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유한 거리간 안테나 방사 패턴 측정 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015083224
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 기준 안테나를 이용하여 피측정 안테나의 방사 패턴을 측정하는 장치는 제어부, 분석부 및 측정부를 포함한다. 제어부는 기준 안테나 및 피측정 안테나의 구동을 제어한다. 분석부는 기준 안테나 및 피측정 안테나 중 어느 하나의 안테나에서 송신되어 다른 안테나로 수신되는 무선 주파수 신호로부터 전계값을 측정한다. 그리고, 측정부는 제어부와 분석부를 제어하며, 전계값을 이용하여 피측정 안테나의 특정 거리의 방사 패턴을 측정한다.
Int. CL G01R 29/08 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020070095206 (2007.09.19)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0926561-0000 (2009.11.05)
공개번호/일자 10-2009-0029978 (2009.03.24) 문서열기
공고번호/일자 (20091112) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.09.19)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 오순수 대한민국 대전 서구
2 조용희 대한민국 대전 서구
3 조인귀 대한민국 대전 유성구
4 윤재훈 대한민국 대전광역시 중구
5 전순익 대한민국 대전 유성구
6 김창주 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.09.19 수리 (Accepted) 1-1-2007-0678176-28
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.10.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.11.11 수리 (Accepted) 9-1-2008-0072987-81
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.02.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0057487-95
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.04.06 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0206951-84
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.04.06 수리 (Accepted) 1-1-2009-0206950-38
7 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2009.06.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0259059-49
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.08.19 수리 (Accepted) 1-1-2009-0507836-68
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.08.19 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2009-0507837-14
11 등록결정서
Decision to grant
2009.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0448805-82
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1
기준 안테나를 이용하여 피측정 안테나의 방사 패턴을 측정하는 장치에 있어서, 상기 기준 안테나 및 상기 피측정 안테나의 구동을 제어하는 제어부, 상기 기준 안테나와 상기 피측정 안테나 사이의 거리를 제1 길이로 유지하면서 복수의 지점에서의 전계값을 측정하는 분석부, 및 상기 제어부와 상기 분석부를 제어하며, 상기 복수의 지점에서의 상기 전계값을 이용하여 상기 피측정 안테나로부터 제2 길이만큼 떨어진 영역의 방사 패턴을 측정하는 측정부를 포함하며, 상기 측정부는, 상기 전계값에 상기 복수의 각 지점에서 결정되는 푸리에 계수를 곱한 값을 상기 복수의 지점에 대하여 합산하여 상기 방사 패턴을 측정하며, 상기 푸리에 계수는 상기 피측정 안테나의 개구면을 포함하는 단면의 x축 방향의 상기 제1 길이, 상기 피측정 안테나의 개구면을 포함하는 단면의 y축 방향의 상기 제2 길이 및 상기 복수의 각 지점의 위치에 의해 결정되는 안테나 방사 패턴 측정 장치
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서, 상기 복수의 지점은 상기 제1 길이를 반지름으로 가지는 원구 상에 위치하는 안테나 방사 패턴 측정 장치
4 4
삭제
5 5
제1항에 있어서, 상기 기준 안테나 및 상기 피측정 안테나는 무반사실에 형성되어 있으며, 상기 무반사실은, 상기 기준 안테나에 연결되어 상기 기준 안테나를 구동하는 제1 구동 장치, 상기 피측정 안테나에 연결되어 상기 피측정 안테나를 구동하는 제2 구동 장치, 및 상기 기준 안테나 및 상기 피측정 안테나 중 적어도 어느 하나를 수평회전 시키는 수평 회전 장치를 포함하는 안테나 방사 패턴 측정 장치
6 6
제1항에 있어서, 상기 제1 길이에서의 전계는 프레넬 영역의 전계이며, 상기 제2 길이에서의 전계는 상기 프레넬 영역 또는 원역장 영역 중 어느 하나의 전계인 안테나 방사 패턴 측정 장치
7 7
안테나 방사 패턴 측정 장치에서 기준 안테나를 이용하여 피측정 안테나의 방사 패턴을 측정하는 방법에 있어서, 상기 기준 안테나와 상기 피측정 안테나 사이의 길이를 제1 길이로 유지하면서 상기 제1 길이를 반지름으로 가지는 원구 상의 복수의 지점에서의 전계값을 측정하는 단계, 및 상기 전계값에 상기 복수의 각 지점에서 결정되는 푸리에 계수를 곱한 값을 상기 복수의 지점에 대하여 합산하여 상기 피측정 안테나로부터 제2 길이만큼 떨어진 영역의 방사 패턴을 측정하는 단계를 포함하며, 상기 푸리에 계수는 상기 피측정 안테나의 개구면을 포함하는 단면의 x축 방향의 상기 제1 길이, 상기 피측정 안테나의 개구면을 포함하는 단면의 y축 방향의 상기 제2 길이 및 상기 복수의 각 지점의 위치에 의해 결정되는 안테나의 방사 패턴 측정 방법
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제7항에 있어서, 상기 전계값을 측정하는 단계는, 상기 기준 안테나 및 상기 피측정 안테나 중 어느 하나의 안테나에서 송신되어 다른 안테나로 수신되는 무선 주파수 신호로부터 상기 복수의 지점에서의 전계값을 측정하는 단계를 더 포함하는 안테나의 방사 패턴 측정 방법
9 9
삭제
10 10
삭제
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안테나 방사 패턴 측정 장치에서 제1 안테나를 이용하여 제2 안테나의 방사 패턴을 측정하는 방법에 있어서, 상기 제1 안테나와 상기 제2 안테나 사이의 거리를 제1 길이로 유지하면서 상기 제1 안테나와 상기 제2 안테나 중 적어도 어느 하나를 움직여, 상기 제1 안테나와 상기 제2 안테나 중 어느 하나의 안테나에서 다른 안테나로 신호를 송신하는 단계, 상기 신호를 수신하여 상기 제1 길이를 반지름으로 가지는 원구 상의 복수의 지점에서의 전계값을 측정하는 단계, 및 상기 복수의 지점에서의 상기 전계값에 상기 제1 길이, 제2 길이 및 상기 원구 상의 복수의 각 지점의 위치에 의해 결정되는 푸리에 계수를 곱한 값을 상기 복수의 지점에 대하여 합산하여 상기 제2 안테나로부터 상기 제2 길이만큼 떨어진 영역의 방사 패턴을 측정하는 단계를 포함하며, 상기 푸리에 계수는 상기 제2 안테나의 개구면을 포함하는 단면의 x축 방향의 상기 제1 길이, 상기 제2 안테나의 개구면을 포함하는 단면의 y축 방향의 상기 제2 길이 및 상기 복수의 각 지점의 위치에 의해 결정되는 안테나 방사 패턴 측정 방법
12 12
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN101855560 CN 중국 FAMILY
2 US08471774 US 미국 FAMILY
3 US20100207827 US 미국 FAMILY
4 WO2009038388 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN101855560 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 CN101855560 CN 중국 DOCDBFAMILY
3 US2010207827 US 미국 DOCDBFAMILY
4 US8471774 US 미국 DOCDBFAMILY
5 WO2009038388 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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