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서로 이격된 투명판 사이로 입자 상태의 곡물 시료가 채워지는 시료셀;
발광램프와, 상기 발광램프에 정전압을 공급하는 정전압발생기와, 연산장치에 기억된 기준 광 스펙트럼과 측정 전에 상기 시료셀을 투과한 상기 광 스펙트럼이 일치하도록 상기 발광램프의 광강도를 캘리브레이션하는 전압조절기를 구비하는, 가시광 및 근적외선에 걸치는 소정 파장 대역의 광을 상기 시료셀에 조사하는 광원부;
상기 시료셀을 진동시켜 상기 곡물 시료의 충진 밀도를 조절하는 진동기;
상기 시료셀에 채워진 상기 곡물 시료의 온도를 측정하는 온도센서;
상기 시료셀을 투과한 광을 일정한 파장 간격별로 분광하는 분광기;
상기 분광된 광을 전기적 신호로 변환하는 수광기;
상기 전기적 신호를 광 스펙트럼으로 변환하고, 미리 기억된 성분예측모델과 상기 광 스펙트럼을 비교함으로써 상기 곡물 시료의 성분함량을 연산하는 연산장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정장치
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제1항에 있어서,
상기 가시광 및 근적외선에 걸치는 소정 파장 대역의 광은 광학 필터를 거치지 않고 상기 시료셀을 투과하며, 상기 파장 대역에 속하는 모든 파장의 광 스펙트럼이 한 번에 상기 연산장치에 입수됨으로써, 상기 성분함량이 복수로 동시에 측정되는 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정장치
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제1항에 있어서,
상기 광의 파장 대역은 400 ~ 1100 nm 인 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정장치
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삭제
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5
삭제
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6
삭제
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7
제1항에 있어서,
상기 광원부에서 조사된 광을 상기 시료셀에 집광시키는 제1집광렌즈;
상기 시료셀을 투과한 광을 상기 분광기에 집광시키는 제2집광렌즈를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정장치
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8
제1항에 있어서,
상기 연산장치는, 상기 수광기에서 발생된 전기적 신호를 디지털 신호로 변환하는 A/D 변환기와, 상기 A/D 변환기로부터 발생한 디지털 신호를 받아 상기 광 스펙트럼으로 변환시키고 이를 상기 성분예측모델과 비교 연산하여 상기 곡물 시료의 성분 함량을 측정하며 상기 측정 결과를 표시하는 컴퓨터 시스템을 구비하는 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정장치
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9
제1항에 있어서,
상기 연산장치는, 상기 곡물 시료에 따라 구분되는 복수의 성분예측모델을 기억하며, 상기 곡물 시료에 맞는 성분예측모델을 선택하는 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정장치
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10
제1항에 있어서,
상기 연산장치는, 상기 곡물 시료의 성분함량을 화학적으로 분석한 측정값을 입력하면 상기 성분예측모델을 수정하는 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정장치
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11
제1항에 있어서,
상기 연산장치는, 상기 곡물 시료의 광 스펙트럼을 데이터로 저장하며 필요시 상기 저장된 데이터를 다시 불러낼 수 있는 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정장치
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제1항의 곡물 성분함량 측정장치에 의하여 상기 곡물 시료의 광 스펙트럼을 추출하는 단계;
상기 곡물 시료의 화학적 분석에 의하여 성분함량을 측정하는 단계;
상기 화학적 분석에 의한 성분함량과 상기 광 스펙트럼을 비교하여 상기 곡물 시료에 대한 성분예측모델을 생성하고 이를 기억하는 단계;
상기 시료셀에 임의의 곡물 시료를 채우고 이에 대한 광 스펙트럼을 상기 성분예측모델과 비교함으로써 복수의 성분함량을 동시에 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정방법
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13
제12항에 있어서,
상기 광의 파장 대역은 400 ~ 1100 nm 인 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정방법
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제12항에 있어서,
상기 곡물 시료가 상기 성분예측모델의 조건범위를 벗어나는 경우, 상기 곡물 시료의 화학적 분석에 의한 성분함량 값을 입력함으로써 상기 성분예측모델을 수정하는 단계를 상기 성분예측모델을 생성하는 단계 이후에 더 포함하는 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정방법
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17
삭제
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18
제12항에 있어서,
상기 연산장치는 상기 곡물 시료에 따라 구분되는 복수의 성분예측모델을 기억하며, 상기 곡물 시료의 종류가 입력되면 상기 곡물 시료에 맞는 성분예측모델을 선택하는 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정방법
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19
제12항에 있어서,
상기 성분예측모델의 생성시, 상기 광 스펙트럼의 1차 미분 스펙트럼, 상기 광 스펙트럼의 2차 미분 스펙트럼을 이용하여 상기 광 스펙트럼을 전처리하는 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정방법
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20
제12항에 있어서,
상기 성분예측모델은 부분최소자승법에 의하여 생성하며, 상기 광 스펙트럼의 80%를 상기 성분예측모델의 교정용 스펙트럼으로, 20%를 상기 성분예측모델의 검증용 스펙트럼으로 분류하고, 상기 교정용 스펙트럼은 상기 성분예측모델의 생성시 반복 사용하며, 상기 검증용 스펙트럼은 상기 성분예측모델의 평가시 사용하는 것을 특징으로 하는 곡물 성분함량 측정방법
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