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반도체 회로 시스템 및 이에 있어서 에러 보정 방법

  • 기술번호 : KST2015141740
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 에러를 클록 중 에러를 검출한 사이클 내에서 에러를 보정할 수 있도록 클록의 사이클을 가변시키는 에러 보정 시스템이 개시된다. 반도체 회로 시스템에서 에러를 보정하는 방법은 제 1 클록을 이용하여 제 1 엘리먼트를 구동하는 단계, 제 2 클록을 이용하여 제 2 엘리먼트를 구동하는 단계, 상기 제 1 클록 중 상기 제 1 엘리먼트에 에러가 발생한 사이클을 검출하는 단계 및 상기 에러를 보정하기 위하여 상기 검출된 사이클의 길이를 가변시키는 단계를 포함한다. 여기서, 상기 제 2 엘리먼트를 상기 제 1 엘리먼트의 에러를 보정하기 위해 사용된다.
Int. CL H03K 5/156 (2006.01) H03K 5/04 (2006.01)
CPC H03K 5/1565(2013.01) H03K 5/1565(2013.01)
출원번호/일자 1020130079822 (2013.07.08)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1517677-0000 (2015.04.28)
공개번호/일자 10-2015-0006524 (2015.01.19) 문서열기
공고번호/일자 (20150507) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.07.08)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤동원 대한민국 서울 광진구
2 이우혁 대한민국 경기도 용인시 수지구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 최관락 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
2 송인호 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
3 민영준 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로 ****, *층(도곡동, 차우빌딩)(맥스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.07.08 수리 (Accepted) 1-1-2013-0613195-36
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.06.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.07.10 수리 (Accepted) 9-1-2014-0058362-34
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.11.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0807389-17
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.01.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0082807-49
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.01.26 수리 (Accepted) 1-1-2015-0082806-04
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
9 등록결정서
Decision to grant
2015.04.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0255852-43
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 회로 시스템에서 에러를 보정하는 방법에 있어서,제 1 클록을 이용하여 제 1 엘리먼트를 구동하는 단계;제 2 클록을 이용하여 제 2 엘리먼트를 구동하는 단계;상기 제 1 클록 중 상기 제 1 엘리먼트에 에러가 발생한 사이클을 검출하는 단계; 및상기 에러를 보정하기 위하여 상기 검출된 사이클의 길이를 가변시키는 단계를 포함하되,상기 제 2 엘리먼트를 상기 제 1 엘리먼트의 에러를 보정하기 위해 사용되는 것을 특징으로 하는 반도체 회로 시스템에서 에러 보정 방법
2 2
각기 제 1 엘리먼트 및 상기 제 1 엘리먼트의 에러를 보정하기 위해 사용되는 제 2 엘리먼트를 가지는 적어도 하나의 지엽 회로부; 및 상기 지엽 회로부와 전기적으로 연결된 중앙 처리부를 포함하되,상기 지엽 회로부는 상기 제 1 엘리먼트에 에러 발생시 상기 에러에 관한 에러 정보를 상기 중앙 처리부로 전송하며, 상기 지엽 회로부는 상기 에러를 보정하는 것을 특징으로 하는 반도체 회로 시스템
