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반도체 집적회로의 전원선 레이아웃 방법 및 그 방법을이용하여 제작된 반도체 집적 회로

  • 기술번호 : KST2015081759
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체 집적 회로의 전원선 레이아웃 방법 및 상기 방법을 이용하여 제작된 반도체 집적 회로에 관한 것이다. 본 반도체 집적 회로의 전원선 레이아웃 방법은 기판상에 디커플링 커패시터를 형성하는 단계와, 콘택트를 통해 상기 디커플링 커패시터와 연결되며, 상기 디커플링 커패시터가 가려지도록 상기 디커플링 커패시터의 형성 영역 상부에 제1 금속층을 배치하는 단계와, 상기 제1 금속층 형성 영역 상부에 제2 금속층을 배치하는 단계를 포함한다. 이에 따라, 금속층과 디커플링 캐패시터를 동일한 영역에 레이 아웃함으로써, 디커플링 캐패시터의 배치시 추가적으로 칩 면적이 소요되는 것을 방지할 수 있으며, 또한, 금속층으로부터 디커플링 캐패시터까지 연결할 때, 연결선 저항으로 인해 발생할 수 있는 디커플링 캐패시터의 열화를 방지할 수 있다.반도체 집적회로, 레이아웃, 전원선, 디커플링 커패시터
Int. CL H01L 27/04 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020060044931 (2006.05.19)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0810487-0000 (2008.02.28)
공개번호/일자 10-2007-0061092 (2007.06.13) 문서열기
공고번호/일자 (20080307) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020050120038   |   2005.12.08
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.05.19)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 변상진 대한민국 대전 유성구
2 유현규 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 (주)에코테크놀로지 경기도 오산시 북
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.05.19 수리 (Accepted) 1-1-2006-0348933-44
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.02.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.03.13 수리 (Accepted) 9-1-2007-0012983-79
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.07.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0401353-32
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2007.09.21 수리 (Accepted) 1-1-2007-0685428-04
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2007.10.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0756031-25
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2007.10.23 수리 (Accepted) 1-1-2007-0756029-33
8 등록결정서
Decision to grant
2008.02.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0090381-38
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1
기판상에 디커플링 커패시터를 형성하는 단계와, 콘택트를 통해 상기 디커플링 커패시터와 연결되며, 상기 디커플링 커패시터가 가려지도록 상기 디커플링 커패시터의 형성 영역 상부에 제1 금속층을 배치하는 단계와, 상기 제1 금속층 형성 영역 상부에 제2 금속층을 배치하는 단계를 포함하는되,상기 디커플링 커패시터는 PMOS 트랜지스터 구조물, NMOS 트랜지스터 구조물 또는 이들의 조합을 이용하는 반도체 집적회로의 전원선 레이아웃 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 제1 금속층은 상기 제1 금속층을 관통하며 상기 제1 금속층과 절연되는 슬롯과, 상기 제1 금속층과 동일한 금속으로 상기 슬롯내부에 형성된 슬롯내 금속을 포함하는 반도체 집적 회로의 전원선 레이아웃 방법
3 3
제2항에 있어서,상기 슬롯내 금속은 비아를 통해 상기 제2 금속층과 연결되는 반도체 집적 회로의 전원선 레이아웃 방법
4 4
제3항에 있어서,상기 디커플링 캐패시터는 폴리 게이트를 포함하며, 상기 폴리 게이트는 콘택트를 통해 상기 슬롯내 금속과 연결되는 반도체 집적회로의 전원선 레이아웃 방법
5 5
삭제
6 6
제1항에 있어서, 상기 디커플링 커패시터가 PMOS 트랜지스터 구조물을 이용하는 경우, 상기 제1 금속층은 VDD 전원선으로 이용되며, 상기 제2 금속층은 GND 전원선으로 이용되는 반도체 집적 회로의 전원선 레이아웃 방법
7 7
제1항에 있어서,상기 디커플링 커패시터가 NMOS 트랜지스터 구조물을 이용하는 경우, 상기 제1 금속층은 GND 전원선으로 이용되며, 상기 제2 금속층은 VDD 전원선으로 이용되는 반도체 집적 회로의 전원선 레이아웃 방법
8 8
상기 제1항 내지 제4항 및 제6항 내지 제8항 중 어느 한 항에 따른 전원선 레이아웃 방법을 이용하여 제작된 반도체 집적 회로
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US07456063 US 미국 FAMILY
2 US20070134852 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2007134852 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US7456063 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.