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위조 지문 검출 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015125630
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 비접촉식 지문 인식 장치에 적용 가능한 위조 지문 검출 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 파장이 서로 다른 가시광선 영역의 제1광 및 제2광에 각각 대응하여 취득한 실제 사람의 지문 영상이나 지문 광신호에 대응하는 제1광 지문 밝기와 제2광 지문 밝기 및 제1광 지문 밝기와 제2광 지문 밝기의 차로 구한 밝기 변화도를 위조 지문 판별 정보로 저장한 상태에서, 제1광 및 제2광이 위조 판별 요청된 지문 부위에서 반사된 광을 이용하여 제1광 및 제2광에 대응하는 지문 영상이나 지문 광신호를 취득하면, 취득한 제1광에 대응하는 지문 영상이나 지문 광신호의 밝기와 미리 저장한 제1광 지문 밝기 간의 차이, 혹은 취득한 제2광에 대응하는 지문 영상이나 지문 광신호의 밝기와 미리 저장한 제2광 지문 밝기 간의 차이, 혹은 취득한 제1광 및 제2광에 대응하는 지문 영상의 밝기의 차로 구한 밝기 변화도와 미리 저장한 밝기 변화도 간의 차이 중 어느 하나가 지문 위조 여부를 판별하기 위해 미리 정한 오차 범위를 벗어나면 현재 취득한 지문 영상을 위조로 판별한다. 본 발명은 비접촉식 지문 인식 장치에 여러 파장의 조명을 추가하는 것만으로 경제적이고 효율적으로 위조 검출을 가능하게 한다. 위조 지문 검출 장치, 가시광선, 장파장, 단파장, 비접촉식 지문 인식 장치
Int. CL G06K 9/00 (2006.01)
CPC G06K 9/00114(2013.01) G06K 9/00114(2013.01) G06K 9/00114(2013.01)
출원번호/일자 1020090122299 (2009.12.10)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1054314-0000 (2011.07.29)
공개번호/일자 10-2011-0065690 (2011.06.16) 문서열기
공고번호/일자 (20110808) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.12.10)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김재희 대한민국 경기 고양시 덕양구
2 최희승 대한민국 서울특별시 서대문구
3 이원준 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 이노 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 ***, *층 (서초동, 신한국빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2009.12.10 수리 (Accepted) 1-1-2009-0762589-44
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2011.03.07 수리 (Accepted) 1-1-2011-0162737-57
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search		 2011.03.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search		 2011.03.16 수리 (Accepted) 9-1-2011-0021793-39
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.05.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0270152-50
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2011.06.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0447992-34
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.06.14 수리 (Accepted) 1-1-2011-0447983-23
8 등록결정서
Decision to grant		 2011.07.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0404608-22
