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갈륨비소금속반도체전계효과트랜지스터의제조방법

  • 기술번호 : KST2015073832
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 내용 없음
Int. CL H01L 21/30 (2006.01)
CPC H01L 29/66871(2013.01)H01L 29/66871(2013.01)H01L 29/66871(2013.01)
출원번호/일자 1019900021816 (1990.12.26)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0069674-0000 (1994.01.10)
공개번호/일자 10-1992-0013636 (1992.07.29) 문서열기
공고번호/일자 1019930009552 (19931006) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1990.12.26)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이경호 대한민국 대전시중구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1990.12.26 수리 (Accepted) 1-1-1990-0128789-84
2 특허출원서
Patent Application
1990.12.26 수리 (Accepted) 1-1-1990-0128788-38
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1990.12.26 수리 (Accepted) 1-1-1990-0128790-20
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1993.05.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1990-0065770-00
5 의견서
Written Opinion
1993.06.24 수리 (Accepted) 1-1-1990-0128791-76
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1993.06.24 수리 (Accepted) 1-1-1990-0128792-11
7 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1993.09.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1990-0065771-45
8 등록사정서
Decision to grant
1994.01.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1990-0065772-91
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

전계효과 트랜지스터의 제조방법에 있어서, 반절연 갈륨비소비소기판(1) 위에 접촉부에 규소박막(2)을 스퍼터 증착하는 단계와, 이미지 반전기법의 포토리소그라피를 통한 에칭으로 오옴전극 접촉부위의 규소박막(2a)만 잔류시키는 단계와, 채널이온주입용 마스크를 사용하여 포토리소그라피를 한 뒤 인 또는 비소이온등의 5족 원소들을 주입한 후 규소이온을 주입하는 이중이온주입 단계와, 기판전체에 규소산화막, 규소질화막 또는 규소산화질화막 등을 보호막(6)으로 증착하고 800℃~1000℃의 열처리에 의해 채널영역에 주입된 규소이온을 활성화함과 동시에 오옴전극 접촉부위에 증착된 규소박막(2a)으로부터 규소를 기판(1)의 내부로 확산시켜 고용도까지 고농도로 도우핑된 오옴전극 접촉부위를 형성하는 단계와, 상기 보호막(6)을 습식 에칭으로 제거한 후 오옴전극용 마스크를 사용하여 오옴전극 패턴을 형성한 후 금속을 증착하고 오옴전극(7)을 형성하여 합금화하고 게이트 패턴을 형성한 후 게이트 전극(8)을 형성하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 금속반도체 전계효과 트랜지스터의 제조방법

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP2032107 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 JP6045361 JP 일본 DOCDBFAMILY
3 JP7066925 JP 일본 DOCDBFAMILY
4 JPH0645361 JP 일본 DOCDBFAMILY
5 JPH0766925 JP 일본 DOCDBFAMILY
6 US5296394 US 미국 DOCDBFAMILY
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