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알루미나 완충층을 포함하는 고밀도의 압전 후막 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015122040
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 고밀도의 압전 후막 및 그 제조방법에 관한 것이다. 본 발명은 실리콘 기판; 상기 실리콘 기판 상에 형성된 알루미나 완충층; 및 상기 알루미나 완충층 상에 형성된 압전 후막층을 포함하는 압전 후막을 제공한다. 또한, 본 발명은 실리콘 기판 상에 알루미나 완충층을 형성하는 제1단계; 및 상기 알루미나 완충층 상에 압전 페이스트를 스크린 프린팅한 후, 소결하여 압전 후막층을 형성하는 제2단계를 포함하는 압전 후막의 제조방법을 제공한다. 본 발명에 따르면, 실리콘 기판과 압전 후막층의 사이에 형성된 알루미나 완충층에 의해, 실리콘 기판의 Si가 압전 후막층으로 확산되는 것이 차단된다. 또한, 상기 완충층은 압전 후막층과 비슷한 열팽창계수를 가지는 알루미나로 형성되어, 소결 시 결정성 저하가 방지되면서 기계적 특성 및 전기적 특성이 개선된다. 이에 따라, 고밀도의 치밀한 미세 구조로 인하여 우수한 압전 특성을 갖는다.
Int. CL H01L 41/187 (2006.01) C04B 35/491 (2006.01) H01L 41/22 (2006.01) H01L 41/16 (2006.01)
CPC H01L 41/319(2013.01) H01L 41/319(2013.01) H01L 41/319(2013.01) H01L 41/319(2013.01)
출원번호/일자 1020110125270 (2011.11.28)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-1303924-0000 (2013.08.29)
공개번호/일자 10-2013-0059125 (2013.06.05) 문서열기
공고번호/일자 (20130905) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.11.28)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤석진 대한민국 서울특별시 도봉구
2 최지원 대한민국 서울특별시 강남구
3 송현철 대한민국 서울특별시 성북구
4 신태희 대한민국 경기도 성남시 중원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 서울특별시 성북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.11.28 수리 (Accepted) 1-1-2011-0943254-69
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.12.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.04.03 수리 (Accepted) 9-1-2013-0022169-17
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.04.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0252070-62
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.05.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0420598-51
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.05.13 수리 (Accepted) 1-1-2013-0420597-16
7 등록결정서
Decision to grant
2013.08.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0579645-39
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
실리콘 기판; 상기 실리콘 기판 상에 형성된 알루미나 완충층; 및상기 알루미나 완충층 상에 형성된 압전 후막층을 포함하되,상기 알루미나 완충층은 상기 실리콘 기판 상에 증착된 후, 열처리된 것을 특징으로 하는 압전 후막
2 2
제1항에 있어서, 상기 열처리는 800℃ ~ 1000℃의 온도에서 3분 내지 1시간 동안 수행되는 것을특징으로 하는 압전 후막
3 3
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 알루미나 완충층은 0
4 4
실리콘 기판 상에 알루미나 완충층을 형성하는 제1단계; 및상기 알루미나 완충층 상에 압전 페이스트를 스크린 프린팅한 후, 소결하여 압전 후막층을 형성하는 제2단계를 포함하되,상기 제1단계는, 상기 실리콘 기판 상에 알루미나 완충층을 증착하는 증착 공정; 및상기 증착된 알루미나 완충층을 열처리하는 열처리 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 압전 후막의 제조방법
5 5
삭제
6 6
제4항에 있어서, 상기 알루미나 완충층과 압전 후막층의 사이에 Ag, Pt, Au, Al, Cu 및 RuO으로부터 선택된 하나 이상을 포함하는 하부 전극을 형성하는 단계; 및 상기 압전 후막층의 상부에 Ag, Pt, Au, Al, Cu, 및 RuO으로부터 선택된 하나 이상을 포함하는 상부 전극을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 압전 후막의 제조 방법
7 7
제4항에 있어서, 상기 열처리 공정은 800℃ ~ 1000℃의 온도에서 열처리하는 것을 특징으로 하는 압전 후막의 제조방법
8 8
제4항에 있어서, 상기 소결은 800℃ ~ 1200℃의 온도에서 실시하는 것을 특징으로 하는 압전 후막의 제조방법
9 9
제7항에 있어서,상기 열처리 공정은 800℃ ~ 1000℃의 온도에서 3분 내지 1시간 동안 열처리하는 것을 특징으로 하는 압전 후막의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.