구조물의 변형량에 비례하는 개수의 정현파를 갖는 광신호를 출력하는 간섭식 광섬유센서(41)를 이용하여 구조물의 변형량을 측정하는 시스템에 있어서, 상기 간섭식 광섬유센서(41)의 출력신호에서 불가피하게 혼입된 환경감응적 불순인자를 제거하기 위한 여과수단(42)과, 상기 여과수단(42)에 의해 여과된 출력신호의 정상점 또는 계곡점을 검출함으로써 정현파의 개수를 계수(counting) 하기 위하여 상기 간섭식 광섬유센서(41)로부터의 출력신호를 여과하고 정현파의 개수를 계수하기 위한 정현파계수수단(43)을 포함하는 것을 특징으로 하는 변형량측정시스템

제1항에 있어서, 상기 여과수단(43)이 저주파여과기인 것을 특징으로 하는 변형량측정시스템

구조물의 변형량에 비례하는 개수의 정현파를 갖는 광신호를 출력하는 간섭식 광섬유센서(51)를 이용하여 구조물의 변형량을 측정하는 시스템에 있어서, 상기 간섭식 광섬유센서(51)의 출력신호에 불가피하게 혼입된 환경감응적 불순인자로 인한 출력신호의 맥동 및 표류의 정도를 감안하여 적정한 파고상에 기준선을 설정하는 기준파고설정수단(52)과, 상기 간섭식 광섬유센서(51)로부터의 출력신호가 상기 기준파고상의 기준선과 교차하는지의 여부를 판별하는 교차판별수단(53)을 포함하는 것을 특징으로 하는 변형량측정시스템

제3항에 있어서, 상기 간섭식 광섬유센서(51)에서 출력된 출력신호가 상기 기준선과 교차할 때에 그 바로 전의 정현파의 반주기의 최대값 또는 최소값을 기준으로 기준선의 파고를 재설정하는 기준파고재설정수단(54)을 부가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 변형량측정시스템

구조물의 변형량에 비례하는 개수의 정현파를 갖는 광신호를 출력하는 간섭식 광섬유센서(41)를 이용하여 구조물의 변형량을 측정하는 방법에 있어서, 상기 간섭식 광섬유센서(41)를 변형량을 측정해야 할 구조물의 내부에 삽입해두거나 표면에 단단히 부착하는 센서부착단계와, 상기 간섭식 광섬유센서(41)의 입력단자에 헬륨-네온광원으로부터의 광빔을 입사시키면서 출력신호를 취득하는 신호취득단계와, 취득된 출력신호를 상기 저주파여과기(42)를 통과시킴으로써 그러한 취득신호속에 혼입된 환경감응적 불순인자들을 제거하는 신호여과단계와, 여과된 출력신호의 파형의 최대값이나 최소값을 판별하여 정상점 또는 계곡점을 검출함으로써 출력신호의 정현파의 개수를 계수하는 정현파계수단계 및, 계수된 정현파의 개수 m을 이용하여 아래의 수학식 1에 의해 변형량을 계산하는 변형량계산단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 변형량측정방법

구조물의 변형량에 비례하는 개수의 정현파를 갖는 광신호를 출력하는 간섭식 광섬유센서(51)를 이용하여 구조물의 변형량을 측정하는 방법에 있어서, 상기 간섭식 광섬유센서(51)를 변형량을 측정해야 할 구조물의 내부에 삽입해두거나 표면에 단단히 부착하는 센서부착단계와, 상기 간섭식 광섬유센서(51)의 입력단자에 헬륨-네온광원으로부터의 광빔을 입사시키면서 출력신호를 취득하는 신호취득단계와, 취득된 출력신호를 일정시간 동안 검색하여 혼입된 환경감응적 불순인자로 인해 상기 간섭식 광섬유센서(51)로부터의 출력신호가 맥동하거나 표류하는 정도를 파악한 후에 그러한 정도에 따라 적절한 파고상에 기준선을 설정하는 기준파고설정단계와, 상기 간섭식 광섬유센서(51)로부터의 출력신호가 상기 기준파고상의 기준선과 교차하는지의 여부를 판별하고, 그러한 교차횟수를 계수하여 정현파의 개수를 계수하는 정현파계수단계 및, 계수된 정현파의 개수 m을 이용하여 아래의 수학식 1에 의해 변형량을 계산하는 변형량계산단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 변형량측정방법

제6항에 있어서, 상기 간섭식 광섬유센서(51)에서 출력된 출력신호가 기준선과 교차할 때에 그 바로 전의 정현파의 반주기의 최대값 또는 최소값을 기준으로 기준선의 파고를 재설정하는 기준파고재설정단계를 부가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 변형량측정방법

제6항 또는 제7항에 있어서 상기 간섭식 광섬유센서(51)로부터 출력되는 출력신호의 데이터가 계속 이어지면, 위의 과정을 반복하여 변형량의 계산을 계속하는 것을 특징으로 하는 변형량측정방법