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모델링 된 로직 셀의 전류 파형 분석 방법

  • 기술번호 : KST2015146803
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 시스템반도체에 대하여 모델링 된 로직 셀의 전류 파형을 분석하는 방법으로서, 이벤트 검출 모듈이 로직 셀의 출력 노드의 전압을 측정하는 단계, 상기 이벤트 검출 모듈이 측정된 상기 전압에 기초하여 이벤트의 발생을 감지하는 단계, 전류 파형 분석 모듈이 상기 이벤트가 발생 된 제1시점과 종료된 제2시점, 및 상기 이벤트 발생시 상기 출력 노드의 슬루 레이트에 기초하여, 상기 로직 셀의 전류 파형을 구하는 단계를 포함한다.
Int. CL G06F 17/50 (2006.01)
CPC G06F 30/00(2013.01)
출원번호/일자 1020130167264 (2013.12.30)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-1536205-0000 (2015.07.07)
공개번호/일자 10-2015-0078143 (2015.07.08) 문서열기
공고번호/일자 (20150713) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 보정승인간주
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.12.30)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이성철 대한민국 경기 용인시 기흥구
2 이윤식 대한민국 경기 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유한) 다래 대한민국 서울 강남구 테헤란로 ***, **층(역삼동, 한독타워)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.12.30 수리 (Accepted) 1-1-2013-1205979-34
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.10.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.11.12 수리 (Accepted) 9-1-2014-0089348-10
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.12.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0885482-73
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.02.23 수리 (Accepted) 1-1-2015-0173147-25
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.02.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0173146-80
7 등록결정서
Decision to grant
2015.07.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0452702-24
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
이벤트 검출 모듈이 로직 셀의 출력 노드의 전압변화를 측정하는 단계와;상기 이벤트 검출 모듈이 측정되는 상기 전압변화에 기초하여 이벤트의 발생시점을 감지하는 단계; 및전류 파형 분석 모듈이 상기 이벤트가 발생된 제1시점과 종료된 제2시점 간의 게이트 전류(Igate)를 계산하는 단계와;상기 전류 파형 분석 모듈이 내부 회로 지연 연산기를 사용하여 출력의 슬루 레이트를 계산한 후 상기 제1시점 및 상기 제2시점의 시간 정보에 기초하여 로드 전류(Iload)가 흐르기 시작하는 제3시점과 상기 로드 전류(Iload)의 흐름이 멈추는 제4시점을 구하여 로드 전류(Iload)를 계산하는 단계와;계산된 상기 게이트 전류와 로드 전류(Iload)를 합하여 상기 로직 셀의 전류 파형을 구하는 단계를 포함하는 모델링 된 로직 셀의 전류 파형 분석 방법
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제1항에 있어서, 상기 슬루 레이트(slew rate)는,지연 모델 연산에 근거하여 계산되는 것인 모델링 된 로직 셀의 전류 파형 분석 방법
5 5
삭제
6 6
제1항에 있어서, 상기 게이트 전류는,상기 제1시점과 제2시점 사이의 이벤트 발생 구간의 평균 전류 값인 모델링 된 로직 셀의 전류 파형 분석 방법
7 7
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통산자원부 한국반도체연구조합 산업원천기술개발사업 Configurable 디바이스 및 회로구현 기술