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회로의 고장을 진단하는 장치에 있어서,기설정된 테스트 패턴에 응답하여 오류가 발생한 회로의 출력단으로부터 입력단까지 고장 위치를 추적하되, 상기 회로를 구성하는 블럭에 인가되는 입력 모두가 비제어값(non-controlling value)을 갖는 경우, 상기 고장 위치의 추적을 중단하는 고장 위치 추적부;상기 회로에 대한 다수의 고장 후보 중 상기 고장 위치를 포함하는 고장 후보에 대해 제 1 고장 발생 점수를 할당하는 점수 할당부; 그리고상기 제 1 고장 발생 점수에 기초하여 상기 다수의 고장 후보 중 최종 고장 후보를 선택하는 선택부를 포함하며,상기 비제어값은 제어값(controlling value)을 반전시킨 값으로, 상기 제어값은 블럭의 입력으로 제공되는 경우 해당 블럭의 출력이 상기 입력과 동일해져 블럭의 출력을 단독으로 결정하는 값이며,상기 고장 위치 추적부는, 상기 오류가 발생한 회로의 출력단으로부터 입력단까지 고장 위치를 재추적하되, 상기 블럭에 대한 입력 모두가 상기 비제어값을 갖는 경우, 해당 입력 모두를 고장 위치로 결정하는 고장 진단 장치
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제 1 항에 있어서,상기 고장 위치 추적부는, 상기 테스트 패턴에 응답하여 출력되는 오류 패턴을 사용하여 상기 고장 위치를 추적하는 고장 진단 장치
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제 1 항에 있어서,상기 고장 위치 추적부는, 상기 블럭에 대한 입력이 상기 제어값을 갖는 경우, 해당 입력을 상기 고장 위치로 결정하는 고장 진단 장치
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제 1 항에 있어서,상기 블럭은, 하나 또는 그 이상의 논리 게이트를 포함하는 고장 진단 장치
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제 4 항에 있어서,상기 블럭이 AND 게이트를 포함하는 경우, 상기 제어값은 0인 고장 진단 장치
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제 4 항에 있어서,상기 블럭이 OR 게이트를 포함하는 경우, 상기 제어값은 1인 고장 진단 장치
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제 1 항에 있어서,상기 선택부는, 상기 다수의 고장 후보 중 상기 제 1 고장 발생 점수가 가장 높은 고장 후보를 상기 최종 고장 후보로 선택하는 고장 진단 장치
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제 1 항에 있어서,상기 점수 할당부는, 상기 다수의 고장 후보 중 상기 재추적에 의해 결정된 고장 위치를 포함하는 고장 후보에 대해 제 2 고장 발생 점수를 할당하는 고장 진단 장치
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제 9 항에 있어서,상기 선택부는, 가장 높은 제 1 고장 발생 점수를 갖는 고장 후보가 둘 이상인 경우, 상기 제 2 고장 발생 점수가 더 높은 고장 후보를 상기 최종 고장 후보로 선택하는 고장 진단 장치
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회로의 고장을 진단하는 장치에 있어서,기설정된 테스트 패턴에 응답하여 오류가 발생한 회로의 출력단으로부터 입력단까지 고장 위치를 추적하되, 상기 회로를 구성하는 블럭에 인가되는 입력 모두가 비제어값(non-controlling value)을 갖는 경우, 상기 고장 위치의 추적을 중단하는 고장 위치 추적부;상기 회로에 대한 다수의 고장 후보 중 상기 고장 위치를 포함하는 고장 후보에 대해 제 1 고장 발생 점수를 할당하는 점수 할당부; 그리고상기 제 1 고장 발생 점수에 기초하여 상기 다수의 고장 후보 중 최종 고장 후보를 선택하는 선택부를 포함하며,상기 비제어값은 제어값(controlling value)을 반전시킨 값으로, 상기 제어값은 블럭의 입력으로 제공되는 경우 해당 블럭의 출력이 상기 입력과 동일해져 블럭의 출력을 단독으로 결정하는 값이며,상기 점수 할당부는, 각각의 고장 후보에 상기 테스트 패턴을 입력한 경우, 상기 회로의 출력단 중 오류가 발생한 출력단에서만 오류가 검출되는 고장 후보에 대해 오류 매칭 점수를 할당하는 고장 진단 장치
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제 11 항에 있어서,상기 선택부는, 가장 높은 제 1 고장 발생 점수를 갖는 고장 후보가 둘 이상인 경우, 상기 오류 매칭 점수가 더 높은 고장 후보를 상기 최종 고장 후보로 선택하는 고장 진단 장치
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회로의 고장을 진단하는 장치에 있어서,기설정된 테스트 패턴에 응답하여 오류가 발생한 회로의 출력단으로부터 입력단까지 고장 위치를 추적하되, 상기 회로를 구성하는 블럭에 인가되는 입력 모두가 비제어값(non-controlling value)을 갖는 경우, 상기 고장 위치의 추적을 중단하는 고장 위치 추적부;상기 회로에 대한 다수의 고장 후보 중 상기 고장 위치를 포함하는 고장 후보에 대해 제 1 고장 발생 점수를 할당하는 점수 할당부; 그리고상기 제 1 고장 발생 점수에 기초하여 상기 다수의 고장 후보 중 최종 고장 후보를 선택하는 선택부를 포함하며,상기 비제어값은 제어값(controlling value)을 반전시킨 값으로, 상기 제어값은 블럭의 입력으로 제공되는 경우 해당 블럭의 출력이 상기 입력과 동일해져 블럭의 출력을 단독으로 결정하는 값이며,상기 점수 할당부는, 각각의 고장 후보에 상기 테스트 패턴을 입력한 경우, 상기 회로의 출력단 중 오류가 발생한 출력단에서 오류가 검출된 횟수에 따라 상기 고장 후보에 대해 오류 검출 점수를 할당하는 고장 진단 장치