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
파장이 서로 다른 가시광선 영역의 제1광 및 제2광에 각각 대응하여 취득한 실제 사람의 지문 영상에 대응하는 제1광 지문 밝기와 제2광 지문 밝기 및 상기 제1광 지문 밝기와 상기 제2광 지문 밝기의 차로 구한 밝기 변화도를 위조 지문 판별 정보로 저장하고 있는 저장부와; 상기 제1광을 발생하는 제1광원과 상기 제2광을 발생하는 제2광원을 포함하는 광 발생부와, 상기 광 발생부에서 발생하는 상기 제1광 및 제2광을 산광하여 위조 판별 요청된 지문 부위에 조사하는 산광판, 및 상기 제1광원과 제2광원을 순차적으로 점등하여 상기 제1광 및 제2광이 순차적으로 발생되게 하며, 상기 제1광원 점등 시 상기 지문 영상 감지부를 작동시키고, 상기 제2광원 점등 시 상기 지문 영상 감지부를 작동시키는 광원 작동 제어부로 구성되어, 위조 판별 요청 시 상기 제1광 및 제2광을 순차적으로 발생하여 위조 판별 요청된 지문 부위에 조사하는 조명부; 상기 제1광 및 제2광이 위조 판별 요청된 지문 부위에서 반사된 광을 이용하여 상기 제1광 및 제2광에 대응하는 지문 영상을 취득하는 지문 영상 감지부; 및 상기 지문 영상 감지부가 취득한 상기 제1광에 대응하는 지문 영상의 밝기와 상기 저장부에 저장된 제1광 지문 밝기 간의 차이 혹은 상기 지문 영상 감지부가 취득한 상기 제2광에 대응하는 지문 영상의 밝기와 상기 저장부에 저장된 제2광 지문 밝기 간의 차이 혹은 상기 지문 영상 감지부가 취득한 상기 제1광 및 제2광에 대응하는 지문 영상의 밝기의 차로 구한 밝기 변화도와 상기 저장부의 밝기 변화도 간의 차이 중 어느 하나가 지문 위조 여부를 판별하기 위해 미리 정한 오차 범위를 벗어나면 현재 취득한 지문 영상을 위조로 판별하는 위조 지문 판별부; 로 구성되는 것을 특징으로 하는 위조 지문 검출 장치
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 광 발생부의 제1광원은 470nm∼530nm의 파장을 갖는 제1광을 발생하는 LED 램프이고, 제2광원은 560nm∼650nm의 파장을 갖는 제2광을 발생하는 LED 램프인 것을 특징으로 하는 위조 지문 검출 장치
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 광 발생부는 상기 제1광원과 상기 제2광원이 지문 부위를 향하도록 링 타입 혹은 라인 타입으로 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 위조 지문 검출 장치
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 지문 영상 감지부는 CCD카메라이거나 CMOS카메라인 것을 특징으로 하는 위조 지문 검출 장치
6 6
파장이 서로 다른 가시광선 영역의 제1광 및 제2광에 각각 대응하여 취득한 실제 사람의 지문 광신호에 대응하는 제1광 지문 밝기와 제2광 지문 밝기 및 상기 제1광 지문 밝기와 상기 제2광 지문 밝기의 차로 구한 밝기 변화도를 위조 지문 판별 정보로 저장하고 있는 저장부와; 상기 제1광을 발생하는 제1광원과 상기 제2광을 발생하는 제2광원이 설치되어 있는 광 발생부와, 상기 광 발생부에서 발생하는 상기 제1광 및 제2광을 산광하여 위조 판별 요청된 지문 부위에 조사하는 산광판, 및 상기 제1광원과 제2광원을 순차적으로 점등하여 상기 제1광 및 제2광이 순차적으로 발생되게 하며, 상기 제1광원 점등 시 상기 지문 광신호 감지부를 작동시키고, 상기 제2광원 점등 시 상기 지문 광신호 감지부를 작동시키는 광원 작동 제어부로 구성되어, 위조 판별 요청 시 상기 제1광 및 제2광을 순차적으로 발생하여 위조 판별 요청된 지문 부위에 조사하는 조명부; 상기 제1광 및 제2광이 위조 판별 요청된 지문 부위에서 반사된 광을 이용하여 상기 제1광 및 제2광에 대응하는 지문 광신호를 취득하는 지문 광신호 감지부; 및 상기 지문 광신호 감지부가 취득한 상기 제1광에 대응하는 지문 광신호의 밝기와 상기 저장부에 저장된 제1광 지문 밝기 간의 차이 혹은 상기 지문 광신호 감지부가 취득한 상기 제2광에 대응하는 지문 광신호의 밝기와 상기 저장부에 저장된 제2광 지문 밝기 간의 차이 혹은 상기 지문 광신호 감지부가 취득한 상기 제1광 및 제2광에 대응하는 지문 광신호의 밝기의 차로 구한 밝기 변화도와 상기 저장부의 밝기 변화도 간의 차이 중 어느 하나가 지문 위조 여부를 판별하기 위해 미리 정한 오차 범위를 벗어나면 현재 취득한 지문 광신호를 위조로 판별하는 위조 지문 판별부; 로 구성되는 것을 특징으로 하는 위조 지문 검출 장치