3 3
제2항에 있어서, 상기 중앙 처리부는 상기 에러 정보 수신시 상기 반도체 회로 시스템을 리셋시키는 것을 특징으로 하는 반도체 회로 시스템
4 4
제2항에 있어서, 상기 중앙 처리부는 상기 지엽 회로부들로 각기 클록을 제공하는 것을 특징으로 하는 반도체 회로 시스템
5 5
제2항에 있어서, 상기 엘리먼트들은 동일한 플립플롭이며 입력단을 기초로 상호 병렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 반도체 회로 시스템
6 6
제 1 엘리먼트;상기 제 1 엘리먼트의 에러 검출 또는 보정을 위해 사용되는 제 2 엘리먼트;상기 제 1 엘리먼트의 출력과 상기 제 2 엘리먼트의 출력을 이용하여 에러 발생 여부를 판단하는 에러 로직부; 및상기 제 1 엘리먼트의 출력과 상기 에러 로직부의 출력을 이용하여 상기 제 1 엘리먼트의 에러를 보정하는 에러 보정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 지엽 회로부
7 7
제6항에 있어서, 상기 엘리먼트들은 동일한 D 플립플롭이고, 상기 제 1 엘리먼트로 입력되는 제 1 클록은 가변 클록이며, 상기 제 2 엘리먼트로 입력되는 제 2 클록은 고정 클록이고, 상기 제 2 클록의 사이클의 길이는 상기 제 1 클록의 사이클의 길이 이하인 것을 특징으로 하는 지엽 회로부
8 8
제7항에 있어서, 상기 제 1 엘리먼트의 에러를 보정하기 위하여 상기 제 1 클록 중 에러가 검출된 사이클의 길이를 가변시키고, 상기 가변된 사이클의 전체 길이는 상기 제 2 클록의 복수의 사이클들에 대응하며, 상기 제 2 클록의 사이클들 중 하나에서 상기 에러의 발생을 검출하는 동작이 수행되고, 상기 제 2 클록의 사이클들 중 다른 하나에서 상기 검출된 에러를 보정하는 동작이 수행되는 것을 특징으로 하는 지엽 회로부
9 9
제6항에 있어서, 상기 에러 로직부는,입력단들이 상기 제 2 엘리먼트의 입력단 및 출력단에 연결된 제 1 XNOR 게이트; 및상기 제 1 XNOR 게이트의 출력단에 연결된 제 1 인버터를 포함하되,상기 제 1 엘리먼트의 출력단은 상기 제 2 엘리먼트의 입력단에 연결되며, 상기 제 1 인버터의 출력은 상기 에러 보정부로 제공되는 것을 특징으로 하는 지엽 회로부
10 10
제9항에 있어서, 상기 에러 보정부는,제 2 XNOR 게이트; 및 상기 제 2 XNOR 게이트의 출력단에 연결된 제 2 인버터를 포함하되,상기 제 1 엘리먼트의 출력단과 상기 제 1 인버터의 출력단이 상기 제 2 XNOR 게이트의 입력단들과 연결되는 것을 특징으로 하는 지엽 회로부
11 11
제9항에 있어서, 상기 에러 로직부는 상기 제 1 인버터의 출력을 중앙 처리부로 제공하는 것을 특징으로 하는 지엽 회로부
12 12
제 1 엘리먼트;상기 제 1 엘리먼트를 보정하기 위해 사용되는 제 2 엘리먼트 및 제 3 엘리먼트;상기 제 1 엘리먼트 내지 상기 제 3 엘리먼트의 출력들을 이용하여 상기 제 1 엘리먼트의 에러를 보정하는 에러 보정부; 및상기 제 1 엘리먼트에 발생한 에러에 관한 에러 정보를 출력하는 에러 로직부를 포함하되,상기 제 1 엘리먼트 내지 상기 제 3 엘리먼트는 입력단을 기준으로 하여 상호 병렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 지엽 회로부
13 13
제12항에 있어서, 상기 제 1 엘리먼트 내지 상기 제 3 엘리먼트는 동일한 D 플립플롭이고, 상기 제 1 엘리먼트 내지 상기 제 3 엘리먼트로 동일한 클록이 제공되는 것을 특징으로 하는 지엽 회로부
14 14
제12항에 있어서,상기 제 1 엘리먼트의 출력과 상기 제 2 엘리먼트의 출력을 수신하는 제 1 AND 게이트;상기 제 1 엘리먼트의 출력과 상기 제 3 엘리먼트의 출력을 수신하는 제 2 AND 게이트;상기 제 2 엘리먼트의 출력과 상기 제 3 엘리먼트의 출력을 수신하는 제 3 AND 게이트; 및상기 제 1 AND 게이트 내지 상기 제 3 AND 게이트의 출력들을 수신하는 OR 게이트를 포함하되,상기 제 1 AND 게이트 내지 상기 제 3 AND 게이트는 상호 병렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 지엽 회로부
15 15
제12항에 있어서, 상기 에러 로직부는 상기 제 1 엘리먼트의 에러에 관한 에러 정보를 중앙 처리부로 제공하는 것을 특징으로 하는 지엽 회로부
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한양대학교 산학협력단 기술혁신사업 / 정보통신 기술인력양성사업 / IT융합 고급인력과정 지원사업 스마트카 Connected Safety 제어를 위한 공통 알고리즘 플랫폼 개발 (2차년도)