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인쇄회로기판의 상호연결선 테스트를 위한 테스트벡터생성방법

  • 기술번호 : KST2015209732
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 인쇄회로기판의 상호연결선을 테스트하는 경계주사 기법으로서, n개의 네트를 다수의 그룹으로 분할하고 테스트벡터를 그룹별 워킹 시퀀스(group walking sequence), 네트별 워킹 시퀀스(net walking sequence), 네트별 이동워킹 시퀀스(shifted net walking sequence)의 세 부분의 워킹원 시퀀스로 나누어, 종래의 워킹원 시퀀스와 마찬가지로 aliasing이나 confounding의 고장증후 없이 고장검출 및 진단이 가능하면서도, 상대적으로 테스트벡터의 길이가 비약적으로 줄어들 수 있는 테스트벡터의 생성방법에 관한 발명임. 인쇄회로기판, 경계주사, 테스트벡터, 시퀀스, 워킹원
Int. CL G01R 31/28 (2006.01)
CPC G01R 31/31855(2013.01) G01R 31/31855(2013.01)
출원번호/일자 1020030023623 (2003.04.15)
출원인 학교법인연세대학교
등록번호/일자 10-0480188-0000 (2005.03.23)
공개번호/일자 10-2004-0089813 (2004.10.22) 문서열기
공고번호/일자 (20050406) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.04.15)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 학교법인연세대학교 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성호 대한민국 서울특별시 서대문구
2 김용준 대한민국 서울특별시 서대문구
3 송동섭 대한민국 서울특별시 서대문구
4 신용승 대한민국 서울특별시 서대문구
5 김기철 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박승민 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로**** 차우빌딩*층(특허법인지명)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2003.04.15 수리 (Accepted) 1-1-2003-0132379-91
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2003.07.07 수리 (Accepted) 4-1-2003-5042090-44
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2003.07.07 수리 (Accepted) 4-1-2003-5042058-93
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2004.09.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2004.10.18 수리 (Accepted) 9-1-2004-0064223-47
6 등록결정서
Decision to grant		 2004.12.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2004-0542499-03
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2005.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2005-5014107-11
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2005.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2005-5014102-83
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2005.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2005-5014097-31
10 출원인변경신고서
Applicant change Notification		 2005.02.17 수리 (Accepted) 1-1-2005-5020656-03
11 보정요구서
Request for Amendment		 2005.03.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2005-0013335-42
12 서지사항보정서
Amendment to Bibliographic items		 2005.03.22 수리 (Accepted) 1-1-2005-0149954-01
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.11.05 수리 (Accepted) 4-1-2010-5207014-07
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.11.29 수리 (Accepted) 4-1-2010-5224078-51
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번호 청구항
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n개의 네트 수를 갖는 인쇄회로기판의 상호연결선을 경계주사 방식으로 테스트하기 위한 테스트벡터를 생성하는 방법으로서, 전체 네트를 개의 그룹으로 분할하는 단계와; 테스트벡터의 길이를 경계주사 테스트용 셀의 개수에 따라 그룹별 워킹 시퀀스(S g ), 네트별 워킹 시컨스(S n ), 네트별 이동워킹 시퀀스(S s )로 나누는 단계로 구성되되, 상기 그룹별 워킹 시퀀스 S g 는 하나의 그룹내부에 동일한 순서의 비트에 '1' 값을 인가하고 이를 제외한 나머지 비트에는 모두 '0' 값을 인가하는 단계와; 그룹의 순서에 따라 '1' 비트가 입력되는 비트의 순서를 한 비트씩 이동시키는 단계로 구성되고, 상기 네트별 워킹 시퀀스 S n 은 모든 그룹에 동일하게 워킹원 시퀀스를 입력, 즉, 하나의 그룹 내부의 각 네트에 대해 독립적인 비트에 대해서 '1' 값을 하나씩 인가하고, 나머지 비트에 대해서는 모두 '0' 값을 인가하는 단계로 구성되고, 상기 네트별 이동워킹 시퀀스 S s 는 첫 번째 그룹에 S n 에서와 같이 워킹원 시퀀스를 가하고, 그룹의 순서 및 각 그룹내의 네트의 순서에 따라 입력된 '1' 값을 한 비트씩 이동하는 단계; 이 단계에 의해 '1' 비트를 이동시키면 최상위 비트에 '1' 값을 가지는 네트는 '1' 값의 위치를 이동할 비트가 없게 되므로, 최상위 비트에 '1' 값을 갖는 네트가 속한 그룹 다음 그룹의 동일한 순서의 네트에 위치하는 '1' 값을 다시 최하위 비트인 첫 번째 비트로 이동시키는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는, 인쇄회로기판의 상호연결선 테스트를 위한 테스트벡터 생성방법
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청구항 1에 있어서, 상기 네트별 워킹 시퀀스 S n 의 구성에 있어서, 인가되는 테스트벡터 길이는 하나의 그룹에 속한 네트의 수만큼의 독립적인 비트에 대해 '1' 값이 입력되는 것을 특징으로 하는, 인쇄회로기판의 상호연결선 테스트를 위한 테스트벡터 생성방법
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청구항 1에 있어서, 상기 네트별 워킹 시퀀스 S n 의 구성에 있어서, 인가되는 테스트벡터 길이는 하나의 그룹에 속한 네트의 수만큼의 독립적인 비트에 대해 '1' 값이 입력되는 것을 특징으로 하는, 인쇄회로기판의 상호연결선 테스트를 위한 테스트벡터 생성방법
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