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인영(印影)의 배경에 대하여 분광 스펙트럼을 측정하는 단계;날인된 인영 부분에 대하여 분광 스펙트럼을 측정하는 단계;상기 인영 부분의 분광 스펙트럼으로부터 상기 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 인주(印朱)의 분광 스펙트럼을 구하는 단계;상기 인주의 분광 스펙트럼에서 검색 키로 사용할 특징을 선택하는 단계;인주 샘플 스펙트럼 데이터베이스에서 상기 검색 키에 대하여 미리 정해진 값 이상의 동등성 조건을 만족하는 인주 샘플 스펙트럼을 검색하는 단계; 및검색된 결과에 기반하여 상기 동등성 조건을 만족하는 인주 샘플의 발견 여부 및 발견된 인주 샘플의 출처 정보를 출력하는 단계를 포함하되,상기 분광 스펙트럼은 마이크로 감쇄 전반사 퓨리에 변환 적외선 분광분석(attenuated total reflectance-Fourier transform infrared spectroscopy; Micro ATR-FTIR) 스펙트럼인 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법
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제1항에 있어서,감식 대상 시료에서 상기 인영 부분의 위치를 판단하는 단계를 더 포함하는 인주 감식 방법
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제2항에 있어서,상기 판단하는 단계는, 분광 스펙트럼 패턴 매칭을 통하여 상기 인영 부분의 위치를 판단하거나, 인영 형태 패턴 매칭을 통하여 상기 인영 부분의 위치를 판단하는 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법
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제1항에 있어서,상기 검색 키로 사용할 상기 특징은 상기 인주의 분광 스펙트럼 전체 패턴 또는 상기 인주의 분광 스펙트럼의 일부 영역의 패턴인 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법
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제1항에 있어서,상기 검색 키로 사용할 상기 특징은 상기 인주의 분광 스펙트럼 전체 패턴 또는 상기 인주의 분광 스펙트럼의 일부 영역의 패턴인 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법
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제5항에 있어서,상기 인주의 분광 스펙트럼의 일부 영역은 660 ~ 1750 cm-1 파수 영역 또는 2850 ~ 2900 cm-1 파수 영역인 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법
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제1항에 있어서,상기 검색 키로 사용할 상기 특징은 상기 인주의 분광 스펙트럼에서의 적어도 하나의 파수(wavenumber) 및 상기 적어도 하나의 파수에 대응하는 적어도 하나의 투과율 값인 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법
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제1항에 있어서,현미경을 이용하여 상기 배경 또는 상기 인영의 분광 스펙트럼을 측정하는 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법
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인영(印影) 및 서명(署名)의 배경의 분광 스펙트럼, 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 상기 인영 부분의 분광 스펙트럼, 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 상기 서명 부분의 분광 스펙트럼 및 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있는 부분의 분광 스펙트럼을 측정하는 단계;상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 상기 인영 부분의 분광 스펙트럼으로부터 상기 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 인주(印朱)의 분광 스펙트럼을 구하는 단계;상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 상기 서명 부분의 분광 스펙트럼으로부터 상기 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 서명 잉크의 분광 스펙트럼을 구하는 단계;상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있는 부분에서 상기 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 확인 대상의 분광 스펙트럼을 구하는 단계;상기 확인 대상의 분광 스펙트럼을 상기 인주의 분광 스펙트럼 및 상기 서명 잉크의 분광 스펙트럼 중 적어도 하나와 비교하여 동등성 높은 분광 스펙트럼을 판단하는 단계; 및상기 판단한 결과에 기반하여 인영과 서명의 선후관계를 판단하는 단계를 포함하는 인주 및 서명 감식 방법
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제9항에 있어서,감식 대상 시료에서 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있는 부분의 위치를 판단하는 단계를 더 포함하는 인주 및 서명 감식 방법
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제10항에 있어서,상기 판단하는 단계는, 분광 스펙트럼 패턴 매칭을 통하여 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있는 부분의 위치를 판단하거나, 인영 형태 패턴 매칭을 통하여 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있는 부분의 위치를 판단하는 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법
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제9항에 있어서,상기 동등성 높은 분광 스펙트럼을 판단하는 단계는, 분광 스펙트럼에서의 적어도 하나의 파수(wavenumber) 및 상기 적어도 하나의 파수에 대응하는 적어도 하나의 투과율 값에 대하여, 상기 확인 대상의 분광 스펙트럼을 상기 인주의 분광 스펙트럼 및 상기 서명 잉크의 분광 스펙트럼 중 적어도 하나와 비교하는 것을 특징으로 하는 인주 및 서명 감식 방법
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제9항에 있어서,상기 동등성 높은 분광 스펙트럼을 판단하는 단계는, 상기 확인 대상의 분광 스펙트럼이 1585 cm-1, 1170 cm-1, 2928 cm-1 또는 2856 cm-1 파수에서 투과율 피크값을 보이는 경우에는 상기 투과율의 수치적인 유사도를 근거로 상기 인주의 분광 스펙트럼과 동등성이 높은 것으로 판단하고, 상기 확인 대상의 분광 스펙트럼이 1585 cm-1, 1170 cm-1, 2928 cm-1 및 2856 cm-1 파수에서 투과율 피크값을 보이지 않는 경우에는 상기 투과율의 수치적인 유사도를 근거로 상기 서명 잉크의 분광 스펙트럼과 동등성이 높은 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 인주 및 서명 감식 방법
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제13항에 있어서,상기 선후관계를 판단하는 단계는, 상기 확인 대상의 분광 스펙트럼이 상기 인주의 분광 스펙트럼과 동등성이 높은 경우에는 상기 서명이 기재된 후 상기 인영에 대한 날인이 있었던 것으로, 상기 확인 대상의 분광 스펙트럼이 상기 서명 잉크의 분광 스펙트럼과 동등성이 높은 경우에는 상기 인영에 대한 날인이 있은 후 상기 서명이 기재된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 인주 및 서명 감식 방법
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제9항에 있어서,상기 분광 스펙트럼은 마이크로 감쇄 전반사 퓨리에 변환 적외선 분광분석(attenuated total reflectance-Fourier transform infrared spectroscopy; Micro ATR-FTIR) 스펙트럼인 것을 특징으로 하는 인주 및 서명 감식 방법
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