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공초점 현미경에 있어서,광을 방출하는 광원;상기 방출된 광을 상기 광의 파장에 따라 변조하는 빔 모듈레이터;크로마틱 대물렌즈; 및처리부를 포함하고,상기 빔 모듈레이터는 상기 방출된 광을 상기 광의 파장에 따라 변조하고,상기 변조된 광은 상기 크로마틱 대물렌즈를 통과하여 상기 공초점 현미경에 의해 관찰되는 시편으로 조사되고,상기 처리부는 상기 시편으로 조사된 상기 변조된 광에 의해 상기 시편으로부터 방출된 형광 신호를 검출하고, 상기 검출된 형광 신호에 기반하여 상기 시편의 깊이의 정보를 생성하고,상기 크로마틱 대물렌즈의 초점 거리는 상기 크로마틱 대물렌즈로 입사되는 입사광의 파장에 따라 변하고,상기 처리부는 상기 형광 신호의 변조 주파수를 분석함으로써 상기 크로마틱 대물렌즈의 상기 초점 거리를 획득하고, 상기 획득된 초점 거리에 기반하여 상기 시편의 상기 깊이의 정보를 생성하는, 공초점 현미경
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제1항에 있어서,상기 광원에 의해 방출되는 상기 광은 광대역(broad band)의 광이거나, 시간에 따라 파장이 변화하는 광인, 공초점 현미경
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삭제
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제1항에 있어서,상기 처리부는상기 형광 신호 중 특정 변조 주파수의 신호를 증폭하는 락-인 증폭기(lock-in amplifier)를 포함하는, 공초점 현미경
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공초점 현미경에 있어서,광을 방출하는 광원;상기 방출된 광을 상기 광의 파장에 따라 변조하는 빔 모듈레이터;크로마틱 대물렌즈; 및처리부를 포함하고,상기 빔 모듈레이터는 상기 방출된 광을 상기 광의 파장에 따라 변조하고,상기 변조된 광은 상기 크로마틱 대물렌즈를 통과하여 상기 공초점 현미경에 의해 관찰되는 시편으로 조사되고,상기 처리부는 상기 시편으로 조사된 상기 변조된 광에 의해 상기 시편으로부터 방출된 형광 신호를 검출하고, 상기 검출된 형광 신호에 기반하여 상기 시편의 깊이의 정보를 생성하고, 상기 크로마틱 대물렌즈의 초점 거리는 상기 크로마틱 대물렌즈로 입사되는 입사광의 파장에 따라 변하고,상기 빔 모듈레이터는진폭 변조기(amplitude modulator)를 포함하고,상기 빔 모듈레이터는 상기 진폭 변조기를 사용함으로써 상기 광원으로부터 방출된 광을 파장에 따라 변조하는, 공초점 현미경
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공초점 현미경에 있어서,광을 방출하는 광원;상기 방출된 광을 상기 광의 파장에 따라 변조하는 빔 모듈레이터;크로마틱 대물렌즈; 및처리부를 포함하고,상기 빔 모듈레이터는 상기 방출된 광을 상기 광의 파장에 따라 변조하고,상기 변조된 광은 상기 크로마틱 대물렌즈를 통과하여 상기 공초점 현미경에 의해 관찰되는 시편으로 조사되고,상기 처리부는 상기 시편으로 조사된 상기 변조된 광에 의해 상기 시편으로부터 방출된 형광 신호를 검출하고, 상기 검출된 형광 신호에 기반하여 상기 시편의 깊이의 정보를 생성하고, 상기 크로마틱 대물렌즈의 초점 거리는 상기 크로마틱 대물렌즈로 입사되는 입사광의 파장에 따라 변하고,상기 빔 모듈레이터는광학 지연 발생기(optical delay generator)를 포함하고,상기 광학 지연 발생기는 상기 광원으로부터 방출된 상기 광의 파장에 따라 상이한 지연(delay)를 발생시킴으로써 상기 광원으로부터 방출된 광을 상기 광의 파장에 따라 변조하는, 공초점 현미경
