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양자점 구조 반도체 소자의 제조 방법 및 이에 의해 제조된 반도체 소자

  • 기술번호 : KST2015122765
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 자발 형성 양자점(quantum dots)이 가지는 위치의 불규칙성을 극복할 수 있도록 양자점의 위치를 제어하여 1차원 혹은 2차원적으로 배열할 수 있는 양자점 구조 반도체 소자의 제조 방법 및 이에 의해 제조된 반도체 소자에 관한 것이다.본 발명에 따르면, 격자 상수가 다른 두 반도체 물질을 교번하여 적층시킴으로써 내부 변형력 분포를 조절할 수 있는 초격자층을 제조한 후, 초격자층 위에 자발 형성 양자점을 성장시키는 기술이 개시된다. 이로써, 초격자층에 의한 변형력이 양자점 성장에 영향을 미치게 되어, 양자점이 규칙적으로 배열될 수 있다. 양자점, 격자 불일치(lattice mismatch), 초격자(superlattice), 자발 형성, 변형(strain)층
Int. CL H01L 21/20 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020000053649 (2000.09.09)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-0377498-0000 (2003.03.12)
공개번호/일자 10-2002-0020474 (2002.03.15) 문서열기
공고번호/일자 (20030326) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2000.09.09)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박용주 대한민국 서울특별시성북구
2 김은규 대한민국 서울특별시도봉구
3 김광무 대한민국 서울특별시서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 주성민 대한민국 서울특별시 종로구 사직로*길 **, 세양빌딩 (내자동) *층(김.장법률사무소)
2 장수길 대한민국 서울특별시 종로구 사직로*길 **, 세양빌딩 (내자동) *층(김.장법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2000.09.09 수리 (Accepted) 1-1-2000-0191653-10
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.03.02 수리 (Accepted) 4-1-2002-0020822-81
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2002.05.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2002.06.11 수리 (Accepted) 9-1-2002-0006935-18
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2002.06.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0210863-08
6 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2002.08.16 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2002-0263289-84
7 의견서
Written Opinion
2002.08.16 수리 (Accepted) 1-1-2002-0263290-20
8 등록결정서
Decision to grant
2003.02.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2003-0063486-17
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2009-5247056-16
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
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번호 청구항
1 1

양자점 구조 반도체 소자의 제조 방법에 있어서,

기판을 준비하는 단계,

상기 기판 위에, 격자 상수가 서로 다른 적어도 두 종류의 반도체 물질을 소정 주기로 교번적으로 적층하여 초격자 변형층을 성장시키는 단계, 및

상기와 같이 성장시킴으로써, 상기 초격자 변형층 위에 상기 소정 주기로 교번적으로 적층하여 유도된 상기 초격자 변형층의 내부 변형에 의해 수평적으로 정렬되는 양자점들을 활성층으로 형성하는 단계

를 포함하되,

상기 소정 주기는 상기 내부 변형을 고려하여 설정되는 양자점 구조 반도체 소자의 제조 방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 적어도 두 종류의 반도체 물질은 In, Ga, Al 중의 적어도 어느 하나를 포함하는 화합물로부터 선택되는 양자점 구조 반도체 소자의 제조 방법

3 3

제2항에 있어서, 상기 적어도 두 종류의 반도체 물질의 조합은 InxGa1-xAs/GaAs계, InxGa1-xAs/AlyGa1-yAs계, InxGa1-xP/InP계 또는 AlyGa1-yP/InP계로부터 선택되며, 상기 x 및 y는 0 내지 1인 양자점 구조 반도체 소자의 제조 방법

4 4

제1항에 있어서, 상기 양자점 활성층은 InxGa1-xAs계로 이루어지며, 상기 x는 0 내지 1인 양자점 구조 반도체 소자의 제조 방법

5 5

제1항에 있어서, 상기 소정 주기는,

상기 내부 변형으로 인해, 상기 초격자 변형층의 두께가 상기 초격자 변형층의 격자 이완이 발생되는 임계 두께 이상이 되도록 설정되는 양자점 구조 반도체 소자의 제조 방법

6 6

제1항에 있어서, 상기 소정 주기는,

상기 내부 변형으로 인해, 상기 양자점 활성층에 분포되는 양자점들이 1차원 혹은 2차원적으로 수평 정렬되도록 설정되는 양자점 구조 반도체 소자의 제조 방법

7 7

제1항에 있어서, 상기 양자점 활성층 형성 단계는,

상기 양자점들의 분포가 평면적으로 1차원 혹은 2차원으로 정렬되도록, 격자 상수가 서로 다른 제1 물질 및 제2 물질을 적어도 1회 교번하여 성장시키는 단계를 포함하는 양자점 구조 반도체 소자의 제조 방법

8 8

제1항에 있어서, 상기 양자점 활성층 형성 단계 이전에,

상기 초격자 변형층 위에, 추후의 공정에서 상기 반도체 소자의 상부에 장착될 디바이스를 구조적으로 보호해 주는 완충층을 적층하는 단계를 더 포함하는 양자점 구조 반도체 소자의 제조 방법

9 9

양자점 구조 반도체 소자에 있어서,

기판,

상기 기판 위에 형성되어 있고, 격자 상수가 서로 다른 적어도 두 종류의 반도체 물질이 소정 주기로 교번적으로 적층되어 있는 초격자 변형층, 및

상기 초격자 변형층 위에 형성되어 있으며, 상기 소정 주기로 교번적으로 적층하여 유도된 상기 초격자 변형층의 내부 변형에 의해 수평적으로 정렬되는 양자점들을 포함하는 양자점 활성층

을 포함하되,

상기 소정 주기는 상기 내부 변형을 고려하여 설정되어 있는 양자점 구조 반도체 소자

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1 US2002031900 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US6696313 US 미국 DOCDBFAMILY
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