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반도체형 가스 센서 및 그의 제조방법

  • 기술번호 : KST2015145371
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 반도체형 가스 센서는 적외선 발광부, 적외선 발광부의 온도를 측정하기 위한 적외선 온도 측정부 및 적외선 발광부로부터 방출된 적외선을 수광하기 위한 적어도 하나 이상의 적외선 수광부를 포함하되, 적외선 온도 측정부 및 적외선 수광부의 감지 물질은 산화 바나듐으로 서로 동일하며, 상기 적외선 수광부의 감지 물질 상부에 적외선 흡수층이 형성되는 것을 특징으로 한다. 또한, 반도체형 가스 센서의 제조공정은 저 스트레스 실리콘 질화막 또는 ONO막이 형성된 기판상에 적외선 발광부를 형성하는 단계, 상기 적외선 발광부가 형성된 기판상에 적외선 온도 측정부 및 적외선 수광부의 감지 물질인 산화 바나듐을 증착한 후, 패터닝하는 단계, 기판의 전면에 보호층을 형성하는 단계, 보호층을 식각하여 적외선 발광부, 적외선 온도 측정부 및 적외선 수광부에 각각 콘택홀을 형성하는 단계, 기판의 전면에 전극 물질을 증착한 후 패터닝하여 전극 배선 및 전극 패드를 형성하는 단계, 적외선 수광부에 절연층 및 적외선 흡수층을 형성하는 단계, 적외선 발광부, 적외선 온도 측정부 및 적외선 수광부가 형성된 영역의 기판 후면을 식각하여 적어도 하나 이상의 멤브레인막을 형성하는 단계를 포함한다. 가스 센서, 산화 바나듐, 적외선 발광부, 적외선 수광부
Int. CL G01N 21/00 (2014.01) G01N 21/35 (2014.01) G01N 21/3504 (2014.01)
CPC G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01)
출원번호/일자 1020070068357 (2007.07.06)
출원인 전자부품연구원, 경기도
등록번호/일자 10-0916929-0000 (2009.09.04)
공개번호/일자 10-2009-0004274 (2009.01.12) 문서열기
공고번호/일자 (20090915) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.07.06)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 경기도 대한민국 경기도 수원시 팔달구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 홍성민 대한민국 경기 용인시 수지구
2 황학인 대한민국 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서천석 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로**길 **, *층 (서초동, 서초다우빌딩)(특허법인세하)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 경기도 대한민국 경기도 수원시 팔달구
2 전자부품연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.07.06 수리 (Accepted) 1-1-2007-0496137-34
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.06.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.07.15 수리 (Accepted) 9-1-2008-0043145-96
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.07.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0402071-75
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2008.09.30 수리 (Accepted) 1-1-2008-0687539-44
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.10.28 수리 (Accepted) 1-1-2008-0745878-56
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.10.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0745870-92
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.11.06 수리 (Accepted) 4-1-2008-5176113-43
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2009.02.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0059236-99
10 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2009.04.13 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2009-0017449-82
11 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2009.05.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0192389-07
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.05.20 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2009-0302430-38
13 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.05.20 수리 (Accepted) 1-1-2009-0302453-88
14 등록결정서
Decision to grant
2009.06.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0241457-42
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
적외선 발광부; 상기 적외선 발광부의 온도를 측정하기 위한 적외선 온도 측정부; 및 상기 적외선 발광부로부터 방출된 적외선을 수광하기 위한 적어도 하나 이상의 적외선 수광부를 포함하되, 상기 적외선 발광부, 적외선 온도 측정부 및 적외선 수광부는 동일 평면의 멤브레인막 상에 형성되고, 상기 적외선 온도 측정부 및 상기 적외선 수광부의 감지 물질은 산화바나듐으로 서로 동일하며, 상기 적외선 수광부의 감지 물질 상부에 적외선 흡수층이 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체형 가스 센서
2 2
적외선 발광부; 상기 적외선 발광부의 온도를 측정하기 위한 적외선 온도 측정부; 상기 적외선 발광부로부터 방출된 적외선을 수광하기 위한 적어도 하나 이상의 적외선 수광부; 및 전체의 온도를 측정하기 위한 센서 온도 측정부를 포함하되, 상기 적외선 발광부, 적외선 온도 측정부, 적외선 수광부 및 센서 온도 측정부는 동일 평면의 멤브레인막 상에 형성되고, 상기 적외선 온도 측정부, 상기 적외선 수광부 및 상기 센서 온도 측정부의 감지물질은 산화 바나듐으로 서로 동일하며, 상기 적외선 수광부의 감지 물질 상부에 적외선 흡수층이 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 가스 센서
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삭제
4 4
삭제
5 5
삭제
6 6
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 멤브레인막은 저 스트레스 실리콘 질화막 또는 ONO막 중 어느 하나인 반도체형 가스 센서
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 적외선 발광부와 상기 적외선 온도 측정부 사이의 간격은 0㎛ 초과 100 ㎛ 이하인 반도체형 가스 센서
8 8
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 적외선 온도 측정부, 상기 적외선 수광부 및 상기 센서 온도 측정부의 전극은 금(Au), 백금(Pt), 알루미늄(Al), 몰리브덴(Mo), 은(Ag), 티탄나이트라이드(TiN), 텅스텐(W), 루테늄(Ru), 이리듐(Ir) 및 구리(Cu) 중 적어도 어느 하나로 형성된 반도체형 가스 센서
9 9
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 적외선 발광부의 발광 물질은 백금(Pt) 또는 금(Au) 중 어느 하나로 형성된 반도체형 가스 센서
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 적외선 발광부의 전극은 금(Au), 백금(Pt), 알루미늄(Al), 몰리브덴(Mo), 은(Ag), 티탄나이트라이드(TiN), 텅스텐(W), 루테늄(Ru), 이리듐(Ir) 및 구리(Cu) 중 적어도 어느 하나로 형성된 반도체형 가스 센서
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12 12
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13 13
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지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.