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신호 검출 장치

  • 기술번호 : KST2015135140
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 실시예에 따른 신호 검출 장치는 광선이 입사되면 상기 광선이 입사된 지점에서 입력 신호를 검출하는 복수의 신호 입력판을 포함하는 신호 입력부, 상기 광선이 입사된 지점에 상응하는 상기 신호 입력판의 식별 정보를 이용하여 상기 광선의 입사된 위치의 위치 정보를 생성하고, 상기 입력 신호를 이용하여 처리 신호를 생성하는 복수의 신호 처리 회로를 포함하는 신호 처리부 및 상기 위치 정보 및 상기 처리 신호를 출력하는 복수의 전극을 포함하는 신호 출력부를 포함한다. 장치의 전체적인 크기를 줄이고 노이즈를 감소시킬 수 있다. 광선, 검출기, 증폭기.
Int. CL A61B 6/00 (2006.01.01) G01N 23/083 (2018.01.01) H01L 27/30 (2006.01.01)
CPC A61B 6/4208(2013.01) A61B 6/4208(2013.01) A61B 6/4208(2013.01) A61B 6/4208(2013.01)
출원번호/일자 1020090023640 (2009.03.19)
출원인 중앙대학교 산학협력단, 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1046481-0000 (2011.06.28)
공개번호/일자 10-2010-0104919 (2010.09.29) 문서열기
공고번호/일자 (20110704) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.03.19)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 중앙대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동작구
2 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최영완 대한민국 서울특별시 송파구
2 김두근 대한민국 서울특별시 도봉구
3 정인일 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 양문옥 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 중앙대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동작구
2 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.03.19 수리 (Accepted) 1-1-2009-0167306-06
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.08.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.09.14 수리 (Accepted) 9-1-2010-0058707-44
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.10.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0464928-88
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.12.10 수리 (Accepted) 1-1-2010-0814029-76
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.12.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0814028-20
7 등록결정서
Decision to grant
2011.06.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0315209-53
8 출원인정보변경(경정)신고서
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2011.07.20 수리 (Accepted) 4-1-2011-5148883-62
9 출원인정보변경(경정)신고서
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2011.07.20 수리 (Accepted) 4-1-2011-5148879-89
10 출원인정보변경(경정)신고서
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2011.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2011-5195109-43
11 출원인정보변경(경정)신고서
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2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
12 출원인정보변경(경정)신고서
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2014.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000494-54
13 출원인정보변경(경정)신고서
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2014.10.20 수리 (Accepted) 4-1-2014-5123944-33
14 출원인정보변경(경정)신고서
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2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
15 출원인정보변경(경정)신고서
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2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
16 출원인정보변경(경정)신고서
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2018.07.04 수리 (Accepted) 4-1-2018-5125629-51
17 출원인정보변경(경정)신고서
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2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
18 출원인정보변경(경정)신고서
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2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
19 출원인정보변경(경정)신고서
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2019.07.29 수리 (Accepted) 4-1-2019-5151122-15
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.01 수리 (Accepted) 4-1-2019-5153932-16
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광선이 입사되면 상기 광선이 입사된 지점에서 입력 신호를 검출하는 복수의 신호 입력판을 포함하는 신호 입력부; 상기 광선이 입사된 지점에 상응하는 상기 신호 입력판의 식별 정보를 이용하여 상기 광선의 입사된 위치의 위치 정보를 생성하고, 상기 입력 신호를 이용하여 처리 신호를 생성하는 복수의 신호 처리 회로를 포함하는 신호 처리부; 및 상기 위치 정보 및 상기 처리 신호를 출력하는 복수의 전극을 포함하는 신호 출력부를 포함하되, 상기 신호 입력부는 상기 신호 입력판이 행방향으로 배열된 제1층과 상기 신호 입력판이 열방향으로 배열된 제2층의 두 개의 층을 포함하며 상기 신호 처리부는 상기 제1층 및 상기 제2층에서 상기 광선이 입사된 지점에 상응하는 두 개의 상기 신호 입력판의 상기 식별 정보로부터 상기 광선이 입사된 지점의 상기 위치 정보를 산출하는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 입력 신호는 전류 형태로 생성되며, 상기 신호 처리부는 상기 입력 신호를 전압 형태의 신호로 변환하여 상기 처리 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 신호 입력부와 상기 신호 처리부 및 상기 신호 출력부는 같은 기판 상에 실장되는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치
4 4
제1항에 있어서, 각각의 상기 전극은 상기 신호 입력판에 하나씩 대응되며, 상기 처리 신호는 상기 광선이 입력된 상기 신호 입력판에 상응하는 상기 전극을 통해 출력되는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치
5 5
제1항에 있어서, 상기 신호 처리부는 증폭기를 더 포함하며, 하나의 상기 신호 입력판에 하나의 상기 신호 처리 회로, 하나의 상기 증폭기가 대응되고, 변환 및 증폭된 상기 처리 신호는 상기 신호 출력부의 상기 전극을 통해 출력되는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치
6 6
제1항에 있어서, 상기 신호 출력부는 상기 신호 처리부와 직접 접촉됨으로써 전기적으로 연결되며, 접촉된 지점을 통해 상기 위치 정보 및 상기 처리 신호를 받는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치
7 7
삭제
8 8
광선이 입사되면 상기 광선이 입사된 지점에서 입력 신호를 검출하는 복수의 신호 입력판을 포함하는 신호 입력부; 상기 광선이 입사된 지점에 상응하는 상기 신호 입력판의 식별 정보를 이용하여 상기 광선의 입사된 위치의 위치 정보를 생성하고, 상기 입력 신호를 이용하여 처리 신호를 생성하는 복수의 신호 처리 회로를 포함하는 신호 처리부; 및 상기 위치 정보 및 상기 처리 신호를 출력하는 복수의 전극을 포함하는 신호 출력부를 포함하되, 복수의 상기 신호 입력판은 격자 형태로 배열되며 상기 신호 처리부는 상기 광선이 입사된 지점에 상응하는 상기 신호 입력판의 상기 식별 정보로부터 상기 광선이 입사된 지점의 상기 위치 정보를 산출하는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치
9 9
제8항에 있어서, 상기 신호 입력부, 상기 신호 처리부 및 상기 신호 출력부는 동일한 기판에 집적되며, 상기 신호 출력부는 상기 신호 입력부 및 상기 신호 처리부의 하층에 실장되어 상기 신호 처리부와 전기적 연결을 위해 직접 접촉되는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치
10 10
제1항에 있어서, 상기 신호 처리부는 상기 신호 입력부에서 고에너지 광선의 입사에 따른 컴프턴 이펙트(Compton Effect)에 의해 발생되는 상기 입력 신호를 전압 형태의 상기 처리 신호로 변환하는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치
11 11
제1항에 있어서, 상기 신호 처리부는 증폭기를 더 포함하며 상기 증폭기는 상기 처리 신호를 증폭하는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치
12 12
제1항에 있어서, 상기 신호 처리부는 증폭기를 더 포함하며 상기 증폭기는 상기 입력 신호를 증폭하는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
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