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나노 입자를 이용한 질화물계 반도체 소자의 제조방법

  • 기술번호 : KST2014058940
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 나노 입자를 이용한 질화물계 반도체 소자의 제조 방법에 관한 것으로, 이종 기판 위에 양질의 질화물계 반도체층을 성장시킨 후 이종 기판과 질화물계 반도체 소자의 분리시 질화물계 반도체 소자의 손상을 최소화하기 위한 것이다. 본 발명에 따르면, 이종 기판 위에 유전체층을 형성한다. 다층 구조의 나노입자층을 유전체층 위에 Al2O3의 나노입자를 함유한 혼합액을 스핀 코팅으로 도포하여 형성한다. 나노입자층 위에 질화물계 반도체층을 형성한다. 질화물계 반도체층 위에 지지기판을 접합한다. 유전체층이 형성된 이종 기판을 분리한다. 그리고 나노입자층을 제거하여 지지기판 위에 질화물계 반도체층이 형성된 질화물계 반도체 소자를 획득한다. 이때 나노입자층을 기반으로 질화물계 반도체층을 성장시킴으로써, 나노입자층에 의해 스트레인과 전위 밀도가 감소한 양질의 질화물계 반도체층을 획득할 수 있다. 또한 유전체층이 형성된 이종 기판은 습식 식각이나 초음파 세척기를 이용하여 나노입자층에서 분리하기 때문에, 질화물계 반도체층의 손상을 최소화하면서, 제조 공정을 간소화할 수 있고, 또한 질화물계 반도체 소자의 제조 비용을 낮출 수 있다.
Int. CL H01L 21/20 (2006.01)
CPC H01L 21/02513(2013.01) H01L 21/02513(2013.01) H01L 21/02513(2013.01) H01L 21/02513(2013.01) H01L 21/02513(2013.01)
출원번호/일자 1020110021900 (2011.03.11)
출원인 한국광기술원
등록번호/일자 10-1137514-0000 (2012.04.10)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20120420) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.03.11)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 송영호 대한민국 광주광역시 광산구
2 김승환 대한민국 전라북도 전주시 덕진구
3 전성란 대한민국 광주광역시 광산구
4 양계모 대한민국 전라북도 전주시 완산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박종한 대한민국 서울특별시 구로구 디지털로**길 * (구로동, 에이스하이엔드타워*차) ***호(한림특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.03.11 수리 (Accepted) 1-1-2011-0178721-46
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.01.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.02.15 수리 (Accepted) 9-1-2012-0009474-32
4 등록결정서
Decision to grant
2012.03.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0170164-19
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.03 수리 (Accepted) 4-1-2020-5148105-81
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.09 수리 (Accepted) 4-1-2020-5153634-39
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번호 청구항
1 1
이종 기판 위에 유전체층을 형성하는 유전체층 형성 단계;상기 유전체층 위에 Al2O3의 나노입자를 함유한 혼합액을 도포하여 다층의 나노입자층을 형성하는 나노입자층 형성 단계;상기 나노입자층 위에 질화물계 반도체층을 형성하는 질화물계 반도체층 형성 단계;상기 질화물계 반도체층 위에 지지기판을 접합하는 접합 단계;상기 나노입자층 아래의 상기 유전체층이 형성된 상기 이종 기판을 분리하는 분리 단계;상기 나노입자층을 제거하여 상기 지지기판 위에 상기 질화물계 반도체층이 형성된 질화물계 반도체 소자를 획득하는 획득 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 입자를 이용한 질화물계 반도체 소자의 제조 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 유전체층 형성 단계에서,상기 이종 기판은 사파이어(Al2O3), 실리콘(Si), 징크 옥사이드(zinc oxide, ZnO), 갈륨 나이트라이드(gallium nitride, GaN), 갈륨 비소(GaAs), 실리콘 카바이드(silicon carbide, SiC), 알루미늄 나이트라이드(AlN) 또는 산화 마그네슘(MgO) 소재의 기판이 사용되고,상기 유전체층은 상기 이종 기판 위에 100 내지 200nm의 두께로 형성된 실리콘산화막(SiO2) 또는 실리콘질화막(SiN) 중에 하나인 것을 특징으로 하는 나노 입자를 이용한 질화물계 반도체 소자의 제조 방법
3 3
제2항에 있어서, 상기 나노입자층 형성 단계에서,상기 혼합액을 도포하여 1㎛ 이하의 두께를 갖는 다중층으로 상기 나노입자층을 형성하는 것을 특징으로 하는 나노 입자를 이용한 질화물계 반도체 소자의 제조 방법
4 4
제2항에 있어서, 상기 나노입자층 형성 단계는스핀 코팅, 스프레인 또는 딥인 방법으로 수행하는 것을 특징으로 하는 나노 입자를 이용한 질화물계 반도체 소자의 제조 방법
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제3항에 있어서, 상기 질화물계 반도체층 형성 단계는,상기 나노입자층 위에 질화물계 반도체층을 성장시키는 단계;상기 질화물계 반도체층을 제조될 질화물계 반도체 소자에 대응되게 분할하는 분할 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 입자를 이용한 질화물계 반도체 소자의 제조 방법
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제5항에서, 상기 분할 단계에서,건식 식각으로 상기 나노입자층이 노출되게 상기 질화물계 반도체층을 분할하는 것을 특징으로 하는 나노 입자를 이용한 질화물계 반도체 소자의 제조 방법
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제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 분리 단계에서,상기 유전체층이 형성된 상기 이종 기판을 습식 식각이나 초음파 세척기를 이용하여 상기 나노입자층에서 분리하는 것을 특징으로 하는 나노 입자를 이용한 질화물계 반도체 소자의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.