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스캔체인을 이용하여 CUT를 테스트하는 내장형 자체테스트 방법으로서, 테스트패턴을 생성해서 스캐체인으로 보내는 LFSR과, 스캔체인에 시프트 과정이 끝나고 테스트 대상 회로에 패턴을 가하는 시점을 알려주는 비트카운터와, 패턴을 생성하고 의사무작위 테스트가 끝나는 시점을 알려주는 패턴카운터를 포함하며, 상기 LFSR은 N비트의 패턴카운터 및 비트카운터의 N비트중 한 비트를 제외한 (N-1)비트중 한 비트만 스캔체인으로 보내는 것을 특징으로 하는, 내장형 자체테스트 패턴 생성시의 하드웨어 오버헤드 축소방법
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제1항에 있어서, 상기 LFSR이 N비트의 패턴카운터 및 비트카운터의 N비트중 한 비트를 제외한 (N-1)비트중 한 비트만 스캔체인으로 보내는 것은 멀티플렉서를 이용하여 수행되는 것을 특징으로 하는, 내장형 자체테스트 패턴 생성시의 하드웨어 오버헤드 축소방법
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제1항에 있어서, 상기 패턴카운터와 비트카운터는 각각 일반 카운터 형태인 것을 특징으로 하는, 내장형 자체테스트 패턴 생성시의 하드웨어 오버헤드 축소방법
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제1항에 있어서, 상기 패턴카운터와 비트카운터는 각각 LFSR 형태인 것을 특징으로 하는, 내장형 자체테스트 패턴 생성시의 하드웨어 오버헤드 축소방법
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제4항에 있어서, 상기 패턴카운터는 XOR 게이트가 내부에 포함되어 있는 LFSR인 것을 특징으로 하는, 내장형 자체테스트 패턴 생성시의 하드웨어 오버헤드 축소방법
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스캔체인을 이용하여 CUT를 테스트하는 내장형 자체테스트 방법으로서, 테스트패턴을 생성해서 스캐체인으로 보내는 LFSR과, 스캔체인에 시프트 과정이 끝나고 테스트 대상 회로에 패턴을 가하는 시점을 알려주는 비트카운터와, 패턴을 생성하고 의사무작위 테스트가 끝나는 시점을 알려주는 패턴카운터를 포함하되, 상기 LFSR은 N비트의 패턴카운터 및 비트카운터의 N비트중 한 비트를 제외한 (N-1)비트중 한 비트만 스캔체인으로 보내는 것을 특징으로 하는, 내장형 자체테스트 패턴 생성시의 하드웨어 오버헤드 축소장치
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제6항에 있어서, 상기 LFSR이 N비트의 패턴카운터 및 비트카운터의 N비트중 한 비트를 제외한 (N-1)비트중 한 비트만 스캔체인으로 보내기 위한 멀티플렉서가 추가로 포함되는 것을 특징으로 하는, 내장형 자체테스트 패턴 생성시의 하드웨어 오버헤드 축소장치
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제6항에 있어서, 상기 패턴카운터와 비트카운터는 각각 일반 카운터 형태인 것을 특징으로 하는, 내장형 자체테스트 패턴 생성시의 하드웨어 오버헤드 축소장치
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제6항에 있어서, 상기 패턴카운터와 비트카운터는 각각 LFSR 형태인 것을 특징으로 하는, 내장형 자체테스트 패턴 생성시의 하드웨어 오버헤드 축소장치
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제9항에 있어서, 상기 패턴카운터는 XOR 게이트가 내부에 포함되어 있는 LFSR인 것을 특징으로 하는, 내장형 자체테스트 패턴 생성시의 하드웨어 오버헤드 축소장치
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10
제9항에 있어서, 상기 패턴카운터는 XOR 게이트가 내부에 포함되어 있는 LFSR인 것을 특징으로 하는, 내장형 자체테스트 패턴 생성시의 하드웨어 오버헤드 축소장치
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