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위상광 측정 시스템(OPTICAL-PHASE IMAGING SYSTEM)

  • 기술번호 : KST2015229067
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 위상광 측정 시스템이 개시된다. 본 발명의 시스템은, 소정 대역폭의 광을 출력하는 광원부, 상기 광원부에 의해 출력된 광의 대역폭을 적어도 둘 이상의 대역폭으로 분할한 분할광과, 상기 분할광에 대해 위상이 반전된 위상반전광을 생성하여 출력하는 대역분할부, 상기 분할광 또는 상기 위상반전광 중 어느 하나를 지연하는 지연부, 및 상기 대역분할부로부터 출력되는 광과 상기 지연부로부터 출력되는 광을 측정대상체에 조사하고, 측정대상체로부터 반사된 광을 검출하여 처리하는 처리부를 포함한다.
Int. CL G01J 1/04 (2006.01)
CPC G01J 9/02(2013.01) G01J 9/02(2013.01)
출원번호/일자 1020140069792 (2014.06.10)
출원인 한국광기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0141296 (2015.12.18) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.06.10)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박재석 대한민국 광주광역시 북구
2 이병일 대한민국 부산광역시 금정구
3 신인희 대한민국 광주광역시 북구
4 정명영 대한민국 부산광역시 금정구
5 김창석 대한민국 부산광역시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
2 조현동 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 (도곡동, 덕영빌딩)(노벨국제특허법률사무소)
3 진천웅 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.06.10 수리 (Accepted) 1-1-2014-0538771-77
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.09.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.01.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0042837-76
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.03.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0207304-55
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.05.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0480641-61
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.05.19 수리 (Accepted) 1-1-2017-0480611-02
7 심사처리보류(연기)보고서
Report of Deferment (Postponement) of Processing of Examination
2017.09.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0144134-57
8 등록결정서
Decision to grant
2017.10.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0756622-91
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.03 수리 (Accepted) 4-1-2020-5148105-81
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.09 수리 (Accepted) 4-1-2020-5153634-39
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
소정 대역폭의 광을 출력하는 광원부;상기 광원부와 연결되어, 상기 광원부에 의해 출력된 광의 대역폭을 적어도 둘 이상의 대역폭으로 분할한 분할광과, 상기 분할광에 대해 위상이 반전된 위상반전광을 생성하여 출력하는 대역분할부;상기 대역분할부와 연결되어, 상기 분할광 또는 상기 위상반전광 중 어느 하나를 지연하는 지연부; 및상기 지연부와 연결되어, 상기 대역분할부로부터 출력되는 광과 상기 지연부로부터 출력되는 광을 측정대상체에 조사하고, 측정대상체로부터 반사된 광을 검출하여 처리하는 처리부를 포함하되,상기 광원부에 의해 출력된 적어도 둘 이상의 대역폭은, 각각 동일하며 서로 다른 중심파장을 가지고, 상기 위상반전광에 의하여 반전된 광의 대역폭은, 상기 광원부에 의해 출력된 적어도 둘 이상의 대력폭과 동일한, 위상광 측정 시스템
2 2
제1항에 있어서, 상기 광원부는,설정된 주기로 파장이 가변된는, 파장가변 광원 및 설정된 대역 범위 이상의 파장을 갖는 광대역 광원 중 적어도 하나의 광원을 출력하는 위상광 측정 시스템
3 3
제1항에 있어서, 상기 대역분할부는,상기 광원부로부터 입력되는 광을 분배하여, 상기 광원부의 광을 대역분할한 제1 및 제2분할광을 생성하고, 상기 제1 및 제2분할광에 대해 위상이 반전된 위상반전광을 출력하는 대역분할 간섭계; 및상기 광원부로부터 입력되는 광을 상기 대역분할 간섭계로 출력하고, 상기 대역분할 간섭계로부터 출력되는 광을 상기 지연부로 출력하는 광서큘레이터를 포함하는 위상광 측정 시스템
4 4
제3항에 있어서, 상기 대역분할 간섭계는, 사냑 간섭계를 포함하는 위상광 측정 시스템
5 5
제3항에 있어서, 상기 대역분할 간섭계는,상기 광서큘레이터로부터 입력단을 통해 입력되는 광을 분배하여, 제1 및 제2출력단으로 출력하고, 상기 제1 및 제2출력단은 광섬유로 상호 연결되는 루프를 형성하고, 상기 루프를 경유하여 대역분할되는 상기 제1 및 제2분할광을 제3출력단을 통해 출력하는 제1광커플러;상기 루프상에 배치되며, 입력되는 광신호를 복굴절하는 복굴절부; 및상기 제1광커플러의 제2출력단과 상기 복굴절부를 연결하는 경로에 배치되며, 중심파장을 변경하는 편광조절부를 포함하는 위상광 측정 시스템
6 6
제3항에 있어서, 상기 처리부는,상기 대역분할부에 포함된 제1광커플러로부터 출력되는 상기 제1 및 제2분할광과, 상기 지연부로부터 출력되는 상기 위상반전광을 결합하여 출력하는 제2광커플러;상기 제2광커플러로부터 출력되는 광을 측정대상체에 조사하고, 측정대상체로부터 반사된 광을 출력하는 프로브부; 상기 프로브부로부터 출력되는 광을 검출하는 광검출부; 및상기 광검출부에서 출력되는 신호로부터, 측정대상체에 대한 정보를 취득하는 측정부를 포함하는 위상광 측정 시스템
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제6항에 있어서, 상기 처리부는,상기 제2광커플러로부터 출력되는 광을 상기 프로브부로 출력하고, 상기 프로브부로부터 출력되는 광을 상기 광검출부로 출력하는 제3광커플러를 더 포함하는 위상광 측정 시스템
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제6항에 있어서, 상기 지연부는,상기 광서큘레이터와 상기 제2광커플러 사이에 접속되며, 상기 제1광커플러의 제3출력단과 상기 제2광커플러 사이의 광경로보다 길게 연장되는 위상광 측정 시스템
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제6항에 있어서, 상기 광검출부는,포토다이오드를 포함하는 위상광 측정 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.