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태양 전지의 제조 방법 및 에칭 페이스트

  • 기술번호 : KST2015055657
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요약 본 발명은 태양 전지의 제조 방법에 관한 것으로서, 태양 전지의 제조 방법은 제1 전도성 타입의 반도체 기판 위에 상기 제1 전도성 타입과 반대의 전도성 타입을 갖는 제2 전도성 타입의 반도체부를 형성하는 단계, 상기 반도체부 위에 보호막을 형성하는 단계, 상기 반도체부의 부분에 대응하는 상기 보호막의 부분 위에 에칭 페이스트를 도포하는 단계, 상기 도포된 에칭 페이스트를 열처리하여, 상기 보호막의 일부분을 제거함으로써 상기 반도체부의 일부분을 노출하는 단계, 상기 노출된 반도체부의 부분에 도전성 금속 재료를 도포하여 전극을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 에칭 페이스트는 산 성분, 고분자 바인더 및 유기 용매를 구비하고, 상기 산 성분의 함유량은 약 15 중량% 내지 50 중량%이고, 상기 고분자 바인더의 함유량은 약 5 중량% 내지 20 중량 %이며, 유기 용매의 함유량은 약 30 중량% 내지 80 중량%이다. 이로 인해, 에칭 페이스트를 이용하여 원하는 부분의 선택적인 제거가 가능해 제1 및 제2 전극이 한꺼번에 형성되므로, 태양 전지의 제조 공정이 간소해지고 제조 비용이 줄어든다. 또한, 재료의 소모 역시 줄어들게 됨으로써 제조비용 및 환경오염을 줄일 수 있다.태양전지, 후면접합, 에칭페이스트, 스크린인쇄법
Int. CL H01L 31/18 (2006.01) H01L 31/04 (2014.01)
CPC H01L 31/188(2013.01) H01L 31/188(2013.01) H01L 31/188(2013.01)
출원번호/일자 1020080127324 (2008.12.15)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-1464001-0000 (2014.11.14)
공개번호/일자 10-2010-0068833 (2010.06.24) 문서열기
공고번호/일자 (20141121) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.11.26)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이성은 대한민국 서울특별시 서초구
2 최영호 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인로얄 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로 ***, *층(서초동,서일빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.12.15 수리 (Accepted) 1-1-2008-0861262-30
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2013.11.26 수리 (Accepted) 1-1-2013-1079082-27
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.09.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.10.14 수리 (Accepted) 9-1-2014-0084189-96
7 등록결정서
Decision to grant
2014.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0747174-12
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
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번호 청구항
1 1
제1 전도성 타입의 반도체 기판 위에 상기 제1 전도성 타입과 반대의 전도성 타입을 갖는 제2 전도성 타입의 반도체부를 형성하는 단계,상기 반도체부 위에 보호막을 형성하는 단계, 상기 반도체부의 부분에 대응하는 상기 보호막 위에 선택적으로 에칭 페이스트를 도포하는 단계,상기 도포된 에칭 페이스트를 열처리하여 상기 보호막의 일부분을 제거함으로써 상기 반도체부의 일부분을 노출하는 단계, 그리고상기 노출된 반도체부의 부분에 도전성 금속 재료를 도포하여 전극을 형성하는 단계를 포함하는 태양 전지의 제조 방법
2 2
제1항에서, 상기 보호막은 실리콘 산화막, 실리콘 질화막 또는 이들의 조합으로 이루어진 태양 전지의 제조 방법
3 3
제2항에서, 상기 보호막은 한 층 이상으로 이루어진 태양 전지의 제조 방법
4 4
제3항에서, 상기 보호막은 약 300nm 이상의 두께를 갖는 태양 전지의 제조 방법
5 5
제1항에서, 상기 반도체부 부분의 노출 단계 이후, 세정하는 단계를 더 포함하는 태양 전지의 제조 방법
6 6
제5항에서, 상기 세정 단계는 물로 행해지는 태양 전지의 제조 방법
7 7
제6항에서, 상기 세정 단계는 초음파로 행해지는 태양 전지의 제조 방법
8 8