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제1항에 있어서,광 섬유(optical fiber)를 더 포함하고,상기 변조된 상기 광은 광 섬유를 통해 상기 크로마틱 대물렌즈로 입사되는, 공초점 현미경
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제7항에 있어서,상기 광 섬유는 광 섬유 번들(bundle) 또는 하나의 가닥의 광 섬유(single fiber)인, 공초점 현미경
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제1항에 있어서,상기 깊이의 정보는 상기 시편의 표면 상의 복수의 위치들의 깊이들의 정보인, 공초점 현미경
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제9항에 있어서,상기 시편은 상기 표면에 대응하는 2 차원 평면 상에서 스캔되고,상기 처리부는 상기 스캔에 따라 상기 복수의 위치들에 각각 대응하는 깊이들의 정보를 생성하는, 공초점 현미경
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제9항에 있어서,빔 스캐너를 더 포함하고,상기 빔 스캐너는 상기 크로마틱 대물렌즈를 통해 상기 시편으로 조사되는 광이 조사되는 상기 시편 상의 위치를 변경함으로써, 상기 시편을 2 차원 평면 상에서 스캔하고,상기 처리부는 상기 스캔에 따라 상기 복수의 위치들에 각각 대응하는 깊이들의 정보를 생성하는, 공초점 현미경
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제1항에 있어서,상기 크로마틱 대물렌즈의 상기 초점 거리는 상기 입사광의 파장에 비례하여 일정하게 증가 또는 감소하는, 공초점 현미경
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공초점 현미경이 시편의 깊이의 정보를 생성하는 방법에 있어서,상기 공초점 현미경의 광원으로부터 방출된 광을 파장에 따라 변조하는 단계;상기 공초점 현미경에 의해 관찰되는 시편으로부터 방출된 형광 신호를 검출하는 단계 - 상기 형광 신호는 상기 공초점 현미경의 크로마틱 대물렌즈를 통과하여 상기 시편으로 조사된 상기 변조된 광에 의해 방출됨 -; 및검출된 상기 형광 신호에 기반하여 상기 시편의 깊이의 정보를 생성하는 단계를 포함하고,상기 크로마틱 대물렌즈의 초점 거리는 상기 크로마틱 대물렌즈로 입사되는 입사광의 파장에 따라 변하고, 상기 깊이의 정보를 생성하는 단계는,상기 형광 신호의 변조 주파수를 분석함으로써 상기 크로마틱 대물렌즈의 상기 초점 거리를 획득하고, 상기 획득된 초점 거리에 기반하여 상기 시편의 상기 깊이의 정보를 생성하는, 시편의 깊이의 정보를 생성하는 방법
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공초점 내시경에 있어서,광을 방출하는 광원;상기 방출된 광을 상기 광의 파장에 따라 변조하는 빔 모듈레이터;광섬유;처리부; 및상기 공초점 내시경에 의해 관찰되는 시편의 내부로 삽입되는 내시경 프로브를 포함하고,상기 내시경 프로브는크로마틱 대물렌즈를 포함하고,상기 빔 모듈레이터는 상기 방출된 광을 상기 광의 파장에 따라 변조하고,상기 변조된 광은 상기 광 섬유를 통해 상기 크로마틱 대물렌즈를 통과하여 상기 시편으로 조사되고, 상기 처리부는 상기 시편으로 조사된 상기 변조된 광에 의해 상기 시편으로부터 방출된 형광 신호를 검출하고, 상기 검출된 형광 신호에 기반하여 상기 시편의 상기 내부에서의 상기 시편의 깊이의 정보를 생성하고,상기 크로마틱 대물렌즈의 초점 거리는 상기 크로마틱 대물렌즈로 입사되는 입사광의 파장에 따라 변하고,상기 처리부는 상기 형광 신호의 변조 주파수를 분석함으로써 상기 크로마틱 대물렌즈의 상기 초점 거리를 획득하고, 상기 획득된 초점 거리에 기반하여 상기 시편의 상기 깊이의 정보를 생성하는, 공초점 내시경
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