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고주파용 디바이스의 모델링 방법

  • 기술번호 : KST2015145311
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 고주파 회로에 사용되는 전송라인(Transmission Line), 트랜지스터, 인덕터, 커패시터 및 저항을 비롯한 각종 고주파용 디바이스들을 모델링한다.본 발명에 따르면, 모델링할 고주파용 디바이스의 기본단위의 셀을 정의하고, 정의한 기본단위 셀이 포함되도록 테스트 구조를 제작하며, 제작한 테스트 구조를 측정하고, 테스트 구조의 등가회로를 PEEC형태의 등가모델을 이용하여 정의하며, 측정한 테스트 구조의 정의된 전기적 등가모델내의 인덕턴스, 커패시턴스 및 저항의 값을 측정한 값에 피팅(fitting)시켜 등가회로를 구성하는 인덕턴스, 커패시턴스 및 저항의 값을 추출하며, 추출 결과로 설계규칙 라이브러리를 생성하고, 설계규칙 라이브러리에 따라 고주파용 디바이스를 모델링한다. 디바이스, 모델링, PEEC, 패드, 셀, 기본단위, 설계규칙, 테스트구조, PE,
Int. CL G06F 17/50 (2006.01)
CPC G06F 17/5068(2013.01) G06F 17/5068(2013.01)
출원번호/일자 1020050133303 (2005.12.29)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-0716798-0000 (2007.05.03)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20070514) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.12.29)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 차철웅 대한민국 서울특별시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
2 조현동 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 (도곡동, 덕영빌딩)(노벨국제특허법률사무소)
3 진천웅 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2005.12.29 수리 (Accepted) 1-1-2005-0777645-16
2 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent		 2006.04.17 수리 (Accepted) 1-1-2006-0263231-96
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2006.10.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2006.11.14 수리 (Accepted) 9-1-2006-0073553-89
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2006.11.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0705051-66
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 2007.01.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0073448-74
7 의견서
Written Opinion		 2007.01.24 수리 (Accepted) 1-1-2007-0073440-10
8 등록결정서
Decision to grant		 2007.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0229972-93
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
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번호 청구항
1 1
모델링할 고주파용 디바이스의 기본단위의 셀을 정의하고, 정의한 기본단위 셀의 테스트 구조를 제작하는 단계;상기 제작한 테스트 구조의 고주파 파라미터를 측정하는 단계;상기 제작한 테스트 구조의 등가회로를 정의하는 단계;상기 측정한 테스트 구조의 파라미터 값을 상기 정의한 등가회로에 피팅시켜 등가회로를 구성하는 인덕턴스, 커패시턴스 및 저항의 값을 추출하는 단계; 및상기 추출 결과로 설계규칙 라이브러리를 생성하고, 그 설계규칙 라이브러리에 따라 고주파용 디바이스를 모델링하는 단계를 포함한 고주파용 디바이스의 모델링 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 테스트 구조는;복수의 PE(Partial Elements)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 고주파용 디바이스의 모델링 방법
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 테스트 구조의 고주파 파라미터 값을 측정하는 단계는;측정용 장비로 측정하는 것을 특징으로 하는 고주파용 디바이스의 모델링 방법
4 4
제 1 항에 있어서,상기 테스트 구조는;패드 PE를 포함하고,상기 고주파 파라미터 값을 측정하는 단계는;상기 패드 PE만으로 구성된 테스트 구조의 고주파 파라미터 값을 측정하며,상기 등가회로를 정의하는 단계는;상기 패드 PE만으로 구성된 테스트 구조의 등가회로를 정의하며,상기 인덕턴스, 커패시턴스 및 저항의 값을 추출하는 단계는;상기 패드 PE의 등가회로를 구성하는 인덕턴스, 커패시턴스 및 저항의 값을 상기 테스트 구조를 측정하여 얻어진 고주파 파라미터에 피팅시켜 추출하는 것을 특징으로 하는 고주파용 디바이스의 모델링 방법
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 디바이스를 모델링하기 전에;상기 생성한 설계규칙 라이브러리로 샘플을 제작하여 설계규칙을 검사하고, 시뮬레이션을 수행하여 결과를 추출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 고주파용 디바이스의 모델링 방법
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 시뮬레이션의 수행은;스파이스 타임(SPICE type)의 시뮬레이터로 수행하는 것을 특징으로 하는 고주파용 디바이스의 모델링 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.