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부채널 분석을 위한 노이즈 모델을 이용한 파형 노이즈 제거 방법 및 이를 이용한 부채널 분석 장치

  • 기술번호 : KST2015086326
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 부채널 분석을 위한 노이즈 모델을 이용한 파형 노이즈 제거 방법 및 이를 이용한 부채널 분석 장치가 개시된다. 부채널 분석을 위한 파형 데이터의 노이즈 제거 방법은 파형 데이터에 발생될 수 있는 노이즈들의 노이즈 패턴(noise pattern)에 대한 데이터베이스(database)를 구축하는 노이즈 모델 구축 단계, 외부의 파형 수집 장치로부터 수집된 파형 데이터에 대해서 적용될 노이즈 모델을 노이즈 패턴에 대한 데이터베이스에서 선택하는 노이즈 매칭 단계 및 노이즈 매칭 단계에서 선택된 노이즈 모델을 외부의 파형 수집 장치로부터 수집된 파형 데이터에 대하여 적용하여 노이즈를 제거하는 노이즈 제거 단계를 포함하여 구성된다. 따라서, 본 발명의 구성을 따르면 부채널 분석을 위해 수집된 파형 데이터에 대한 노이즈 제거 작업을 숙련된 사용자의 경험이나 능력에 의존하지 않고, 노이즈 모델을 이용하여 수행함으로써 부채널 분석 결과의 객관성을 담보할 수 있고, 자동화된 부채널 분석을 구현하는 효과를 가져올 수 있다.
Int. CL H04L 12/22 (2006.01)
CPC G06F 21/55(2013.01) G06F 21/55(2013.01)
출원번호/일자 1020100096568 (2010.10.04)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0035074 (2012.04.13) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김주한 대한민국 대전광역시 유성구
2 강유성 대한민국 대전광역시 유성구
3 오경희 대한민국 대전광역시 유성구
4 김태성 대한민국 대전광역시 유성구
5 강준기 대한민국 대전광역시 서구
6 최두호 대한민국 충청남도 천안시 동남구
7 최용제 대한민국 대전광역시 유성구
8 조현숙 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이상 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.10.04 수리 (Accepted) 1-1-2010-0640853-90
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1
파형 데이터에 발생될 수 있는 노이즈들의 노이즈 패턴(noise pattern)에 대한 데이터베이스(database)를 구축하는 노이즈 모델 구축 단계; 외부의 파형 수집 장치로부터 수집된 파형 데이터에 대해서 적용될 노이즈 모델을 상기 노이즈 패턴에 대한 데이터베이스에서 선택하는 노이즈 매칭 단계; 및상기 노이즈 매칭 단계에서 선택된 노이즈 모델을 외부의 파형 수집 장치로부터 수집된 파형 데이터에 대하여 적용하여 노이즈를 제거하는 노이즈 제거 단계를 포함한 부채널 분석을 위한 파형 데이터의 노이즈 제거 방법
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패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부/방송통신위원회 한국전자통신연구원 정보통신산업원천기술개발사업 부채널 공격 방지 원천 기술 및 안전성 검증 기술개발