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비동기식 ＯＦＤＭ 시스템의 샘플링 주파수 옵셋 추정방법

  • 기술번호 : KST2015146797
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 비동기식 OFDM 시스템의 샘플링 주파수 옵셋 추정방법에 관한 것이다.본 발명은 송신단의 주파수 영역에서 특정 부채널에만 데이터가 실린 하나 또는 두개의 OFDM 훈련심볼을 전송한 후 수신단의 시간영역에서 샘플링된 서로 다른 두 샘플 사이의 위상차를 구하여 샘플링 주파수 옵셋을 추정하도록 함을 특징으로 한다.또한, 본 발명은 두 OFDM 훈련심볼을 사용하여 반송파 주파수 옵셋과 샘플링 주파수 옵셋을 동시에 추정하도록 함을 특징으로 한다.본 발명은 시간영역에서 처리되기 때문에 샘플링 주파수 옵셋 추정시간 지연을 배제하고, 추정계산과정을 간단화하며, 인접 채널간 간섭의 영향을 받지 않도록 함으로써, 주파수 옵셋의 추정성능을 크게 향상시키게 된다.
Int. CL H04J 11/00 (2006.01)
CPC H04L 27/2657(2013.01) H04L 27/2657(2013.01) H04L 27/2657(2013.01) H04L 27/2657(2013.01)
출원번호/일자 1019990015910 (1999.05.03)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-0330191-0000 (2002.03.13)
공개번호/일자 10-2000-0072945 (2000.12.05) 문서열기
공고번호/일자 (20020328) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1999.05.03)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 백종호 대한민국 경기도평택시
2 유영환 대한민국 서울특별시강북구
3 송형규 대한민국 경기도평택시
4 이철동 대한민국 서울특별시강남구
5 조용수 대한민국 서울특별시서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 황이남 대한민국 서울시 송파구 법원로 ***, ****호 (문정동, 대명벨리온지식산업센터)(아시아나국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원서
Patent Application		 1999.05.03 수리 (Accepted) 1-1-1999-0042236-96
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2001.03.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2001.04.10 수리 (Accepted) 9-1-2001-0005230-36
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2001.05.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2001-0145253-18
5 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent		 2001.07.28 수리 (Accepted) 1-1-2001-5213136-06
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period		 2001.07.28 수리 (Accepted) 1-1-2001-0189074-15
7 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.		 2001.08.30 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2001-0221909-86
8 의견서
Written Opinion		 2001.08.30 수리 (Accepted) 1-1-2001-0221908-30
9 등록결정서
Decision to grant		 2002.01.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0009374-12
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2005.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2005-5036534-08
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

샘플링주파수 옵셋만이 존재하는 경우에 비동기식 OFDM 시스템의 샘플링 주파수옵셋을 추정하는 방법에 있어서,

송신단의 주파수 영역에서 특정 부채널만을 통해 데이터가 실린 하나 또는 두 개의 OFDM 훈련심볼을 수신단에 전송하는 단계와,

수신단에 전송된 상기 심볼을 기저대역신호로 변환하는 단계와,

상기 변환된 기저대역신호로부터 시간영역에서 샘플링을 수행하는 단계와,

상기 샘플링된 서로 다른 두 샘플사이의 위상차를 구하여 샘플링 주파수옵셋을 추정하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 비동기식 OFDM 시스템의 샘플링 주파수 옵셋추정방법

2 2

제 1항에 있어서, 샘플링 위상 옵셋은 다음의 식을 가짐을 특징으로 하는 비동기식 OFDM 시스템의 샘플링 주파수 옵셋 추정방법

3 3

제 1항에 있어서, 샘플링 주파수 옵셋은 다음의 식을 가짐을 특징으로 하는 비동기식 OFDM 시스템의 샘플링 주파수 옵셋 추정방법

4 4

제 2항 또는 제 3항에 있어서, 위상의 불연속점은 2Kν/N=2I+1' {I=0,1, 5

반송파 주파수옵셋과 샘플링주파수 옵셋이 함께 존재하는 경우에 비동기식 OFDM 시스템의 주파수옵셋을 추정하는 방법에 있어서,

송신단의 주파수 영역에서 특정 부채널을 이용해 두 개의 OFDM 훈련심볼을 수신단에 전송하는 단계와,

수신단에 전송된 상기 심볼들을 기저대역신호로 변환하는 단계와,

상기 변환된 기저대역신호로부터 시간영역에서 샘플링을 수행하는 단계와,

상기 샘플링된 서로 다른 두 샘플로부터 주파수 옵셋 및 샘플링 옵셋을 변수로 포함하는 위상관계식을 구하고, 상기 얻어진 두 개의 위상관계식으로부터 샘플링 및 주파수 옵셋을 동시에 추정하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 비동기식 OFDM 시스템의 샘플링 주파수 옵셋추정방법

6 6

제 5항에 있어서, 첫번째 OFDM 심볼에서 K=k1 ∈｛0,1,Λ,N-1｝번째 부채널에만 데이터를 할당하고 나머지 부채널에 0을 삽입하여 훈련심볼을 구성한 후 다음의 식(S1)을 구하고, 두번째 심볼에서는 K=k2 ∈ {{1,Λ,N-1}-{k1}} 번째 부채널에만 데이터를 할당하여 훈련심볼을 구성한 후 다음의 식(S2)을 구함을 특징으로 하는 비동기식 OFDM 시스템의 샘플링 주파수 옵셋 추정방법

7 7

제 5항 또는 제 6항에 있어서, 반송파 주파수 옵셋과 샘플링 주파수 옵셋은 다음식을 가짐을 특징으로 하는 비동기식 OFDM 시스템의 샘플링 주파수 옵셋 추정방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.