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이종접합 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015082565
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 이종접합 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 본 발명에 의한 이종접합 바이폴라 트랜지스터 제조방법은 (a) 기판 상에 서브 컬렉터층, 컬렉터층, 베이스층, 에미터층 및 에미터캡층을 순차적으로 적층하는 단계; (b) 상기 에미터캡층 상부에 형상반전 리소그라피 방법을 이용하여 역경사를 갖는 감광막을 형성한 후 금속 증착 및 리프트 오프 공정에 의해 에미터 전극을 형성하는 단계; (c) 상기 에미터 전극의 양 측면에 제 1 유전체층을 형성하는 단계; (d) 상기 에미터 전극을 마스크로 하여 상기 에미터캡층 및 상기 에미터층 식각하여 상기 베이스층을 노출시키고 메사형태의 에미터를 형성하는 단계; (e) 상기 제 1 유전체층 및 상기 메사형태의 에미터의 측면에 제 2 유전체층을 형성하는 단계; (f) 상기 에미터 전극을 마스크로 하여 노출된 상기 베이스층의 상부에 상기 에미터 전극과 자기정렬되는 베이스전극을 형성하는 단계를 포함한다.본 발명에 따르면, 에미터의 옆면에 추가적인 유전체를 사용하여 측벽을 형성함으로써 에미터와 베이스를 분리시키고, 종래의 기술에서 메사형태의 에미터 식각시 불가분하게 발생하는 과도한 하부 식각을 방지할 수 있을 뿐만 아니라 최소의 메사형태의 에미터와 베이스 전극의 간격을 정밀하게 제어할 수 있는 이점이 있다.이종접합 바이폴라 트랜지스터, 자기정렬, 결정이방성, 메사식각, 에미터전극, 베이스전극, 이방성식각, 측벽
Int. CL H01L 29/737 (2006.01)
CPC H01L 29/66318(2013.01) H01L 29/66318(2013.01)
출원번호/일자 1020070043334 (2007.05.04)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0860068-0000 (2008.09.18)
공개번호/일자 10-2008-0052177 (2008.06.11) 문서열기
공고번호/일자 (20080924) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020060122351   |   2006.12.05
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.05.04)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김성일 대한민국 대전 서구
2 민병규 대한민국 대전 유성구
3 이종민 대한민국 대전 서구
4 주철원 대한민국 대전 유성구
5 이경호 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.05.04 수리 (Accepted) 1-1-2007-0333873-97
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.02.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.03.13 수리 (Accepted) 9-1-2008-0014446-54
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.03.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0161811-13
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.05.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0366907-58
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.05.23 수리 (Accepted) 1-1-2008-0366890-60
7 등록결정서
Decision to grant
2008.09.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0478631-47
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
(a) 기판 상에 서브 컬렉터층, 컬렉터층, 베이스층, 에미터층 및 에미터캡층을 순차적으로 적층하는 단계;(b) 상기 에미터캡층 상부에 형상반전 리소그라피 방법을 이용하여 역경사를 갖는 감광막을 형성한 후 금속 증착 및 리프트 오프 공정에 의해 에미터 전극을 형성하는 단계;(c) 상기 에미터 전극의 양 측면에 제 1 유전체층을 형성하는 단계;(d) 상기 에미터 전극을 마스크로 하여 상기 에미터캡층 및 상기 에미터층 식각하여 상기 베이스층을 노출시키고 메사형태의 에미터를 형성하는 단계; (e) 상기 제 1 유전체층 및 상기 메사형태의 에미터의 측면에 제 2 유전체층을 형성하는 단계; 및(f) 상기 에미터 전극을 마스크로 하여 노출된 상기 베이스층의 상부에 상기 에미터 전극과 자기정렬되는 베이스전극을 형성하는 단계를 포함하는 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
2 2
제 1항에 있어서,상기 베이스층 및 상기 컬렉터 층을 식각하여 상기 서브 컬렉터층을 노출시키고 상기 서브 컬렉터층 상에 컬렉터전극을 형성하는 단계를 더 포함하는 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
3 3
삭제
4 4
제 1항에 있어서, 상기 (c)단계는상기 에미터 전극과 상기 에미터캡층 상에 상기 제 1 유전체층을 증착하는 단계; 리소그라피 방법을 이용하여 상기 에미터캡층과 상기 에미터 전극 상부에 형성된 상기 제 1 유전체층을 제거하는 단계; 및상기 에미터 전극의 양 측면에 상기 제 1 유전체층을 남기기 위해 이방성 식각을 수행하는 단계를 포함하는 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 (d)단계에서, 상기 메사 형태의 에미터는 상기 베이스 전극과 일정한 간격으로 이격되도록 이방성 식각하여 형성하는 것을 특징으로 하는 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 (d)단계에서, 상기 에미터캡층은 “인산:과산화수소:물”로 이루어진 식각용액으로 습식식각하고, 상기 에미터층은 “염산:인산”으로 이루어진 식각용액으로 습식식각하는 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 (e)단계는,상기 에미터 전극, 상기 베이스층 및 상기 메사형태의 에미터 전면에 상기 제 2 유전체층을 증착하는 단계; 상기 에미터 전극 상부 및 상기 베이스층 상면에 형성된 제 2 유전체층을 제거하는 단계; 및상기 제 1 유전체층 및 상기 메사형태의 에미터 측면에 제 2 유전체층을 남기기 위해 이방성 식각을 수행하는 단계 를 포함하는 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
8 8
제 1항에 있어서, 상기 (f)단계는, (f1) 상기 베이스층 상에 형상반전 리소그라피 방법을 이용하여 상기 베이스 전극에 역경사를 갖는 감광막 패턴을 형성하는 단계; (f2) 상기 감광막 패턴 상에 베이스 메탈층을 형성하는 단계;(f3) 리프트 오프 공정을 이용하여 상기 감광막 패턴을 제거하는 단계를 포함하는 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
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제 1항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 유전체층은 SiNx를 이용하는 것을 특징으로 하는 이종접합 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
10 10
기판 상에 형성된 서브 컬렉터층, 컬렉터층, 베이스층, 에미터층 및 에미터캡층; 상기 에미터 캡층 상에 형성된 에미터 전극; 상기 에미터 전극의 양측면에 형성된 제 1 유전체층; 상기 에미터캡층 및 상기 에미터층 식각하여 형성된 메사형태의 에미터; 상기 제 1 유전체층 및 상기 메사형태의 에미터의 측면에 형성된 제 2 유전체층; 상기 베이스층 상에 상기 에미터 전극과 자기정렬되도록 형성된 베이스 전극; 상기 서브 컬렉터층 상에 형성된 컬렉터 전극 을 포함하는 이종접합 바이폴라 트랜지스터
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.