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근적외선 분광기를 이용한 디에틸헥실프탈레이트 분석방법에 있어서, 소정크기의 폴리염화비닐 포장재에 Anm, Bnm, Cnm, Dnm 및 Enm 파장의 근적외선을 조사하여 반사도(R파장)를 측정하는 단계(다만, 2100〈A〈2200, 1900〈B〈2000, 2200〈C〈2300, 1600〈D〈1700, 1400〈E〈1500); 및 상기 반사도(R파장)를 검량식 K0 - K1 × {log(1/RA)} - K2 × {log(1/RB)} - K3× {log(1/RC)} - K4 × {log(1/RD)} - K5 × {log(1/RE)}에 대입하여 디에틸헥실프탈레이트의 함량(%)을 계산하는 단계(다만, 430000〈K0〈440000, 25000〈K1〈26000, 1800000〈K2〈1900000, 57000〈K3〈58000, 660000〈K4〈670000, 340000〈K5〈350000); 를 포함하는 근적외선 분광기를 이용한 디에틸헥실프탈레이트 분석방법
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근적외선 분광기를 이용한 디에틸헥실프탈레이트 분석방법에 있어서, 소정크기의 폴리염화비닐 포장재에 Fnm, Gnm, Hnm, Inm, Jnm, Lnm, Mnm 및 Nnm 파장의 근적외선을 조사하여 반사도(R파장)를 측정하는 단계(다만, 1610〈F〈1630, 2300〈G〈2310, 1370〈H〈1380, 1760〈I〈1770, 2050〈J〈2070, 2250〈L〈2270, 1650〈M〈1660, 2180〈N〈2190); 및 상기 반사도(R파장)를 검량식 K6 - K7 × {log(1/RF)} - K8 × {log(1/RG)} - K9× {log(1/RH)} - K10 × {log(1/RI)} - K11 × {log(1/RJ)} - K12 × {log(1/RL)} - K13 × {log(1/RM)} - K14 × {log(1/RN)} 에 대입하여 디에틸헥실프탈레이트의 함량(%)을 계산하는 단계(다만, 400000〈K6〈410000, 670000〈K7〈680000, 11000〈K8〈12000, 120000〈K9〈130000, 320000〈K10〈330000, 840000〈K11〈850000, 57000〈K12〈58000, 660000〈K13〈670000, 210000〈K14〈220000); 를 포함하는 근적외선 분광기를 이용한 디에틸헥실프탈레이트 분석방법
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