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자성 패턴층 형성방법 및 이에 따라 제조된 자성 패턴층

  • 기술번호 : KST2015126153
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 환원되면 자성을 갖는 비자성층 상에 소정의 패턴을 갖는 마스크를 배치하는 단계, 및 상기 마스크가 배치된 비자성층 상에 수소 이온을 조사하는 단계를 포함하며, 상기 비자성층에서 상기 마스크 패턴에 대응되는 부분은 상기 조사된 수소 이온에 의해 환원되고 환원된 영역의 주변부는 부분 환원되는 자성 패턴층 형성방법 및 이에 제조된 자성 패턴층에 관한 것이다.
Int. CL G11B 5/84 (2006.01) G11B 5/62 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020110131756 (2011.12.09)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1340465-0000 (2013.12.05)
공개번호/일자 10-2013-0065060 (2013.06.19) 문서열기
공고번호/일자 (20131211) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.12.09)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 홍종일 대한민국 서울특별시 강남구
2 김상훈 대한민국 서울특별시 중랑구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인다나 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *길 **, 신관 *층~*층, **층(역삼동, 광성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.12.09 수리 (Accepted) 1-1-2011-0979719-75
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.01.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0043597-64
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.03.22 수리 (Accepted) 1-1-2013-0250983-38
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.03.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0250985-29
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2013.07.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0515308-80
9 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2013.08.28 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2013-0786716-36
10 등록결정서
Decision to Grant Registration
2013.09.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0631901-33
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
비자성층 상에 소정의 패턴을 갖는 마스크를 배치하는 단계; 및상기 마스크가 배치된 비자성층 상에 이온을 조사하는 단계;를 포함하며,상기 비자성층은 상기 마스크 패턴에 의해 노출된 부분이 환원되어 강자성 패턴이 형성되고, 상기 강자성 패턴의 주변부는 부분환원되어 반강자성 패턴이 형성되며, 나머지 영역은 비자성을 유지하고,상기 비자성층은 산화물층, 질화물층 및 황화물층 중 어느 하나 이상인 자성 패턴층 형성방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 마스크는 상기 조사된 이온이 전부 투과되는 제1영역과, 이온이 일부 투과되는 제2영역, 및 이온이 투과되지 않는 제3영역이 순서대로 연속 배열되는 자성 패턴층 형성방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 마스크는 소정 간격으로 이격된 개구부가 형성되고, 상기 개구부는 상기 이온이 조사되는 방향으로 갈수록 좁아지는 테이퍼 형상을 갖는 자성 패턴층 형성방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 마스크는 소정 간격으로 이격된 개구부가 형성되고, 상기 개구부의 측벽은 단차를 갖는 자성 패턴층 형성방법
5 5
삭제
6 6
비자성층의 일부 영역이 환원되어 강자성 패턴이 형성되고, 상기 강자성 패턴의 주변부는 부분환원되어 반강자성 패턴이 형성되며, 나머지 영역은 비자성을 유지하되,상기 강자성 패턴과 반강자성 패턴은 서로 교환 결합(exchange coupling)하는 자성 패턴층
7 7
제6항에 있어서, 상기 강자성 패턴은 수직 자화된 자성 패턴층
8 8
삭제
9 9
제1 비자성층과, 상기 제1 비자성층보다 환원력이 강한 제2 비자성층을 포함하는 단위 적층체를 적어도 한 층 이상 형성하는 단계;상기 단위 적층체 상에 소정의 패턴을 갖는 마스크를 배치하는 단계; 및상기 단위 적층체 상에 이온을 조사하는 단계;를 포함하며,상기 제2 비자성층은 마스크 패턴에 의해 노출된 부분이 환원되어 강자성 패턴이 형성되고, 상기 제1 비자성층은 부분환원되어 반강자성 패턴이 형성되는 자성 패턴층 형성방법
10 10
삭제
11 11
제9항에 있어서, 상기 제2 비자성층과 제1 비자성층은 Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Y, Zr, Nb, Mo, 및 Tc로 이루어진 그룹에서 선택된 어느 하나 이상의 물질을 포함하는 자성 패턴층 형성방법
12 12
비자성층의 일부 영역이 부분환원되어 반강자성 패턴이 형성된 제1자성 패턴층; 및상기 제1자성 패턴층 상에 형성되고, 비자성층의 일부 영역이 환원되어 강자성 패턴이 형성된 제2자성 패턴층;을 포함하고,상기 강자성 패턴과 상기 반강자성 패턴은 서로 대응되는 위치에 형성되고, 상기 제2 비자성층은 제1 비자성층보다 환원력이 강한 자성 패턴층
13 13
제12항에 있어서, 상기 강자성 패턴은 수직 자화된 자성 패턴층
14 14
제12항에 있어서, 상기 강자성 패턴과 반강자성 패턴은 서로 교환 결합(exchange coupling)하는 자성 패턴층
15 15
환원되면 자성을 갖는 제1 비자성층과 그 위에 형성된 제2 비자성층을 포함하는 단위 적층체를 적어도 한 층 이상 형성하는 단계;상기 단위 적층체 상에 소정의 패턴을 갖는 마스크를 배치하는 단계; 및상기 단위 적층체 상에 이온을 조사하는 단계;를 포함하며,상기 마스크는 상기 조사된 이온이 전부 투과되는 제1영역과, 이온이 일부 투과되는 제2영역, 및 이온이 투과되지 않는 제3영역이 순서대로 연속 배열된 자성 패턴층 형성방법
16 16
제15항에 있어서, 상기 마스크는 소정 간격으로 이격된 개구부가 형성되고, 상기 개구부는 상기 이온이 조사되는 방향으로 갈수록 좁아지는 테이퍼 형상을 갖는 자성 패턴층 형성방법
17 17
제16항에 있어서, 상기 마스크는 소정 간격으로 이격된 개구부가 형성되고, 상기 개구부의 측벽은 단차를 갖는 자성 패턴층 형성방법
18 18
제16항에 있어서, 상기 제2 비자성층은 제1 비자성층보다 환원력이 강한 자성 패턴층 형성방법
19 19
비자성층의 일부 영역이 부분환원되어 제1반강자성 패턴이 형성되는 제1자성 패턴층; 및상기 제1자성 패턴층 상에 형성되고, 비자성층의 일부 영역이 환원되어 강자성 패턴이 형성되고, 상기 강자성 패턴의 주변부는 부분환원되어 제2반강자성 패턴이 형성되는 제2자성 패턴층;을 포함하고,상기 제1반강자성 패턴과 상기 강자성 패턴은 서로 대응되는 위치에 형성되는 자성 패턴층
20 20
제19항에 있어서, 상기 강자성 패턴은 상기 제1반강자성 패턴, 및 제2반강자성 패턴과 각각 교환 결합(exchange coupling)하는 자성 패턴층
21 21
제19항 또는 제20항에 따른 자성 패턴층을 포함하는 자기 저항 효과막
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1 WO2013085094 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2013085094 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.