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모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치

  • 기술번호 : KST2015111648
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 자동출력조절회로와 결합하여 표면광 레이저의 출력을 보다 정밀하게 제어할 수 있는 모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치 및 그 제조방법에 관하여 개시한다. 본 발명은 표면광 레이저부에서 출사되는 광의 일부를 흡수하여 그 검출신호를 출력하는 모니터용 광검출기에, 표면광 레이저부에서 출사되는 자발방출광에 의한 광전류가 제거되도록 진성반도체층과 불순물 반도체층 사이에 절연층을 더 구비한다. 본 발명에 의하면, 레이저 윈도우를 통해 출사되는 표면광 레이저의 광량을 정밀하게 제어할 수 있다. 표면광 레이저, 모니터용 검출기, 반사경, 자발방출, 유도방출
Int. CL H01S 5/30 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1019990049161 (1999.11.08)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-0317576-0000 (2001.12.03)
공개번호/일자 10-2001-0045739 (2001.06.05) 문서열기
공고번호/일자 (20011224) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1999.11.08)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이용희 대한민국 대전광역시서구
2 한일영 대한민국 서울특별시도봉구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 허진석 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로***, **,**층(역삼동, 동희빌딩)(특허법인아주김장리)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1999.11.08 수리 (Accepted) 1-1-1999-0144602-63
2 신규성(출원시의특례)증명서류제출서
Submission of Certificate of Novelty(Special Provisions for Application)
1999.11.09 수리 (Accepted) 1-1-1999-5385554-38
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2001.10.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2001.11.14 수리 (Accepted) 9-1-2001-0022164-64
5 등록결정서
Decision to grant
2001.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2001-0328270-87
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2004.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2004-0001933-29
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2004.03.19 수리 (Accepted) 4-1-2004-0012166-74
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

기판과, 상기 기판 상에 순차적으로 적층된 하부반사경층, 이득매질층, 및 상부반사경층과, 상기 기판의 뒷면에 형성된 제1 전극과, 상기 상부반사경 상에 형성되되 그 중앙부를 노출시키는 개구부를 가지는 제2 전극을 포함하여, 상기 제1 전극 및 제2 전극에 인가되는 구동전류에 의해 그 적층방향으로 광을 출사하는 표면광 레이저부와;

상기 제2 전극의 개구부에 의해 노출되는 상기 상부반사경층 상에 형성되어 출사되는 상기 광의 일부를 흡수하여 그 검출신호를 출력하는 모니터용 광검출기를 구비하는 것을 특징으로 하는 모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치에 있어서,

상기 모니터용 광검출기는, 상기 제2 전극의 개구부에 의해 노출되는 상기 상부반사경층 상에 순차적으로 적층된 제1 불순물 반도체층, 진성반도체층, 및 제2 불순물 반도체층과;

상기 제2 불순물 반도체층 상에 형성되되 상기 제2 불순물 반도체층의 중앙부를 노출시키는 개구부를 가지는 제3 전극과;

상기 표면광 레이저부에서 출사되는 자발방출광에 의한 광전류가 제거되도록 상기 진성반도체층과 상기 제1 및 제2 불순물 반도체층 사이에 각각 개재되고, 그 각각의 중앙부에 개구부를 가지는 상부 및 하부절연층을 구비하는 것을 특징으로 하는 모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치

2 2

제1 항에 있어서, 상기 제1 및 제2 불순물 반도체층은 각각 복수개의 층이 적층되어 이루어지고, 상기 제1 불순물 반도체층의 최상층과 상기 제2 불순물 반도체층의 최하층은 각각 AlxGa1-xAs로 이루어지며, 상기 상부 및 하부 절연층은 상기 AlxGa1-xAs가 산화되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치, 단 0

3 3

제2 항에 있어서, 상기 제1 불순물 반도체층은 Zn이 도핑된 AlyGa1-yAs층과 Zn이 도핑된 AlxGa1-xA층이 순차적으로 적층되어 이루어지고, 상기 하부절연층은 상기 Zn이 도핑된 AlxGa1-xAs가 산화되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치, 단 0

4 4

제 2항에 있어서, 상기 제2 불순물 반도체층은 Si 이 도핑된 AlxGa1-xA층, Si이 도핑된 AlyGa1-yAs층, 및 Si이 도핑된 GaAs층이 순차적으로 적층되어 이루어지고, 상기 상부절연층은 상기 Si 이 도핑된 AlxGa1-xAs가 산화되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치, 단 0

5 5

제 1항에 있어서, 상기 진성반도체층이 상기 표면광 레이저의 내부 광세기가 최대되는 곳에 위치하는 것을 특징으로 하는 모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치

6 6

제 1항에 있어서, 상기 이득매질층과 상기 상부반사경층 사이에 개재되어 설치되되 그 중앙부에 개구부를 가지는 고저항층을 더 구비하여 그 개구부를 통해서만 정공이 흐르도록 가이드 하는 것을 특징으로 하는 모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치

7 7

제 6항에 있어서, 상기 고저항층은 상기 상부반사경층에 양성자가 주입되어 이루어지거나, AlxGa1-xAs의 산화물로 이루어지는 것을 특징으로 하는 모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치, 단 0

8 8

기판과, 상기 기판 상에 순차적으로 적층된 하부반사경층, 이득매질층, 및 상부반사경층과, 상기 기판의 뒷면에 형성된 제1 전극과, 상기 상부반사경 상에 형성되되 그 중앙부를 노출시키는 개구부를 가지는 제2 전극을 포함하여, 상기 제1 전극 및 제2 전극에 인가되는 구동전류에 의해 그 적층방향으로 광을 출사하는 표면광 레이저부와;

상기 제2 전극의 개구부에 의해 노출되는 상기 상부반사경층 상에 형성되어 출사되는 상기 광의 일부를 흡수하여 그 검출신호를 출력하는 모니터용 광검출기를 구비하는 것을 특징으로 하는 모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치의 제조방법에 있어서,

상기 모니터용 광검출기를 제조하는 단계는, 상기 상부반사경층 상에 Zn이 도핑된 AlyGa1-yAs층과, Zn이 도핑된 AlxGa1-xAs층이 순차적으로 적층되어 이루어진 제1 불순물 반도체층을 형성하는 단계;

상기 제1 불순물 반도체층상에 GaAs로 이루어진 진성반도체층을 형성하는 단계;

상기 진성반도체층상에 Si이 도핑된 AlxGa1-xAs층, Si이 도핑된 AlyGa1-yAs층, 및 Si이 도핑된 GaAs층이 순차적으로 적층되어 이루어지는 제2 불순물 반도체층을 형성하는 단계; 및

상기 Zn이 도핑된 AlxGa1-xAs층과 상기 Si이 도핑된 AlxGa1-xAs층이 측면으로부터 산화되도록 상기 결과물을 습식산화하되 그 각각의 중앙부는 산화되지 않도록 함으로써 AlxGa1-xAs의 산화물로 이루어지는 하부 및 상부절연층을 각각 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치 제조방법, 단, 0

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1 JP13177178 JP 일본 FAMILY
2 US06535538 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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1 DE10055884 DE 독일 DOCDBFAMILY
2 DE10055884 DE 독일 DOCDBFAMILY
3 JP2001177178 JP 일본 DOCDBFAMILY
4 US6535538 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.