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반도체 패키지용 방수 조성물 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015141620
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체 패키지용 방수 조성물 및 그 제조방법에 관한 것이다.본 발명에 따른 반도체 패키지용 방수 조성물은 반도체 패키지가 수분이나 습기에 노출되는 경우 방수하는 효과가 있고, 이를 통해 표면에 크랙이나 표면박리현상이 발생하는 것을 방지한다. 그러므로 본 발명에 따른 반도체 패키지용 방수 조성물 및 그 제조방법을 이용하여 반도체 패키지 및 반도체 제품을 생산하게 되면 수분이나 습기에 노출되어도 표면의 상태가 변하지 않는 반도체 패키지 및 반도체 제품의 제공이 가능하다. 또한 본 발명에 따른 반도체 패키지용 방수 조성물을 이용하게 되면 인장 강도 및 접착 강도 등이 향상되며, 방수 효과가 우수하기 때문에 반도체 패키지의 내구성 향상 및 수명 연장에 크게 기여할 수 있다.
Int. CL H01L 23/29 (2006.01) C08K 3/34 (2006.01) C08L 101/00 (2006.01) C08L 63/00 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020120143307 (2012.12.11)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1458761-0000 (2014.10.31)
공개번호/일자 10-2014-0075908 (2014.06.20) 문서열기
공고번호/일자 (20141113) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.12.11)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김학성 대한민국 서울 성동구
2 김도형 대한민국 서울 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인충현 대한민국 서울특별시 서초구 동산로 **, *층(양재동, 베델회관)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.12.11 수리 (Accepted) 1-1-2012-1027088-14
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2013.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2013-0000892-30
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.07.02 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.08.09 수리 (Accepted) 9-1-2013-0065332-05
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.03.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0192550-14
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.05.16 수리 (Accepted) 1-1-2014-0459400-78
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.06.18 수리 (Accepted) 1-1-2014-0567255-09
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.07.15 수리 (Accepted) 1-1-2014-0664759-06
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.07.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0664787-74
11 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2014.10.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0688724-17
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.10.17 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2014-0989493-34
13 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.10.17 수리 (Accepted) 1-1-2014-0989486-14
14 등록결정서
Decision to grant
2014.10.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0741640-58
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 패키지용 방수 조성물에 있어서,상기 반도체 패키지용 방수 조성물은 비스페놀 A형(Bisphenol-A), 비스페놀 F형, 노볼락 타입 에폭시(Novolac Type Epoxy), 난연성 에폭시(Brominated Epoxy), 사이클로알리퍼틱 에폭시(Cycloaliphatic Epoxy) 및 루버 모디파이드 에폭시(Rubber Epoxy)로 이루어지는 군 중에서 선택된 어느 하나 이상의 에폭시 수지 100 중량부에 대하여 100~300nm 크기의 클레이 1-5 중량부가 포함되며,상기 반도체 패키지용 방수 조성물은 초음파로 처리되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 방수 조성물
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제 1항에 있어서,상기 클레이가 포함되기 전의 반도체 패키지용 방수 조성물은 비스페놀 A형(Bisphenol-A), 비스페놀 F형, 노볼락 타입 에폭시(Novolac Type Epoxy), 난연성 에폭시(Brominated Epoxy), 사이클로알리퍼틱 에폭시(Cycloaliphatic Epoxy) 및 루버 모디파이드 에폭시(Rubber Epoxy)로 이루어지는 군 중에서 선택된 어느 하나 이상의 에폭시 수지가 20중량%이상으로 포함되어 이루어지는 반도체 패키지용 방수 조성물
5 5
제 1항에 있어서, 상기 방수 조성물은 반도체 패키지의 제조 과정에서 접착제(Adhesive), EMC(Epoxy molding compound), 언더필(Underfill) 및 흡착제로 이루어지는 군 중에서 선택된 어느 하나 이상의 용도로 사용되는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 방수 조성물
6 6
제 1항에 있어서,상기 클레이가 포함된 반도체 패키지용 방수 조성물은 클레이가 포함되기 전의 방수 조성물에 비해 수분 흡수율이 40%이상 감소된 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 방수 조성물
7 7
제 1항에 있어서,상기 클레이가 포함된 반도체 패키지용 방수 조성물은 클레이가 포함되기 전의 방수 조성물에 비해 수분 또는 습기에 24시간 노출된 후의 접착 강도가 65%이상 증가된 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 방수 조성물
8 8
제 1항에 따른 반도체 패키지용 방수 조성물을 포함하는 반도체 패키지
9 9
반도체 패키지용 방수 조성물의 제조방법에 있어서,1) 비스페놀 A형(Bisphenol-A), 비스페놀 F형, 노볼락 타입 에폭시(Novolac Type Epoxy), 난연성 에폭시(Brominated Epoxy), 사이클로알리퍼틱 에폭시(Cycloaliphatic Epoxy) 및 루버 모디파이드 에폭시(Rubber Epoxy)로 이루어지는 군 중에서 선택된 어느 하나 이상의 에폭시 수지를 포함하는 방수 조성물 100 중량부에 대하여 100~300nm 크기의 클레이 1-5 중량부를 혼합하는 단계; 및2) 상기 혼합 후 초음파 처리하는 단계;를 포함하는 반도체 패키지용 방수 조성물의 제조방법
10 10
삭제
11 11
삭제
12 12
제 9항에 있어서,상기 초음파 처리는 25분 내지 30분 동안 처리하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 방수 조성물의 제조방법
13 13
제 9항에 있어서,상기 클레이가 혼합되기 전의 반도체 패키지용 방수 조성물은 비스페놀 A형(Bisphenol-A), 비스페놀 F형, 노볼락 타입 에폭시(Novolac Type Epoxy), 난연성 에폭시(Brominated Epoxy), 사이클로알리퍼틱 에폭시(Cycloaliphatic Epoxy) 및 루버 모디파이드 에폭시(Rubber Epoxy)로 이루어지는 군 중에서 선택된 어느 하나 이상의 에폭시 수지가 20중량% 이상으로 포함되어 이루어지는 반도체 패키지용 방수 조성물의 제조방법
14 14
제 9항에 있어서,상기 방수 조성물은 반도체 패키지의 제조 과정에서 접착제(Adhesive), EMC(Epoxy molding compound), 언더필(Underfill) 및 흡착제로 이루어지는 군 중에서 선택된 어느 하나 이상의 용도로 사용되는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지용 방수 조성물의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 한양대학교 산학협력단 이공분야 대학 중점 연구소 지원사업 생체모방 나노센터 시스템 연구