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다수의 테스트 핀으로 구성되어, 스위치연결 구성 명령어의 인가와 테스트 데이터의 입출력이 이루어지는 테스트 버스단(20); 다수의 스캔 핀으로 구성되어, 상기 테스트 버스단으로부터의 테스트 데이터를 전송받아 내장된 코아(10)의 스캔 체인으로 전송하는 스캔 체인 입출력단(50); 상기 테스트 버스단과 스캔 체인 입출력단간의 스위치 연결 방식에 대한 동작모드를 결정하는 Enable 신호 및 Mode 신호와, 소정의 클럭신호를 입력받는 제어신호 입력부(30); 상기 제어신호 입력부로부터의 구성동작 모드 신호의 입력에 따라, 핀 배열 순서별로 스캔 핀의 테스트 핀 연결 경우의 수를 제한하는 스위치연결 구성 명령어를 상기 테스트 버스단으로부터 입력받아 채워지는 명령어 레지스터(41); 상기 명령어 레지스터로부터 스위치연결 구성 명령어를 수신하여 갱신되는 업데이트 레지스터(42); 및 상기 업데이트 레지스터의 스위치연결 구성 명령어에 의해 테스트 모드 동작시 스캔 핀과 테스트 핀 연결 구조를 완성시키는 스위칭부(40); 를 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템 온 칩의 테스트를 위한 코아 접속 스위치 구조
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제 1항에 있어서, 상기 명령어 레지스터(41)에 채워지는 스위치 연결 구성 명령어는, 제한 연결구성 알고리즘 (N-P+1)P 에 따라 각 스캔 핀별로 연결가능한 테스트 핀을 제한함으로써 테스트 핀과 스캔 핀간의 연결 경우의 수를 줄이는 것을 특징으로 하되, 상기 N은 테스트 핀의 수이고 상기 P는 스캔 핀의 수인 것을 특징으로 하는 시스템 온 칩의 테스트를 위한 코아 접속 스위치 구조
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제 1항에 있어서, 상기 제어 신호 입력부(30)를 통해 결정되는 스위치 연결 방식에 대한 동작모드는, 스위치연결 구성 명령어의 입력을 통해 상기 스위칭부(40)의 연결 구조를 결정하는 구성 모드, 구성 모드시 인가된 명령어에 의해 구성된 상기 스위칭부(40)의 연결 구성을 통해 테스트 동작을 수행하는 테스트 모드 및 테스트 버스단(20)의 모든 핀이 스캔 체인 입출력단(50)을 경유하지 않고 상기 스위칭부를 관통하게 되는 바이패스 모드로 구성되는 것을 특징으로 하는 시스템 온 칩의 테스트를 위한 코아 접속 스위치 구조
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제 3항에 있어서, 상기 구성 모드의 동작시, 테스트 버스단(20)의 하위 입력 핀을 통해 입력되는 스위치연결 구성 명령어는 SCLK의 클럭에 따라 상기 명령어 레지스터(41)에 채워지고 UpdateSL 신호에 따라 상기 업데이트 레지스터(42)에 저장되어 해당 스위치연결 구성 명령어에 따라 스위칭부(40)의 연결 구성을 완성시키는 것을 특징으로 하는 시스템 온 칩의 테스트를 위한 코아 접속 스위치 구조
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제 3항에 있어서, 상기 구성 모드의 동작시, 테스트 버스단(20)의 하위 입력 핀을 통해 입력되는 스위치연결 구성 명령어는 SCLK의 클럭에 따라 상기 명령어 레지스터(41)에 채워지고 UpdateSL 신호에 따라 상기 업데이트 레지스터(42)에 저장되어 해당 스위치연결 구성 명령어에 따라 스위칭부(40)의 연결 구성을 완성시키는 것을 특징으로 하는 시스템 온 칩의 테스트를 위한 코아 접속 스위치 구조
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