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제 13 항에 있어서,상기 선택부는, 가장 높은 제 1 고장 발생 점수를 갖는 고장 후보가 둘 이상인 경우, 상기 오류 검출 점수가 더 높은 고장 후보를 상기 최종 고장 후보로 선택하는 고장 진단 장치
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기설정된 테스트 패턴에 응답하여 오류가 발생한 회로의 출력단으로부터 입력단까지 고장 위치를 추적하는 단계;상기 회로를 구성하는 블럭에 인가되는 입력이 제어값을 갖는 경우, 해당 입력을 상기 고장 위치로 결정하는 단계;상기 블럭에 인가되는 입력 모두가 비제어값을 갖는 경우, 상기 고장 위치의 추적을 중단하는 단계;상기 회로에 대한 다수의 고장 후보 중 상기 고장 위치를 포함하는 고장 후보에 대해 제 1 고장 발생 점수를 할당하는 단계;상기 오류가 발생한 회로의 출력단으로부터 입력단까지 고장 위치를 재추적하는 단계;상기 블럭에 인가되는 입력 모두가 상기 비제어값을 갖는 경우, 해당 입력 모두를 고장 위치로 결정하는 단계; 상기 다수의 고장 후보 중 상기 재추적에 의해 결정된 고장 위치를 포함하는 고장 후보에 대해 제 2 고장 발생 점수를 할당하는 단계; 그리고상기 다수의 고장 후보 중 최종 고장 후보를 선택하는 단계를 포함하며,상기 최종 고장 후보를 선택하는 단계는:상기 다수의 고장 후보 중 상기 제 1 고장 발생 점수가 가장 높은 고장 후보를 상기 최종 고장 후보로 선택하는 단계;를 포함하는 고장 진단 방법
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제 16 항에 있어서,상기 최종 고장 후보를 선택하는 단계는:가장 높은 제 1 고장 발생 점수를 갖는 고장 후보가 둘 이상인 경우, 상기 제 2 고장 발생 점수가 더 높은 고장 후보를 상기 최종 고장 후보로 선택하는 단계를 포함하는 고장 진단 방법
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기설정된 테스트 패턴에 응답하여 오류가 발생한 회로의 출력단으로부터 입력단까지 고장 위치를 추적하는 단계;상기 회로를 구성하는 블럭에 인가되는 입력이 제어값을 갖는 경우, 해당 입력을 상기 고장 위치로 결정하는 단계;상기 블럭에 인가되는 입력 모두가 비제어값을 갖는 경우, 상기 고장 위치의 추적을 중단하는 단계;상기 회로에 대한 다수의 고장 후보 중 상기 고장 위치를 포함하는 고장 후보에 대해 제 1 고장 발생 점수를 할당하는 단계;각각의 고장 후보에 상기 테스트 패턴을 입력한 경우, 상기 회로의 출력단 중 오류가 발생한 출력단에서만 오류가 검출되는 고장 후보에 대해 오류 매칭 점수를 할당하는 단계; 그리고상기 다수의 고장 후보 중 최종 고장 후보를 선택하는 단계;를 포함하는 고장 진단 방법
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제 21 항에 있어서,상기 최종 고장 후보를 선택하는 단계는:가장 높은 제 1 고장 발생 점수를 갖는 고장 후보가 둘 이상인 경우, 상기 오류 매칭 점수가 더 높은 고장 후보를 상기 최종 고장 후보로 선택하는 단계를 포함하는 고장 진단 방법
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기설정된 테스트 패턴에 응답하여 오류가 발생한 회로의 출력단으로부터 입력단까지 고장 위치를 추적하는 단계;상기 회로를 구성하는 블럭에 인가되는 입력이 제어값을 갖는 경우, 해당 입력을 상기 고장 위치로 결정하는 단계;상기 블럭에 인가되는 입력 모두가 비제어값을 갖는 경우, 상기 고장 위치의 추적을 중단하는 단계;상기 회로에 대한 다수의 고장 후보 중 상기 고장 위치를 포함하는 고장 후보에 대해 제 1 고장 발생 점수를 할당하는 단계;각각의 고장 후보에 상기 테스트 패턴을 입력한 경우, 상기 회로의 출력단 중 오류가 발생한 출력단에서 오류가 검출된 횟수에 따라 상기 고장 후보에 대해 오류 검출 점수를 할당하는 단계; 그리고상기 다수의 고장 후보 중 최종 고장 후보를 선택하는 단계;를 포함하는 고장 진단 방법
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제 23 항에 있어서,상기 최종 고장 후보를 선택하는 단계는:가장 높은 제 1 고장 발생 점수를 갖는 고장 후보가 둘 이상인 경우, 상기 오류 검출 점수가 더 높은 고장 후보를 상기 최종 고장 후보로 선택하는 단계를 포함하는 고장 진단 방법
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컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체에 있어서,제 16 항, 및 제 20 항 내지 제 24 항 중 어느 한 항에 따른 고장 진단 방법을 구현하는 프로그램이 기록된 기록 매체
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