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아발란치 포토 다이오드의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015088040
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 고속 광 통신에 적합한 아발란치 포토 다이오드의 제조 방법은 다음과 같다. 우선, 제1 도전형 기판의 전면(全面)에 차례로 제1 도전형 버퍼층, 광 흡수층, 그레이딩층, 제1 도전형 전기장 조절층 및 제1 도전형 증폭층을 형성한다. 다음, 제1 도전형 증폭층을 식각하여 제2 폭을 갖는 제2 리세스부와, 제2 리세스부로부터 연장되고 제2 폭보다 작은 제1 폭을 갖는 제1 리세스부를 포함하는 리세스 영역을 형성한다. 다음, 리세스 영역에 제2 도전형 확산 물질을 제공하고 제2 도전형 증폭층으로 확산시켜 제2 도전형 확산층을 형성한다. 다음, 제1 도전형 증폭층 상에 제2 도전형 확산층과 연결되는 제2 도전형 전극을 형성한 후, 제1 도전형 기판의 후면에 제1 도전형 전극을 형성하여 아발란치 포토 다이오드를 제조한다.
Int. CL H01L 31/107 (2006.01)
CPC H01L 31/107(2013.01) H01L 31/107(2013.01) H01L 31/107(2013.01) H01L 31/107(2013.01)
출원번호/일자 1020080130496 (2008.12.19)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-1066604-0000 (2011.09.15)
공개번호/일자 10-2010-0071693 (2010.06.29) 문서열기
공고번호/일자 (20110922) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.12.19)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 심재식 대한민국 대전광역시 유성구
2 권용환 대한민국 대전광역시 유성구
3 박미란 대한민국 대전 유성구
4 민봉기 대한민국 대전광역시 유성구
5 오대곤 대한민국 대전광역시 유성구
6 남은수 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 오세준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)(특허법인 고려)
2 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
3 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.12.19 수리 (Accepted) 1-1-2008-0875537-63
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.01.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0015127-59
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.03.09 수리 (Accepted) 1-1-2011-0171411-90
5 등록결정서
Decision to grant
2011.09.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0503783-48
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 도전형 기판의 전면(全面)에 차례로 제1 도전형 버퍼층, 광 흡수층, 그레이딩층, 제1 도전형 전기장 조절층 및 제1 도전형 증폭층을 형성하는 단계; 상기 제1 도전형 증폭층을 식각하여 제2 폭을 갖는 제2 리세스부와, 상기 제2 리세스부로부터 연장되고 상기 제2 폭보다 작은 제1 폭을 갖는 제1 리세스부를 포함하는 리세스 영역을 형성하는 단계; 상기 리세스 영역에 제2 도전형 확산 물질을 제공하고 상기 제2 도전형 증폭층으로 확산시켜 제2 도전형 확산층을 형성하는 단계; 상기 제1 도전형 증폭층 상에 상기 제2 도전형 확산층과 연결되는 제2 도전형 전극을 형성하는 단계; 및 상기 제1 도전형 기판의 후면에 제1 도전형 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아발란치 포토 다이오드의 제조 방법
2 2
제1 항에 있어서, 상기 리세스 영역을 형성하는 단계는, 상기 제1 도전형 증폭층 상에 제1 폭을 갖는 제1 마스크 패턴을 형성하는 단계; 상기 제1 마스크 패턴을 마스크로 상기 제1 도전형 증폭층을 식각하여 예비 리세스부를 형성하는 단계; 상기 제1 마스크 패턴을 식각하여 상기 제1 폭보다 넓은 상기 제2 폭을 갖는 제2 마스크 패턴을 형성하여 상기 제1 도전형 증폭층의 상부면을 노출하는 단계; 및 상기 제2 마스크 패턴을 마스크로 상기 예비 리세스부의 상기 제1 도전형 증폭층을 식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아발란치 포토 다이오드의 제조 방법
3 3
제2 항에 있어서, 상기 제2 도전형 확산층을 형성하는 단계는, 상기 제1 리세스부, 상기 제2 리세스부 및 상기 제2 마스크 패턴 상에 ZnP를 증착하는 단계; 및 상기 ZnP에 열처리를 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아발란치 포토 다이오드의 제조 방법
4 4
제1 항에 있어서, 상기 제2 도전형 확산층은 상기 제1 리세스부와 상기 제2 리세스부에 의해 상기 제1 도전형 증폭층과의 접합 계면이 복수의 곡률을 이루도록 형성되는 것을 특징으로 하는 아발란치 포토 다이오드의 제조 방법
5 5
제1 도전형 기판의 전면(全面)에 차례로 제1 도전형 버퍼층, 광 흡수층, 그레이딩층, 제1 도전형 전기장 조절층 및 제1 도전형 증폭층을 형성하는 단계; 상기 제1 도전형 증폭층을 식각하여 제2 폭을 갖는 제2 리세스부 보다 작은 제1 폭을 갖는 제1 리세스부를 포함하는 리세스 영역을 형성하는 단계; 상기 리세스 영역에 제2 도전형 확산 물질을 제공하고 상기 제1 도전형 증폭층으로 확산시켜 제2 도전형 확산층을 형성하는 단계; 상기 리세스 영역에 제2 도전형 전극을 형성하는 단계; 및 상기 제1 도전형 기판의 후면에 입광부와 제1 도전형 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아발란치 포토 다이오드의 제조 방법
6 6
제5 항에 있어서, 상기 리세스 영역을 형성하는 단계는, 상기 제1 도전형 증폭층 상에 제1 폭을 갖는 제1 마스크 패턴을 형성하는 단계; 상기 제1 마스크 패턴을 마스크로 상기 제1 도전형 증폭층을 식각하여 예비 리세스부를 형성하는 단계; 상기 제1 마스크 패턴을 식각하여 상기 제1 폭보다 넓은 상기 제2 폭을 갖는 제2 마스크 패턴을 형성하여 상기 제1 도전형 증폭층의 상부면을 노출하는 단계; 및 상기 제2 마스크 패턴을 마스크로 상기 예비 리세스부의 상기 제1 도전형 증폭층을 식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아발란치 포토 다이오드의 제조 방법
7 7
제6 항에 있어서, 상기 제2 도전형 확산층을 형성하는 단계는, 상기 제1 리세스부, 상기 제2 리세스부 및 상기 제2 마스크 패턴 상에 ZnP를 증착하는 단계; 및 상기 ZnP에 열처리를 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 아발란치 포토 다이오드의 제조 방법
8 8
제5 항에 있어서, 상기 제1 도전형 전극을 형성하는 단계는, 상기 제1 도전형 기판의 후면에 절연층을 형성하고 상기 절연층을 식각하여 입광부를 형성하는 단계; 및 상기 제1 도전형 기판과 상기 입광부 상에 제1 도전형 전극을 형성하는 단계를 포함하며, 상기 입광부는 상기 제2 도전형 전극의 수직으로 아래에 형성되는 것을 특징으로 하는 아발란치 포토 다이오드의 제조 방법
9 9
제5 항에 있어서, 상기 제2 도전형 확산층은 상기 제1 리세스부와 상기 제2 리세스부에 의해 상기 제1 도전형 증폭층과의 접합 계면이 복수의 곡률을 이루도록 형성되는 것을 특징으로 하는 아발란치 포토 다이오드의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한국전자통신연구원 IT성장동력기술개발 FTTH 고도화 광부품 기술개발