나노튜브 마이크로 포커싱을 이용한 위상 대비 엑스-선진단 시스템

  • 기술번호 : KST2014011891
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 탄소나노튜브 마이크로 포커싱을 이용한 위상 대비 X-선 진단 시스템은, 전자빔 발생원으로서의 초점이 수십 ㎛인 오목한 구조의 탄소나노튜브 음극부와, 전자 방출을 유도하는 게이트부와, 전자의 충돌에 의해 X-선을 발생하는 양극부를 구비하는 탄소나노튜브 기반의 3극 X-선관; 및 상기 X-선관의 양극부로부터 발생하는 X-선의 진행 경로 상에 X-선관으로부터 소정 거리 이격되어 X-선의 진행방향에 대해 수직 방향으로 설치되며, 샘플을 투과한 X-선을 검출하는 X-선 검출기를 포함하여 구성된다.이와 같은 본 발명에 의하면, X-선의 필라멘트 대신 오목한 음극 구조의 탄소나노튜브 기반 엑스-선관을 이용하여 X-선의 초점을 ㎛ 정도로 작게 함으로써 공간 분해능을 높이고, 또한 위상 대비(phase contrast) 기법을 사용함으로써 암 등 생체 조직의 정밀한 진단이 가능한 장점이 있다.탄소나노튜브, 마이크로 포커싱, 위상 대비, X-선
Int. CL B82Y 30/00 (2011.01) A61B 6/00 (2006.01)
CPC A61B 6/40(2013.01) A61B 6/40(2013.01)
출원번호/일자 1020050135742 (2005.12.30)
출원인 한국전기연구원
등록번호/일자 10-0770348-0000 (2007.10.19)
공개번호/일자 10-2007-0071900 (2007.07.04) 문서열기
공고번호/일자 (20071025) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.12.30)
심사청구항수 2

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 박양하 대한민국 경기 성남시 분당구
2 김종욱 대한민국 서울 양천구
3 장원석 대한민국 서울 관악구
4 김현숙 대한민국 경기 수원시 장안구
5 최해영 대한민국 서울 서초구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 주종호 대한민국 서울특별시 송파구 법원로**길 **, A동 *층 ***호 (문정동, H비지니스파크)(*T국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2005.12.30 수리 (Accepted) 1-1-2005-0785536-70
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2006.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2006.12.05 수리 (Accepted) 9-1-2006-0081076-44
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2007.01.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0055791-44
5 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period		 2007.03.30 수리 (Accepted) 1-1-2007-0250352-42
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period		 2007.04.30 수리 (Accepted) 1-1-2007-0322847-52
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 2007.05.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0393833-66
8 의견서
Written Opinion		 2007.05.29 수리 (Accepted) 1-1-2007-0393834-12
9 등록결정서
Decision to grant		 2007.10.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0531207-45
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.11.17 수리 (Accepted) 4-1-2009-5220117-37
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.11.08 수리 (Accepted) 4-1-2010-5207456-63
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.04 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006987-25
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전자빔 발생원으로서의 초점이 수십 ㎛인 오목한 구조를 가져 전자빔을 방출하고 수십 ㎛ 수준으로 포커싱하는 탄소나노튜브 음극부, 상기 탄소나노튜브 음극부로부터 상기 전자빔을 유도하는 게이트부, 및 상기 게이트부에 의해 유도된 상기 전자빔을 수십 ㎛ 수준으로 집속함으로써 수십 ㎛의 집속도를 갖는 X-선을 발생하는 양극부를 구비하는 탄소나노튜브 기반의 3극 X-선관; 및상기 X-선관의 양극부로부터 발생하는 상기 X-선의 진행 경로 상에 상기 X-선관으로부터 소정 거리 이격되어 상기 X-선의 진행방향에 대해 수직 방향으로 설치되며, 샘플을 투과한 상기 X-선을 검출하는 X-선 검출기를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 탄소나노튜브 마이크로 포커싱을 이용한 위상 대비 X-선 진단 시스템
2 2
제1항에 있어서,상기 X-선 검출기에 의해 샘플을 투과한 X-선을 검출할 시 위상 대비(phase contrast) 기법을 적용하여 최적의 거리를 조정하여 영상을 획득하는 것을 특징으로 하는 탄소나노튜브 마이크로 포커싱을 이용한 위상 대비 X-선 진단 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.