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강입자 빔 치료를 위한 빔 측정 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015131901
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 강입자 빔 치료를 위한 강입자 빔 측정 장치 및 방법에 관한 것으로, 일면에 따른 강입자 빔 측정 장치는, 강입자 빔의 2차원 위치를 측정하는 2차원 위치 측정모듈 및 강입자 빔의 도달 깊이에 따른 흡수선량을 측정하는 흡수선량 측정모듈을 포함한다. 강입자, 암 치료, 빔 측정 장치
Int. CL A61B 6/00 (2006.01) A61N 5/06 (2006.01)
CPC A61N 5/1071(2013.01) A61N 5/1071(2013.01) A61N 5/1071(2013.01) A61N 5/1071(2013.01) A61N 5/1071(2013.01)
출원번호/일자 1020090051623 (2009.06.10)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1098566-0000 (2011.12.19)
공개번호/일자 10-2010-0132835 (2010.12.20) 문서열기
공고번호/일자 (20111226) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.06.10)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 홍병식 대한민국 서울특별시 노원구
2 이경세 대한민국 서울특별시 강남구
3 심광숙 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인지명 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로**** 차우빌딩*층

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.06.10 수리 (Accepted) 1-1-2009-0351835-53
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.12 수리 (Accepted) 4-1-2010-5149278-93
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.03.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.04.15 수리 (Accepted) 9-1-2011-0032790-50
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0227155-99
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.06.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0487970-67
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.06.27 수리 (Accepted) 1-1-2011-0487971-13
8 등록결정서
Decision to grant
2011.12.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0744722-15
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
강입자 빔의 2차원 위치를 측정하는 2차원 위치 측정모듈; 및 상기 강입자 빔의 도달 깊이에 따른 흡수선량을 측정하는 흡수선량 측정모듈 를 포함하며, 상기 2차원 위치 측정모듈 및 상기 흡수선량 측정모듈은 섬광체를 포함하여, 상기 강입자 빔이 상기 섬광체를 통해 진행하면서 유발되는 광을 이용하여 상기 2차원 위치 및 상기 도달 깊이에 따른 흡수선량을 측정하는 강입자 빔 측정 장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 2차원 위치 측정모듈 및 상기 흡수선량 측정모듈은 상기 강입자 빔이 진행하면서 유발되는 광을 전기신호로 변환하여 측정하는 것 인 빔 측정 장치
3 3
제 1항에 있어서, 상기 2차원 위치 측정모듈은 섬광섬유층; 상기 강입자 빔의 진행시 상기 섬광섬유층에서 유발되는 광으로부터 제1 축(axis) 상의 상기 강입자 빔의 위치를 측정하는 제1 축 위치 측정부; 및 상기 강입자 빔의 진행시 상기 섬광섬유층에서 유발되는 광으로부터 상기 제1 축과 서로 다른 제2 축 상의 상기 강입자 빔의 위치를 측정하는 제2 축 위치 측정부를 포함하는 것 인 빔 측정 장치
