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세슘이온을이용한기질표면의화학분자종분석방법및분석장치

  • 기술번호 : KST2015187171
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 세슘 이온을 이용한 기질 표면 화학분자종의 분석방법 및 분석장치를 제공한다. 상기 분석방법은 2∼100 eV의 Cs+ 펄스 이온 빔과 기질 금속 표면간의 충돌 반응을 이용하고, 이러한 충돌반응으로부터 생성된 이온의 질량을 비행시간법에 따라 분석함으로써 기질 표면에 존재하는 화학분자종을 동정하는 데 그 특징이 있다. 본 발명에 따르면, 기질 표면에 존재하는 화학분자종에 대한 정확한 동정이 가능하고, 분석하고자 하는 기질을 파괴하지 않고, 기질 표면의 오염도가 감소되면서 측정감도가 향상된다.
Int. CL G01N 21/00 (2006.01)
CPC H01J 49/40(2013.01) H01J 49/40(2013.01) H01J 49/40(2013.01)
출원번호/일자 1019980053463 (1998.12.07)
출원인 학교법인 포항공과대학교
등록번호/일자 10-0303172-0000 (2001.07.09)
공개번호/일자 10-2000-0038450 (2000.07.05) 문서열기
공고번호/일자 (20011130) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1998.12.07)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 학교법인 포항공과대학교 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강헌 대한민국 경상북도 포항시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이영필 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)
2 권석흠 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)(유미특허법인)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 학교법인 포항공과대학교 대한민국 경북 포항시 남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 1998.12.07 수리 (Accepted) 1-1-1998-0453887-82
2 출원심사청구서
Request for Examination		 1998.12.07 수리 (Accepted) 1-1-1998-0420835-56
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1998.12.07 수리 (Accepted) 1-1-1998-0420834-11
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.01.14 수리 (Accepted) 4-1-1999-0005580-12
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.09.30 수리 (Accepted) 4-1-1999-0122834-81
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2000.01.31 수리 (Accepted) 4-1-2000-0012365-15
7 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent		 2000.06.26 수리 (Accepted) 1-1-2000-5188294-89
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2000.11.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0301653-59
9 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 2001.01.19 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2001-5017360-74
10 의견서
Written Opinion		 2001.01.19 수리 (Accepted) 1-1-2001-5017352-19
11 등록사정서
Decision to grant		 2001.06.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2001-0167607-93
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.07.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5149263-30
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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2∼100 eV의 에너지를 갖는 Cs+ 펄스 이온 빔을 기질(substrate) 표면에 충돌시켜 Cs+ 이온과 기질 표면에 존재하는 화학분자종(X)의 결합에 의해 CsX+ 집합체 이온을 형성한 다음, 상기 CsX+ 집합체 이온의 질량을 분석함으로써 기질 표면에 존재하는 화학분자종을 동정(identification)하는 것을 특징으로 하는 세슘 이온을 이용한 기질 표면 화학분자종의 분석방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.