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정보 비트에 패러티 비트를 더하여 부호화 하는 방법에 있어서, 다수의 순환 행렬을 원소로 하여 구성되는 패러티 검사 행렬 H를 생성하고 상기 패러티 검사 행렬을 이용하여 생성 행렬 G를 구성하고 상기 정보 비트에 상기 생성 행렬 G을 적용하여 상기 정보 비트를 부호화 하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 1항에 있어서, 상기 패러티 검사 행렬 H는 n 개의 순환행렬 행과 m개의 순환행렬 열로 구성되는 m x n 행렬인 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 2항에 있어서, 상기 m은 3이고 상기 n은 6인 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 2항에 있어서, 상기 각각의 순환 행렬은 p x p 행렬인 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 4항에 있어서, 패러티 검사 행렬 생성 과정은 출력될 저밀도 패러티 검사 부호의 부호율과 부호어 길이를 설정하는 것을 더욱 포함하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 5항에 있어서, 상기 부호율은 상기 패러티 검사 행렬의 열의 개수 n에서 패러티 검사 행렬의 행의 개수 m을 뺀 값을 상기 n으로 나누어서 ((n-m)/n) 구하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 5항에 있어서, 상기 부호어 길이는 상기 순환 행렬의 길이 p에 상기 패러티 검사 행렬의 길이 n을 곱한 값인 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 5항에 있어서, 상기 패러티 검사 행렬 생성 과정은(p-1)/2차 제곱 잉여류인 (1, -1)과 비잉여류모부터 얻어진 다항식과 등가인 행렬로 구성하는 것을 더욱 포함하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 8항에 있어서, 상기 패러티 검사 행렬 생성 과정은 상기 패러티 검사행렬의 열무게가 3이 되도록 상기 순환 행렬들을 재구성하는 것을 더욱 포함하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 9항에 있어서, 상기 생성 행렬 G을 구성하는 과정은 상기 패러티 검사 행렬에 행연산을 수행하여 변형된 검사 행렬 H'를 구하는 것을 더욱 포함하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 10항에 있어서, 상기 변형된 검사 행렬 H'는 (I는 단위 행렬)의 구조적 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 11항에 있어서, 상기 생성 행렬 G를 구성하는 과정은 상기 변형된 검사 행렬 H'로부터 생성 행렬 G를 구하는 것을 더욱 포함하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 12항에 있어서, 상기 생성 행렬 G는 의 구조적 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 12항에 있어서, 상기 정보 비트 부호화 과정은 상기 정보 비트에 상기 생성 행렬 G를 곱하여 부호어 c를 생성하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성 방법
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제 14항에 있어서, 상기 부호어 생성 과정은 행렬 곱셈 대신 다항식 곱셈을 통해 이루어지는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성방법
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제 14항에 있어서, 상기 부호어 생성 과정은 행렬 곱셈 대신 다항식 곱셈을 통해 이루어지는 것을 특징으로 하는 저밀도 패러티 검사 부호 생성방법
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