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전류 컨베이어 회로

  • 기술번호 : KST2015182280
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 전류 컨베이어 회로는 검출 감도를 높이기 위해 낮은 전류의 바이어스를 사용하는 경우, 회로 내의 특정 트랜지스터의 소스 단에 저항을 설계함으로써, 회로 내의 일부 트랜지스터가 갖는 트랜스컨덕턴스의 비선형적인 특성으로 인한 입력 임피던스의 비선형 특성을 제거한다. 전류 미러, 전류 컨베이어
Int. CL G05F 3/26 (2006.01) G05F 3/02 (2006.01)
CPC G05F 3/24(2013.01) G05F 3/24(2013.01)
출원번호/일자 1020090021588 (2009.03.13)
출원인 중앙대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1053254-0000 (2011.07.26)
공개번호/일자 10-2010-0103133 (2010.09.27) 문서열기
공고번호/일자 (20110801) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.03.13)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 중앙대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 동작구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최영완 대한민국 서울특별시 송파구
2 정인일 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인지명 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로**** 차우빌딩*층

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 중앙대학교 산학협력단 대한민국 서울 동작구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.03.13 수리 (Accepted) 1-1-2009-0153571-16
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.06.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.07.16 수리 (Accepted) 9-1-2010-0045385-31
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.12.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0590756-09
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.02.11 수리 (Accepted) 1-1-2011-0100071-16
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.02.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0100070-71
7 등록결정서
Decision to grant
2011.05.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0298095-90
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.07.20 수리 (Accepted) 4-1-2011-5148879-89
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.07.20 수리 (Accepted) 4-1-2011-5148883-62
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000494-54
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.10.20 수리 (Accepted) 4-1-2014-5123944-33
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.04 수리 (Accepted) 4-1-2018-5125629-51
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.29 수리 (Accepted) 4-1-2019-5151122-15
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.01 수리 (Accepted) 4-1-2019-5153932-16
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 노드를 통해 연결되는 제1 P형 전류 미러와 제1 N형 전류 미러를 포함하고, 상기 제1 노드를 통해 제1 입력 전류를 입력받는 제1 전류 미러; 제2 노드를 포함하는 입력부; 및 상기 제2 노드를 통해 연결되는 제2 P형 전류 미러와 제2 N형 전류 미러를 포함하여 상기 제1 전류 미러와 크로스커플되고, 상기 제2 노드를 통해 입력되는 제2 입력 전류를 상기 제1 입력 전류의 소정 배율만큼 증폭하는 제2 전류 미러 를 포함하여 상기 제1 입력 전류를 검출하고, 외부에서 상기 제2 노드 쪽으로 바라본 입력 임피던스는 상기 제2 전류 미러에 구비된 트랜지스터들의 소스에 구비된 부하에 의해 일정하게 유지되는 트랜스컨덕턴스를 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 컨베이어 회로