7 7
삭제
8 8
제 6 항에 있어서, 상기 광 발생부의 제1광원은 470nm∼530nm의 파장을 갖는 제1광을 발생하는 램프이고, 제2광원은 560nm∼650nm의 파장을 갖는 제2광을 발생하는 램프인 것을 특징으로 하는 위조 지문 검출 장치
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 광 발생부는 상기 제1광원과 상기 제2광원이 지문 부위를 향하도록 링 타입 혹은 라인 타입으로 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 위조 지문 검출 장치
10 10
제 6 항에 있어서, 상기 지문 광신호 감지부는 수광 센서인 것을 특징으로 하는 위조 지문 검출 장치
11 11
파장이 서로 다른 가시광선 영역의 제1광 및 제2광에 각각 대응하여 취득한 실제 사람의 지문 영상에 대응하는 제1광 지문 밝기와 제2광 지문 밝기 및 상기 제1광 지문 밝기와 상기 제2광 지문 밝기의 차로 구한 밝기 변화도를 위조 지문 판별 정보로 저장부에 저장하는 제1과정과; 위조 판별 요청 시 조명부에서 파장이 서로 다른 가시광선 영역의 제1광 및 제2광을 순차적으로 발생하여 위조 판별 요청된 지문 부위에 조사하는 제2과정; 상기 제1광 조사 시 지문 영상 감지부가 작동하고, 상기 제2광 조사 시 상기 지문 영상 감지부가 작동하며, 상기 지문 영상 감지부에서 상기 제1광 및 제2광이 위조 판별 요청된 지문 부위에서 반사된 광을 이용하여 상기 제1광 및 제2광에 대응하는 지문 영상을 취득하는 제3과정; 및 위조 지문 판별부에서 상기 지문 영상 감지부가 취득한 상기 제1광에 대응하는 지문 영상의 밝기와 상기 저장부에 저장된 제1광 지문 밝기 간의 차이 혹은 상기 지문 영상 감지부가 취득한 상기 제2광에 대응하는 지문 영상의 밝기와 상기 저장부에 저장된 제2광 지문 밝기 간의 차이 혹은 상기 지문 영상 감지부가 취득한 상기 제1광 및 제2광에 대응하는 지문 영상의 밝기의 차로 구한 밝기 변화도와 상기 저장부의 밝기 변화도 간의 차이 중 어느 하나가 지문 위조 여부를 판별하기 위해 미리 정한 오차 범위를 벗어나면 현재 취득한 지문 영상을 위조로 판별하는 제4과정; 으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 위조 지문 검출 방법
12 12
파장이 서로 다른 가시광선 영역의 제1광 및 제2광에 각각 대응하여 취득한 실제 사람의 지문 광신호에 대응하는 제1광 지문 밝기와 제2광 지문 밝기 및 상기 제1광 지문 밝기와 상기 제2광 지문 밝기의 차로 구한 밝기 변화도를 위조 지문 판별 정보로 저장부에 저장하는 제1과정과; 위조 판별 요청 시 조명부에서 파장이 서로 다른 가시광선 영역의 제1광 및 제2광을 순차적으로 발생하여 위조 판별 요청된 지문 부위에 조사하는 제2과정; 상기 제1광 조사 시 지문 광신호 감지부가 작동하고, 상기 제2광 조사 시 상기 지문 광신호 감지부가 작동하며, 상기 지문 광신호 감지부에서 상기 제1광 및 제2광이 위조 판별 요청된 지문 부위에서 반사된 광을 이용하여 상기 제1광 및 제2광에 대응하는 지문 광신호를 취득하는 제3과정; 및 위조 지문 판별부에서 상기 지문 광신호 감지부가 취득한 상기 제1광에 대응하는 지문 광신호의 밝기와 상기 저장부에 저장된 제1광 지문 밝기 간의 차이 혹은 상기 지문 광신호 감지부가 취득한 상기 제2광에 대응하는 지문 광신호의 밝기와 상기 저장부에 저장된 제2광 지문 밝기 간의 차이 혹은 상기 지문 광신호 감지부가 취득한 상기 제1광 및 제2광에 대응하는 지문 광신호의 밝기의 차로 구한 밝기 변화도와 상기 저장부의 밝기 변화도 간의 차이 중 어느 하나가 지문 위조 여부를 판별하기 위해 미리 정한 오차 범위를 벗어나면 현재 취득한 지문 광신호를 위조로 판별하는 제4과정; 으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 위조 지문 검출 방법
13 13
제 11 항 또는 제 12 항에 있어서, 상기 제1광은 470nm∼530nm의 파장을 갖고, 제2광원은 560nm∼650nm의 파장을 갖는 것을 특징으로 하는 위조 지문 검출 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 연세대학교 선도연구센터-이공학분야(SRC/ERC) ERC/생체인식연구센터/1-1세부/비접촉식 지문인식