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회로 디자인 파일, 테스트패턴과 오류가 발생한 칩의 테스터응답 결과를 입력으로 사용하여 단일고착 고장 시뮬레이션을 수행하는 단계;상기 단일고착 고장 시뮬레이션을 수행하는 과정 중에 수행되는 후보고장 점수를 계산하는 단계;상기 단일고착 고장 시뮬레이션을 수행하는 과정 중에 수행되는 완전일치공통부분 테이블을 생성하는 단계;상기 단일고착 고장 시뮬레이션의 종료 후에, 상기 단계에 의해 계산된 후보고장 점수와 생성된 완전일치공통부분 테이블을 사용하여 최종 고장 후보를 결정하는 단계를 포함하되, 상기 후보고장 점수 계산 단계에서는, 고장의 경우를 완전일치공통부분, 공통부분, 잘못된 예측, 예측실패, 무고장 영역으로 나누고 각각에 대해서 점수 계산법을 수행하며, 상기 완전일치공통부분 테이블 생성 단계에서는, 고장 시뮬레이션 과정에서 완전일치공통부분이 나타날 경우에 각 고장별로 완전일치공통부분이 나타났던 패턴들을 저장하여 테이블을 생성하는 것을 특징으로 하는, 다중고착 고장 진단을 위한 매칭 방법
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제1항에 있어서, 상기 후보고장 점수 계산 단계의 완전일치공통부분 영역은테스터의 응답과 시뮬레이션의 응답이 모두 오류가 나타나며 완전히 일치할 경우이고, 이 때의 점수 계산법은 모든 출력단의 수만큼 점수를 증가시키는 것을 특징으로 하는, 다중고착 고장 진단을 위한 매칭 방법
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제1항에 있어서, 상기 후보고장 점수 계산 단계의 공통부분 영역은,테스터의 응답과 시뮬레이션의 응답이 모두 오류가 나타나나 완전히 일치하지는 않을 경우이고, 이 때의 점수 계산법은 양쪽 모두 오류가 나타나는 출력단의 수만큼 점수를 증가시키며, 한쪽만 오류가 나타나는 출력단의 수만큼 점수를 감소시키는 것을 특징으로 하는, 다중고착 고장 진단을 위한 매칭 방법
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제1항에 있어서, 상기 후보고장 점수 계산 단계의 잘못된 예측 영역은,테스터의 응답에서는 오류가 나타나지 않으나 시뮬레이션의 응답에서는 오류가 나타날 경우이고, 이 때의 점수 계산법은 시뮬레이션 응답에서 오류가 나타나는 출력단의 수만큼 점수를 감소시키는 것을 특징으로 하는, 다중고착 고장 진단을 위한 매칭 방법
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제1항에 있어서, 상기 후보고장 점수 계산 단계의 예측실패 영역은,시뮬레이션의 응답에서는 오류가 나타나지 않으나 테스터의 응답에서 오류가 나타날 경우이고, 이 때의 점수 계산법은 테스터의 응답에서 오류가 나타나는 출력단의 수만큼 점수를 감소시키는 것을 특징으로 하는, 다중고착 고장 진단을 위한 매칭 방법
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제1항에 있어서, 상기 후보고장 점수 계산 단계의 무고장 영역은,테스터의 응답과 시뮬레이션의 응답에서 모두 오류가 나타나지 않을 경우이고, 이 때에는 점수에 변화를 주지 않는 것을 특징으로 하는, 다중고착 고장 진단을 위한 매칭 방법
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제1항에 있어서, 상기 최종 고장후보 결정 단계는,(a) 고장 점수순으로 후보고장을 정렬하는 단계, (b) 가장 점수가 높은 후보고장들 중에서 가장 완전일치공통부분이 많이 나타나는 후보고장을 선택하여 최종 후보고장 집합에 포함시키는 단계,(c) 테스트 응답에서는 오류가 나타났지만 이 패턴에 대하여 완전일치공통부분이 나타나는 후보고장이 최종 후보고장 집합에 없을 경우에, 이 패턴에 대해서 완전일치공통부분이 나타나며 그 중 가장 점수가 높은 후보고장을 최종 후보고장 집합에 포함시키는 단계, (d) 오류가 발생한 모든 테스트 응답에 대해 완전일치공통부분으로 설명하는 고장들이 최종 후보고장 집합에 포함될 때까지 단계(c)를 반복하는 단계를 포함하는, 다중고착 고장 진단을 위한 매칭 방법
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