4 4
제 3항에 있어서, 상기 섬광섬유층은 상기 제1 축의 방향으로 나열된 복수의 섬광섬유를 포함하는 제1 서브 섬광섬유층과, 상기 제2 축의 방향으로 나열된 복수의 섬광섬유를 포함하는 제2 서브 섬광섬유층을 포함하고, 상기 제1 및 제2 축 위치 측정부는 상기 제1 및 제2 서브 섬광섬유층의 상기 각 섬광섬유와 연결된 복수의 포토다이오드를 포함하는 것 인 빔 측정 장치
5 5
제 1항에 있어서, 상기 흡수선량 측정모듈은 적층된 복수의 섬광기판; 및 상기 강입자 빔이 투과한 상기 섬광기판의 두께와 상기 투과한 각 섬광기판에서 유발되는 광을 이용하여, 상기 도달 깊이에 따른 흡수선량을 측정하는 흡수선량 측정부를 포함하는 것 인 빔 측정 장치
6 6
제 5항에 있어서, 상기 흡수선량 측정모듈은 상기 각 섬광기판에서 유발되는 광을 가이드하는 복수의 광가이드부를 더 포함하고, 상기 흡수선량 측정부는 상기 각 광가이드부로부터 가이드된 광을 검출하는 복수의 포토다이오드를 포함하는 것 인 빔 측정 장치
7 7
제 1항에 있어서, 상기 섬광체는, 유기 섬광체인 빔 측정 장치
8 8
제 1항에 있어서, 적어도 하나의 상기 2차원 위치 측정모듈 및 상기 흡수선량 측정모듈을 더 포함하고, 상기 2차원 위치 측정모듈 및 흡수 선량 측정부가 상기 강입자 빔의 진행방향으로 교대로 배치되어 있는 것 인 빔 측정 장치
9 9
적층된 복수의 섬광섬유층; 및 강입자 빔이 상기 복수의 섬광섬유층을 투과할 때, 상기 각 섬광섬유층에서 유발되는 광으로부터 상기 강입자 빔의 2차원 위치를 측정하는 복수의 2차원 위치 측정부 를 포함하는 빔 측정 장치
10 10
제 9항에 있어서, 상기 강입자 빔이 투과한 상기 섬광섬유층의 두께와 상기 투과한 각 섬광섬유층에서 유발되는 광을 이용하여, 상기 도달 깊이에 따른 흡수선량을 측정하는 것 인 빔 측정 장치
11 11
제 9항에 있어서, 상기 각 섬광섬유층은 제1 축(axis)의 방향으로 나열된 복수의 섬광섬유를 포함하는 제1 서브 섬광섬유층 및 상기 제1 축과 서로 다른 제2 축의 방향으로 나열된 복수의 섬광섬유를 포함하는 제2 서브 섬광섬유층을 포함하고, 상기 각 2차원 위치 측정모듈은 상기 제1 서브 섬광섬유층에서 유발되는 광으로부터 상기 제1 축 상의 상기 강입자 빔의 위치를 측정하는 제1 축 위치 측정부 및 상기 제2 서브 섬광섬유층에서 유발되는 광으로부터 상기 제2 축 상의 상기 강입자 빔의 위치를 측정하는 제2 축 위치 측정부를 포함하는 것 인 빔 측정 장치
12 12
제 11항에 있어서, 상기 제1 및 제2 축 위치 측정부는 상기 제1 및 제2 서브 섬광섬유층의 상기 각 섬광섬유와 연결되어 상기 유발된 광을 검출하는 복수의 포토다이오드를 포함하는 것 인 빔 측정 장치
13 13
적층된 복수의 섬광기판; 및 강입자 빔이 상기 복수의 섬광기판을 투과할 때, 상기 각 섬광기판에서 유발되는 광으로부터 상기 강입자 빔의 도달 깊이에 따른 흡수선량을 측정하는 흡수선량 측정부 를 포함하는 빔 측정 장치
14 14
제 13항에 있어서, 상기 각 섬광기판이 다수의 격자 셀로 구분되며, 상기 강입자 빔이 투과한 상기 각 섬광기판의 격자 셀로부터 상기 강입자 빔의 상기 각 섬광기판 상의 2차원 위치를 측정하는 것 인 빔 측정 장치
15 15
제 13항에 있어서, 상기 흡수선량 측정부는 상기 강입자 빔이 투과한 상기 섬광기판의 두께를 이용하여 상기 도달 깊이를 측정하는 것 인 빔 측정 장치
16 16
제 15항에 있어서, 상기 흡수선량 측정부는 상기 각 섬광기판에서 유발되는 광으로부터 상기 흡수선량을 검출하는 복수의 포토다이오드를 포함하는 것 인 빔 측정 장치
17 17
섬광체로 강입자 빔을 조사하는 단계; 상기 강입자 빔이 통과하는 2차원 평면상의 위치를 측정하는 단계; 및 상기 강입자 빔의 도달 깊이에 따른 흡수 선량을 측정하는 단계 를 포함하는 빔 측정 방법
18 18
제 17항에 있어서, 상기 위치를 측정하는 단계 및 상기 흡수 선량을 측정하는 단계 각각은 상기 강입자 빔이 상기 섬광체를 투과하면서 유발되는 광을 검출하는 단계; 및 상기 광을 전기신호로 변환하는 단계를 포함하는 것 인 빔 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.