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엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법

  • 기술번호 : KST2015114367
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법에 관한 것으로서, 기판상에 신틸레이터(scintillator)를 증착하는 단계와, 상기 신틸레이터 위에 보호막을 증착하는 단계와, 상기 보호막 위에 포토레지스트(photoresist)를 도포하는 단계와, 소정 패턴이 형성된 마스크를 이용하여 상기 포토레지스트를 노광하고 현상액을 통한 화학처리로 상기 포토레지스트에 패턴을 형성하는 단계와, 상기 패턴이 형성된 포토레지스트를 식각 마스크로 한 플라즈마 에칭(plasma etching)을 통해 상기 신틸레이터를 상기 보호막과 함께 식각하여 픽셀화시키는 단계, 및 상기 보호막 위에 남아있는 포토레지스트를 제거하는 단계를 포함하며, 신틸레이터의 형성소재로 사용되는 CsI의 리소그라피 공정에 있어서의 현상액에 대한 취약성의 문제를 해소하고, 플라즈마 에칭을 이용하여 요구되는 작은 크기 및 선명한 측벽을 갖는 픽셀화된 신틸레이터를 통해 높은 검출효율을 유지하면서 고해상도의 영상을 얻을 수 있도록 하는 엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법을 제공한다. 비파괴 검사, 인체영상획득, 엑스레이 디텍터, 신틸레이터
Int. CL H01L 27/14 (2006.01) G01T 1/20 (2006.01) H01L 21/027 (2006.01) G03F 7/20 (2006.01)
CPC G01T 1/2006(2013.01) G01T 1/2006(2013.01) G01T 1/2006(2013.01) G01T 1/2006(2013.01) G01T 1/2006(2013.01)
출원번호/일자 1020070113164 (2007.11.07)
출원인 엘지전자 주식회사, 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2009-0047141 (2009.05.12) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
2 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 염정열 대한민국 서울특별시 서초구
2 노영준 대한민국 서울특별시 서초구
3 정대화 대한민국 서울특별시 서초구
4 조규성 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
2 조현동 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 (도곡동, 덕영빌딩)(노벨국제특허법률사무소)
3 진천웅 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.11.07 수리 (Accepted) 1-1-2007-0799259-79
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2007.11.08 수리 (Accepted) 1-1-2007-0801375-61
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2008.01.04 수리 (Accepted) 1-1-2008-0005835-47
4 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2008.01.04 수리 (Accepted) 1-1-2008-0008420-28
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판상에 신틸레이터(scintillator)를 증착하는 단계; 상기 신틸레이터 위에 보호막을 증착하는 단계; 상기 보호막 위에 포토레지스트(photoresist)를 도포하는 단계; 소정 패턴이 형성된 마스크를 이용하여 상기 포토레지스트를 노광하고 현상액을 통한 화학처리로 상기 포토레지스트에 패턴을 형성하는 단계; 상기 패턴이 형성된 포토레지스트를 식각 마스크로 한 플라즈마 에칭(plasma etching)을 통해 상기 신틸레이터를 상기 보호막과 함께 식각하여 픽셀화시키는 단계; 및 상기 보호막 위에 남아있는 포토레지스트를 제거하는 단계를 포함하는 엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 신틸레이터는 그 형성소재가 CsI, CsI(Tl), CsI(Na) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 신틸레이터의 증착은 열기상증착(thermal vapor deposition)에 의해 수행되는 것을 특징으로 하는 엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 열기상증착은 기판을 회전시키면서 수행되는 것을 특징으로 하는 엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 보호막은 그 형성소재가 메탈(metal)인 것을 특징으로 하는 엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 보호막의 증착은 전자빔증착(electron beam evaporation), 스퍼터링(sputtering), 열증착(thermal evaporation) 중 어느 하나를 이용하는 물리적 기상증착(PVD: physcial vapor deposition)에 의해 수행되는 것을 특징으로 하는 엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 포토레지스트의 제거는 산소 플라즈마 에칭(oxygen plasma etching)을 통해 이루어지는 것을 특징으로 하는 엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 보호막 위에 남아있는 포토레지스트를 제거한 후, 상기 신틸레이터의 상부 및 노출된 측면을 커버하는 반사막을 증착하는 단계가 더 포함되는 것을 특징으로 하는 엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 반사막은 그 형성소재가 메탈인 것을 특징으로 하는 엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법
10 10
제 8 항에 있어서, 상기 반사막과 상기 보호막의 형성소재가 이종인 경우, 상기 반사막을 증착하기에 앞서 상기 보호막을 제거하는 단계가 더 포함되는 것을 특징으로 하는 엑스레이 디텍터의 신틸레이터 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.