맞춤기술찾기

이전대상기술

팔라듐-수소 시스템을 이용한 그라핀의 부분 도핑을 통해 형성된 반도체 소자 및 이의 제조방법

  • 기술번호 : KST2015013100
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전기 전도도가 우수한 그라핀과 이와 전자 주고받기가 용이한 팔라듐을 소재로 간단한 리소그라피 공정을 통해 안정성과 양산성이 우수한 반도체 소자를 제조할 수 있는 반도체 소자 제조방법 및 이 제조방법을 통해 제조된 반도체 소자를 제공한다. 이를 위한 본 발명은 반도체 소자 제조방법에 있어서, 기판에 홈을 형성한 후 상기 홈 내부에 게이트 전극과 유전체를 순차적으로 적층하는 단계와; 상기 유전체의 상부면과 접촉되도록 기판 위에 그라핀을 도포하는 단계와; 상기 도포된 그라핀을 리소그라피 공정을 이용하여 원하는 모양으로 패터닝하는 단계와; 상기 패터닝된 그라핀의 일부분에 팔라듐이 코팅될 수 있도록 기판 위에 포토레지스트를 도포한 후 리소그라피 공정을 통해 패터닝하는 단계와; 상기 패터닝된 포토레지스트 위에 팔라듐을 증착하여 그라핀의 일부분에 팔라듐을 코팅하는 단계와; 상기 그라핀의 일부분에 코팅된 팔라듐을 제외한 모든 포토레지스트와 팔라듐을 제거하는 단계; 및 상기 그라핀의 양쪽에 연결되도록 소스 전극과 드레인 전극을 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H01L 29/861 (2006.01)
CPC H01L 29/1606(2013.01) H01L 29/1606(2013.01) H01L 29/1606(2013.01)
출원번호/일자 1020120058124 (2012.05.31)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1415293-0000 (2014.06.27)
공개번호/일자 10-2013-0134539 (2013.12.10) 문서열기
공고번호/일자 (20140704) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.05.31)
심사청구항수 15

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 전성찬 대한민국 서울 서대문구
2 임주환 대한민국 서울 은평구
3 윤형서 대한민국 서울 서대문구
4 정영모 대한민국 서울 서대문구
5 박형구 대한민국 경기 시흥
6 오주영 대한민국 경기 김포시

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 윤병국 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***길, **, *층 (대치동, 삼호빌딩)(지성국제특허법률사무소)
2 이영규 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***길, **, *층 (대치동, 삼호빌딩)(지성국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.05.31 수리 (Accepted) 1-1-2012-0436297-08
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.01.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.02.07 수리 (Accepted) 9-1-2013-0009546-66
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.05.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0333649-19
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.06.26 수리 (Accepted) 1-1-2013-0572993-58
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.06.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0573010-82
9 등록결정서
Decision to grant
2013.09.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0669924-17
10 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2014.02.26 수리 (Accepted) 1-1-2014-0191128-45
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
홈이 형성된 기판; 상기 홈 내부에 형성되며 외부로부터 전압이 인가되는 게이트 전극;상기 게이트 전극과 접촉을 이루며 상기 홈 내부에 형성되는 유전체층;상기 유전체층의 상부면과 접촉되며 상기 홈 부분에 걸쳐지도록 상기 기판의 상부면에 형성되는 그라핀층;상기 그라핀층의 일부분에 증착되며 외부로부터 투입되는 수소와 반응하여 전자를 방출시키는 팔라듐층;상기 그라핀층의 양단과 각각 연결되도록 상기 기판 위에 적층되는 소스 전극과 드레인 전극; 을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
2 2
제1항에 있어서, 상기 홈은 2개가 구비되어 서로 일정 간격을 이루며 이격 형성되고, 상기 팔라듐층은 상기 2개의 홈 중 어느 일측 홈의 상부에 위치된 그라핀층 영역상에 증착 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자
3 3
제1항에 있어서, 상기 홈은 3개가 구비되어 서로 일정 간격을 이루며 이격 형성되고, 상기 팔라듐층은 상기 3개의 홈 중 중앙부 홈의 상부에 위치된 그라핀층 영역상에 증착 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자
4 4
제1항에 있어서, 상기 홈은 3개가 구비되어 서로 일정 간격을 이루며 이격 형성되고, 상기 팔라듐층은 상기 3개의 홈 중 양쪽 2개의 홈의 상부에 위치된 그라핀층 영역상에 각각 증착 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자
5 5
제1항에 있어서, 상기 팔라듐층과 반응하는 수소의 농도는 0 보다 크고 200ppm 이하의 범위 내에 존재하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
6 6
제1항에 있어서, 상기 반도체 소자는 50ppm 이상의 수소 농도 환경에 노출된 상태에서 동작되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
7 7
제1항에 있어서, 상기 팔라듐층으로의 수소 투입은 질량유량계(MFC; Mass Flow Controller)를 통해 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자
8 8
제1항에 있어서, 상기 기판은 실리콘 산화막이 형성된 실리콘 기판인 것을 특징으로 하는 반도체 소자
9 9
제1항에 있어서, 상기 소스, 드레인, 게이트 전극은 금(Au)으로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 소자
10 10
(a) 기판에 홈을 형성한 후 상기 홈 내부에 게이트 전극과 유전체를 순차적으로 적층하는 단계;(b) 상기 유전체의 상부면과 접촉되도록 기판 위에 그라핀을 도포하는 단계;(c) 상기 도포된 그라핀을 리소그라피 공정을 이용하여 원하는 모양으로 패터닝하는 단계;(d) 상기 패터닝된 그라핀의 일부분에 팔라듐이 코팅될 수 있도록 기판 위에 포토레지스트를 도포한 후 리소그라피 공정을 통해 패터닝하는 단계;(e) 상기 패터닝된 포토레지스트 위에 팔라듐을 증착하여 그라핀의 일부분에 팔라듐을 코팅하는 단계;(f) 상기 그라핀의 일부분에 코팅된 팔라듐을 제외한 모든 포토레지스트와 팔라듐을 제거하는 단계;(g) 상기 그라핀의 양쪽에 연결되도록 소스 전극과 드레인 전극을 형성하는 단계;를 포함하는 특징으로 하는 반도체 소자 제조방법
11 11
제10항에 있어서, 상기 (b)단계의 전 단계로서, 상기 유전체의 상부면과 기판의 상부면을 폴리싱(polishing) 공정을 통해 평평하게 가공하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 제조방법
12 12
제10항에 있어서, 상기 (b)단계에서 상기 그라핀의 도포는 화학기상증착(CVD) 방법을 통해 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 제조방법
13 13
제10항에 있어서, 상기 (b)단계의 상기 그라핀의 도포는 그라핀 옥사이드(graphene oxide)의 스핀코팅(spin coating) 공정을 통해 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 제조방법
14 14
제10항에 있어서, 상기 (f)단계는 리프트 오프(Lift-off) 공정을 통해 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 제조방법
15 15
제10항의 반도체 소자 제조방법을 통해 제조된 가스센서
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 한국과학기술연구원(KIST) 원천기술개발사업(미래유망융합기술 파이오니어사업) 에너지 수확소자의 고효율 인터페이스 및 관리 회로 기술 개발
2 교육과학기술부 연세대학교 산학협력단 일반연구자지원(기본연구지원) 탄소소재를 적용한 능동 제어 나노 공진기 개발
3 교육과학기술부 연세대학교 산학협력단 기초연구역량강화사업(대학중점연구소 지원) 나노융합 그린에너지 원천기술 개발(나노과학기술연구소)