제1 전도성 타입의 반도체 기판 위에 상기 제1 전도성 타입과 반대의 전도성 타입을 갖는 제2 전도성 타입의 반도체부를 형성하는 단계,상기 반도체부 위에 보호막을 형성하는 단계, 상기 반도체부의 부분에 대응하는 상기 보호막의 부분 위에 에칭 페이스트를 도포하는 단계,상기 도포된 에칭 페이스트를 열처리하여, 상기 보호막의 일부분을 제거함으로써 상기 반도체부의 일부분을 노출하는 단계,상기 노출된 반도체부의 부분에 도전성 금속 재료를 도포하여 전극을 형성하는 단계를 포함하고,상기 에칭 페이스트는 산 성분, 고분자 바인더 및 유기 용매를 구비하고, 상기 산 성분의 함유량은 약 15 중량% 내지 50 중량%이고, 상기 고분자 바인더의 함유량은 약 5 중량% 내지 20 중량%이며, 유기 용매의 함유량은 약 30 중량% 내지 80 중량%인 태양 전지의 제조 방법
9 9
제8항에서,상기 산 성분은 인산(phosphoric acid), 플루오르화 수소(hydrogen fluoride), 플루오르화 암모늄(ammonium fluoride) 및 플루오르화 수소 암모늄(ammonium hydrogen fluoride) 중 적어도 하나인 태양 전지의 제조 방법
10 10
제8항에서상기 고분자 바인더는 에틸 셀롤로오스(ethyl cellulose), 폴리비닐 피로리돈 polyvinyplyrrolidone, 나일론-6(nylon-6), 니트로셀롤로오스(nitrocellulose), 젤라틴(gelatine), 폴리비닐부티랄(polyvinylbutyral), 폴리아미드 레진(polyamide resin), 틴소톤 스타치(Thixoton, starch), 폴리에테르-포리올(polyether-polyols), 폴리에트르유레아-폴리우레탄((polyetherurea-polyurethane) 및 셀롤로오스 유도체(cellulose derivatives) 중 적어도 하나인 태양 전지의 제조 방법
11 11
제8항에서상기 유기 용매는 NMP(n-methylpyrrolidone), 에틸렌 글리콘 부틸 에테르(ethylene glycol butyl ether), 프로필렌 카보네이트(propylene carbonate), 에틸렌 글리콜(ethylene glycol), N-메틸-2-피리돈(N-methyl-2-pyridone), 에틸렌 글리콜 모노아세테이트(ethylene glycol monoacetate), 디에틸렌 글리콜(diethylene glycol), 디에틸렌 글리콜 아세테이트(diethylene glycol acetate), 테트라에틸렌 글리콜(tetraethylene glycol), 프로필렌 글리콜(propylene glycol), 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르(propylene glycol monomethyl ether)
12 12
제8항에서상기 에칭 페이스트의 점도는 약 50 Pa
13 13
산 수용액을 이용하여 무기 절연체를 제거하는 에칭 페이스트에서,상기 에칭 페이스트는 산 성분, 고분자 바인더 및 유기 용매를 구비하고, 상기 산 성분의 함유량은 약 15 중량% 내지 50 중량%이고, 상기 고분자 바인더의 함유량은 약 5 중량% 내지 20 중량 %이며, 유기 용매의 함유량은 약 30 중량% 내지 80 중량%인 에칭 페이스트
14 14
제13항에서,상기 산 성분은 인산(phosphoric acid), 플루오르화 수소(hydrogen fluoride), 플루오르화 암모늄(ammonium fluoride) 및 플루오르화 수소 암모늄(ammonium hydrogen fluoride) 중 적어도 하나를 포함하는 에칭 페이스트
15 15
제13항에서상기 고분자 바인더는 에틸 셀롤로오스(ethyl cellulose), 폴리비닐 피로리돈 polyvinyplyrrolidone, 나일론-6(nylon-6), 니트로셀롤로오스(nitrocellulose), 젤라틴(gelatine), 폴리비닐부티랄(polyvinylbutyral), 폴리아미드 레진(polyamide resin), 틴소톤 스타치(Thixoton, starch), 폴리에테르-포리올(polyether-polyols), 폴리에트르유레아-폴리우레탄((polyetherurea-polyurethane) 및 셀롤로오스 유도체(cellulose derivatives) 중 적어도 하나인 에칭 페이스트
16 16
제13항에서상기 유기 용매는 NMP(n-methylpyrrolidone), 에틸렌 글리콘 부틸 에테르(ethylene glycol butyl ether), 프로필렌 카보네이트(propylene carbonate), 에틸렌 글리콜(ethylene glycol), N-메틸-2-피리돈(N-methyl-2-pyridone), 에틸렌 글리콜 모노아세테이트(ethylene glycol monoacetate), 디에틸렌 글리콜(diethylene glycol), 디에틸렌 글리콜 아세테이트(diethylene glycol acetate), 테트라에틸렌 글리콜(tetraethylene glycol), 프로필렌 글리콜(propylene glycol), 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르(propylene glycol monomethyl ether)
17 17
제13항에서상기 에칭 페이스트의 점도는 약 50 Pa
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.