맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

편광빔분리장치

  • 기술번호 : KST2015074231
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 인가되는 전원전압에 따라 복굴절율이 변화하는 전기광학적 특성을 갖는 매질을 중간층(Spacer Layer)으로 사용하는 파브리-페로 공진기(Pabry-Perot Etalon)를 이용한 편광빔분리장치에 관한 것으로, 그 구성은 하부거울층으로 사용하되 낮은 굴절율을 가진 매질과 높은 굴절율을 가진 매질이 교번하여 형성된 제1거울층과, 상부거울층으로 사용하되 높은 굴절율을 가진 매질과 낮은 굴절율을 가진 매질이 교번하여 형성된 제2거울층과, 상기의 제1거울층과 제2거울층사이에 형성된 복굴절매질로 이루어진 중간층과, 상기 중간층의 양측에 형성된 전극과, 상기 전극에 전원전압을 제공하는 전원을 포함하되, 상기의 제2거울층과 상기의 제1거울층의 반사율이 동일하고, 상기 중간층의 두께d가 d=(λm)/2nfE의 식을 만족하고, 여기서, m은 정수이고, 그리고 E는 상기 중간층의 매질에 인가되는 전계이며, nf는 입사빔의 진행방향에 수직인 평면을 s-축과 f-축으로 표현하는 경우 s-축 방향에 대응하는 매질의 굴절율을 ns라 할 때 f-축 방향에 대응하는 매질의 굴절율인 구성을 특징으로 한다. 상기의 장치는 간섭현상을 이용하여 편광빔을 소망하는 방향의 성분을 분배할수 있고, 분리된 편광빔의 선폭을 조절할수 있으며, 에너지손실을 저감하는 이점이 있다.
Int. CL G02B 5/30 (2006.01)
CPC G02B 5/3083(2013.01) G02B 5/3083(2013.01) G02B 5/3083(2013.01) G02B 5/3083(2013.01)
출원번호/일자 1019930018049 (1993.09.08)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0104463-0000 (1996.09.05)
공개번호/일자 10-1995-0009284 (1995.04.21) 문서열기
공고번호/일자 1019960007883 (19960615) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1993.09.08)
심사청구항수 4

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 정종술 대한민국 대전직할시유성구
2 곽종훈 대한민국 대전직할시유성구
3 황월연 대한민국 대전직할시유성구
4 서호형 대한민국 대전직할시서구
5 이일항 대한민국 대전직할시유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전광역시유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination		 1993.09.08 수리 (Accepted) 1-1-1993-0094710-61
2 특허출원서
Patent Application		 1993.09.08 수리 (Accepted) 1-1-1993-0094708-79
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1993.09.08 수리 (Accepted) 1-1-1993-0094709-14
4 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent		 1994.02.21 수리 (Accepted) 1-1-1993-0094711-17
5 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application		 1996.05.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0038601-84
6 등록사정서
Decision to grant		 1996.08.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0038602-29
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

하부거울층으로 사용하되 낮은 굴절율을 가진 매질과 높은 굴절율을 가진 매질이 교번하여 형성된 제1거울층과, 상부거울층으로 사용하되 높은 굴절율을 가진 매질과 낮은 굴절율을 가진 매질이 교번하여 형성된 제2거울층과, 상기에 제1거울층과 제2거울층사이에 형성된 복굴절매질로 이루어진 중간층과, 상기 중간층의 양측에 형성된 전극과, 상기 전극에 전원전압을 제공하는 전원을 포함하되, 상기의 제2거울층과 상기의 제1거울층의 반사율이 동일하고, 상기 중간층의 두께 d가 d=(λm)2nfE의 식을 만족하고, 여기서, m은 정수이고, 그리고 E는 상기 중간층의 매질에 인가되는 전계이며, nf는 입사빔의 진행방향에 수직인 평면을 s-축과 f-축으로 표현하는 경우 s-축 방향에 대응하는 매질의 굴절율을 ns라 할 때 f-축 방향에 대응하는 매질의 굴절율인 편광빔분리장치

2 2

제1항에 있어서, 상기의 거울층에 잇는 상기 굴절율이 높은 매질은 그 광학적 두께가 신호빔의 파장의 1/4인 편광빔분리장치

3 3

제1항에 있어서, 상기의 복굴절매질은 LiNbO3, LiTaO3, KDP, SBN, BaTiO3, ZnS, ADP, GaAs, CdTe, 그리고 InAs등의 전기적 특성을 갖는 매질중에서 하나로 이루어진 편광빔분리장치

4 4

제1항에 있어서, 상기의 상부 및 하부거울층에 사용되는 적층의 물질로서 상기 중간층의 매질에 따라 PbTe/ZnS, ZnS/MgF2, ZnS/Na3AlF6중 하나인 편광빔분리장치

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.