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패드 테스트 신호에 따라 테스트 출력 포트의 출력 값을 입력 패드에 인가하는 경로를 포함하는 입력 래퍼셀에 있어서,상기 패드 테스트 신호에 의해 제 2 플립프롭의 출력 값을 상기 경로를 통해 상기 입력 패드에 인가하고, 상기 입력 패드에 인가된 제 2 플립프롭의 출력 값을 제 1 플립프롭에 저장하며,상기 제 1 플립프롭 및 상기 제 2 플립프롭은 래퍼 클락에 의해 동기화하는 것을 특징으로 하는 입력 래퍼셀
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제 2 항에 있어서,상기 테스트 출력 포트의 테스트 결과 패턴을 테스트 입력 포트에 인가한 테스트 패턴과 비교한 결과를 이용하여 상기 입력 패드의 고장 여부를 판단하고,상기 테스트 결과 패턴은,시프트 신호를 인가하고, 상기 테스트 입력 포트에 상기 테스트 패턴을 인가하고, 테스트 클락으로 동작하던 상기 래퍼 클락에 두 번의 시스템 클락을 인가함으로써 상기 테스트 출력 포트에서 출력되는 패턴인 것을 특징으로 하는 입력 래퍼셀
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제 3 항에 있어서,상기 인가된 테스트 패턴과 상기 테스트 결과 패턴이 상이한 경우, 상기 입력 패드는 고장인 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 입력 래퍼셀
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제 2 항에 있어서,시프트 신호가 인가되면 테스트 입력 포트에 인가된 값을 상기 제 1 플립프롭에 인가하고, 상기 제 1 플립프롭의 출력 값을 상기 제 2 플립프롭에 인가하며, 상기 제 2 플립프롭의 출력 값을 상기 테스트 출력 포트에 연결하여, 상기 테스트 입력 포트에서 상기 테스트 출력 포트까지 시프트 경로를 활성화하는 것을 특징으로 하는 입력 래퍼셀
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제 2 항에 있어서,캡쳐 신호가 인가되면, 정상 입력 포트에 인가된 값을 상기 제 2 플립프롭에 인가하여 저장하는 것을 특징으로 하는 입력 래퍼셀
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제 2 항에 있어서,트랜스퍼 신호가 인가되면, 상기 제 1 플립프롭 출력 값 및 상기 제 2 플립프롭의 출력 값을 각각 서로에 인가하여, 상기 제 1 플립프롭 및 상기 제 2 플립프롭의 값을 교환하거나 상기 제 2 플립프롭이 정상 입력 포트에 인가된 값을 저장하는 것을 특징으로 하는 입력 래퍼셀
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패드 테스트 신호에 의해 출력 패드의 값을 제 1 플립프롭에 저장할 수 있는 경로를 포함하는 출력 래퍼셀에 있어서, 상기 패드 테스트 신호에 의해 상기 출력 패드에 인가되는 제 2 플립프롭의 출력 값을 상기 경로를 통해 상기 제 1 플립프롭에 저장하며,상기 제 1 플립프롭 및 상기 제 2 플립프롭은 래퍼 클락에 의해 동기화하는 것을 특징으로 하는 출력 래퍼셀
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제 9 항에 있어서,테스트 출력 포트의 테스트 결과 패턴을 테스트 입력 포트에 인가한 테스트 패턴과 비교한 결과를 이용하여 상기 출력 패드의 고장 여부를 판단하고,상기 테스트 결과 패턴은,시프트 신호를 인가하고, 상기 테스트 입력 포트에 상기 테스트 패턴을 인가하고, 테스트 클락으로 동작하던 상기 래퍼 클락에 두 번의 시스템 클락을 인가함으로써 상기 테스트 출력 포트에서 출력되는 패턴이고,상기 인가된 테스트 패턴과 상기 테스트 결과 패턴이 상이한 경우, 상기 출력 패드는 고장인 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 출력 래퍼셀
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테스트 출력 포트의 테스트 결과 패턴을 테스트 입력 포트에 인가한 테스트 패턴과 비교한 결과를 이용하여 패드의 고장 여부를 판단하고,상기 테스트 결과 패턴은,시프트 신호를 인가하고, 상기 테스트 입력 포트에 상기 테스트 패턴을 인가하고, 테스트 클락으로 동작하던 래퍼 클락에 두 번의 시스템 클락을 인가함으로써 상기 테스트 출력 포트에서 출력되는 패턴이고,상기 인가된 테스트 패턴과 상기 테스트 결과 패턴이 상이한 경우, 상기 패드는 고장인 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 양방향 래퍼셀
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시프트 신호를 인가하고, 테스트 입력 포트에 테스트 패턴을 인가하고, 테스트 클락으로 동작하던 래퍼 클락에 두 번의 시스템 클락을 인가하는 단계;테스트 출력 포트의 테스트 결과 패턴을 상기 테스트 입력 포트에 인가한 테스트 패턴과 비교하는 단계; 및상기 비교한 결과를 이용하여 패드의 고장 여부를 판단하는 단계를 포함하고,상기 인가된 테스트 패턴과 상기 테스트 결과 패턴이 상이한 경우, 상기 패드는 고장인 것으로 판단하고,상기 테스트 패턴이 인가되는 래퍼셀이 입력 래퍼셀인 경우, 패드 테스트 신호에 따라 상기 테스트 출력 포트의 출력 값을 입력 패드에 인가하는 경로를 포함하고, 상기 테스트 패턴이 인가되는 래퍼셀이 출력 래퍼셀인 경우, 패드 테스트 신호에 의해 출력 패드의 값을 저장할 수 있는 경로를 포함하는 것을 특징으로 하는 입출력 패드 지연 고장 테스트 방법
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