2 2
제1항에 있어서, 상기 부하는, 상기 제2 N형 전류 미러에 구비된 트랜지스터의 소스에 구비된 제1 저항; 및 상기 제2 P형 전류 미러에 구비된 트랜지스터의 소스에 구비된 제2 저항 을 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 컨베이어 회로
3 3
제2항에 있어서, 상기 제2 N형 전류 미러는, 상기 입력부의 일단과 연결되는 제1 드레인, 상기 제1 드레인과 연결되는 제1 게이트 및 접지전압과 연결되는 제1 소스로 이루어진 제1 NMOS 트랜지스터; 및 상기 제1 게이트와 연결되는 제2 게이트, 상기 제1 P형 전류 미러와 연결되는 제2 드레인 및 상기 제1 저항을 통해 상기 접지전압과 연결되는 제2 소스로 이루어진 제2 NMOS 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 컨베이어 회로
4 4
제2항에 있어서, 상기 제2 P형 전류 미러는, 상기 입력부의 타단과 연결되는 제3 드레인, 상기 제3 드레인과 연결되는 제3 게이트 및 제3 소스로 이루어진 제3 PMOS 트랜지스터; 및 상기 제3 게이트와 연결되는 제4 게이트, 상기 제1 N형 전류 미러와 연결되는 제4 드레인 및 상기 제2 저항을 통해 전원전압과 연결되는 제4 소스로 이루어진 것을 특징으로 하는 제4 PMOS 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 컨베이어 회로
5 5
제1 노드를 통해 제1 입력 전류를 입력받는 제1 전류 미러; 및 상기 제1 전류 미러와 크로스커플되어, 제2 노드를 통해 입력되는 제2 입력 전류를 상기 제1 입력 전류의 소정 배율만큼 증폭하여 상기 제1 입력 전류를 검출하는 제2 전류 미러를 포함하고, 상기 제2 전류 미러는 PMOS 및 NMOS 트랜지스터들로 이루어진 다수의 MOS 트랜지스터를 포함하고, 상기 다수의 MOS 트랜지스터 중 상기 제2 노드에 연결된 MOS 트랜지스터의 트랜스컨덕턴스 성분의 비선형 특성을 제거하기 위하여 상기 다수의 MOS 트랜지스터 중 나머지 MOS 트랜지스터들의 소스에 연결된 부하를 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 컨베이어 회로
6 6
제5항에 있어서, 외부에서 상기 제2 노드 안쪽으로 바라본 입력 임피던스는 상기 비선형 특성이 제거된 상기 제2 노드에 연결된 MOS 트랜지스터의 트랜스컨덕턴스 성분을 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 컨베이어 회로
7 7
제6항에 있어서, 외부에서 상기 제2 노드 안쪽으로 바라본 입력 임피던스는 상기 나머지 MOS 트랜지스터들의 소스에 연결된 부하에 의해 일정한 상수로 유지되는 것을 특징으로 하는 전류 컨베이어 회로
8 8
제5항에 있어서, 상기 부하는 제1 및 제2 저항을 포함하고, 상기 제2 전류 미러는, 상기 제2 노드에 연결된 제1 NMOS 트랜지스터와, 상기 제2 NMOS 트랜지스터와 연결되어 N형 전류 미러를 구성하는 제2 NMOS 트랜지스터 및 상기 제2 NMOS 트랜지스터의 소스와 접지전압 사이에 연결되는 상기 제1 저항을 포함하는 N형 전류 미러; 및 상기 제2 노드에 연결된 제3 PMOS 트랜지스터와, 상기 제3 PMOS 트랜지스터와 연결되어 P형 전류 미러를 구성하는 제4 PMOS 트랜지스터 및 상기 제4 PMOS 트랜지스터의 소스와 전원전압 사이에 연결되는 상기 제2 저항을 포함하는 P형 전류 미러 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 컨베이어 회로
9 9
접지전압과 마이크로 암페어 단위의 제1 입력 전류를 입력받는 제1 노드 사이에 연결된 제1 N형 전류 미러와, 전원전압과 상기 제1 노드 사이에 연결된 제1 P형 전류 미러를 포함하는 제1 전류 미러; 및 상기 제1 P형 전류 미러와 연결되고, 상기 접지전압과 상기 제1 입력 전류가 소정 배율만큼 증폭된 제2 입력 전류를 입력받는 제2 노드 사이에 연결된 제2 N형 전류 미러와, 상기 제1 N형 전류 미러와 연결되고, 상기 전원 전압과 상기 제2 노드 사이에 연결된 제2 P형 전류 미러를 포함하는 제2 전류 미러 를 포함하여 상기 소정 배율만큼 증폭된 상기 제2 입력 전류를 이용하여 상기 제1 입력 전류를 검출하고, 상기 제2 N형 전류 미러는, 상기 제2 노드와 연결되는 제1 NMOS 트랜지스터; 상기 제1 NMOS 트랜지스터와 연결되어 N형 전류 미러를 구성하는 제2 NMOS 트랜지스터 및 상기 제2 NMOS 트랜지스터의 소스와 상기 접지전압 사이에 연결되는 제1 저항을 포함하고, 상기 제1 저항은 상기 제1 NMOS 트랜지스터의 트랜스컨덕턴스 성분을 일정한 상수 값으로 유지시키는 것을 특징으로 하는 전류 컨베이어 회로
10 10
제9항에 있어서, 상기 제2 P형 전류 미러는, 상기 제2 노드와 연결되는 제3 PMOS 트랜지스터; 상기 제3 PMOS 트랜지스터와 연결되어 P형 전류 미러를 구성하는 제4 PMOS 트랜지스터; 및 상기 제4 PMOS 트랜지스터의 소스와 상기 전원 전압 사이에 연결되는 제2 저항을 포함하는 것을 특징으로 하는 전류 컨베이어 회로
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.