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스캔 바이패스를 이용한 스캔 체인 분할 장치 및 그 방법(METHOD AND APPARATUS FOR SCAN CHAIN SEGMENTATION USING SCAN BYPASS)

  • 기술번호 : KST2017013535
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 복수 개의 셀을 포함하는 스캔 체인에 세그먼트를 지정하여 우회 데이터에 대한 바이패스 비트의 증가 여부를 판단하고, 바이패스 비트의 증가 여부에 기반하여 세그먼트의 크기를 조정하거나 세그먼트의 바이패스 비트와 기설정된 문턱 값을 비교하며, 스캔 체인의 분할을 수행하여 테스트 패턴을 설정하는 스캔 바이패스를 이용한 스캔 체인 분할 장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 스캔 체인을 분할하여 실질적으로 필요하지 않은 패턴을 제거하고, 필요 없는 패턴 부분을 바이패스하여 테스트 데이터의 크기 및 동작 전력 소비를 줄일 수 있다.
Int. CL G01R 31/3185 (2016.03.25) G01R 31/28 (2016.03.25)
CPC G01R 31/318536(2013.01) G01R 31/318536(2013.01) G01R 31/318536(2013.01) G01R 31/318536(2013.01)
출원번호/일자 1020160016564 (2016.02.12)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0095057 (2017.08.22) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.02.12)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성호 대한민국 서울특별시 마포구
2 임현열 대한민국 서울특별시 은평구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김연권 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, ****/****호(문정동, 문정대명벨리온)(시안특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.02.12 수리 (Accepted) 1-1-2016-0142689-78
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.09.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.11.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2016-0152837-33
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.09.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0669826-89
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.11.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-1128228-84
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.11.14 수리 (Accepted) 1-1-2017-1128218-27
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2018.03.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0180486-13
8 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2018.03.22 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2018-0286494-84
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.03.22 수리 (Accepted) 1-1-2018-0286468-07
10 등록결정서
Decision to Grant Registration
2018.04.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0278053-77
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수 개의 셀을 포함하는 스캔 체인에 있어서,기설정된 세그먼트 길이에 기반하여 상기 스캔 체인 내의 시작 셀을 포함하는 제1 세그먼트를 지정하는 세그먼트 지정부;상기 지정된 제1 세그먼트에 포함된 패턴에 기반하여 상기 제1 세그먼트의 우회 데이터를 획득하는 우회 데이터 획득부;상기 세그먼트 지정부는, 상기 제1 세그먼트에 추가된 셀을 포함하는 제2 세그먼트를 지정하고,상기 우회 데이터 획득부는, 상기 지정된 제2 세그먼트에 포함된 패턴에 기반하여 상기 제2 세그먼트의 우회 데이터를 획득하고,상기 제1 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제1 바이패스 비트로부터 상기 제2 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제2 바이패스 비트의 증가 여부를 판단하는 바이패스 비트 판단부; 및상기 제2 바이패스 비트의 증가 여부에 기반하여 상기 제2 세그먼트의 크기를 상기 제1 세그먼트 또는 제3 세그먼트의 크기로 조정하거나, 상기 제1 바이패스 비트가 상기 제2 바이패스 비트보다 큰 경우, 상기 제1 바이패스 비트와 기설정된 문턱 값을 비교하여 상기 스캔 체인의 분할을 수행하는 분할 조정부를 포함하고,상기 분할 조정부는, 상기 제1 바이패스 비트가 상기 기설정된 문턱 값보다 큰 경우, 상기 제1 세그먼트의 크기로 상기 스캔 체인을 분할하고,상기 세그먼트 지정부는, 상기 제1 바이패스 비트가 상기 기설정된 문턱 값보다 작거나 같은 경우, 상기 시작 셀로부터 시프트(shift)된 셀로부터 상기 기설정된 세그먼트 길이를 갖는 제4 세그먼트를 지정하고,상기 제1 세그먼트의 우회 데이터 및 상기 제2 세그먼트의 우회 데이터는, 스캔 바이패스를 이용하여 우회 입력되는스캔 체인 분할 장치
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 분할 조정부는상기 제2 바이패스 비트의 증가 여부에 기반하여 상기 제2 세그먼트의 크기를 조정하는 세그먼트 크기 조정 모듈; 상기 제2 바이패스 비트의 증가 여부에 기반하여 상기 제1 바이패스 비트와 상기 기설정된 문턱 값을 비교하는 비교 모듈; 및상기 비교 결과에 기반하여 상기 스캔 체인의 분할을 수행하는 스캔 체인 분할 모듈을 포함하는스캔 체인 분할 장치
4 4
제3항에 있어서,상기 세그먼트 크기 조정 모듈은상기 제1 바이패스 비트가 상기 제2 바이패스 비트보다 작거나 같은 경우, 상기 제2 세그먼트에 셀의 개수를 추가하는스캔 체인 분할 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 세그먼트 지정부는, 상기 제2 바이패스 비트가 증가한 경우, 상기 제2 세그먼트에 추가된 셀을 포함하는 상기 제3 세그먼트를 지정하고,상기 우회 데이터 획득부는, 상기 지정된 제3 세그먼트에 포함된 패턴에 기반하여 상기 제3 세그먼트의 우회 데이터를 획득하고,상기 바이패스 비트 판단부는, 상기 제2 바이패스 비트로부터 상기 제3 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제3 바이패스 비트의 증가 여부를 판단하는스캔 체인 분할 장치
6 6
제3항에 있어서,상기 세그먼트 크기 조정 모듈은상기 제1 바이패스 비트가 상기 제2 바이패스 비트보다 큰 경우, 상기 제1 세그먼트에 포함된 셀을 기준으로 상기 제1 세그먼트의 크기를 고정하는스캔 체인 분할 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 비교 모듈은상기 제1 바이패스 비트가 상기 제2 바이패스 비트보다 큰 경우, 상기 크기가 고정된 제1 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제1 바이패스 비트와 상기 기설정된 문턱 값을 비교하는스캔 체인 분할 장치
8 8
제1항에 있어서,상기 우회 데이터 획득부는, 상기 지정된 제4 세그먼트에 포함된 패턴에 기반하여 상기 제4 세그먼트의 우회 데이터를 획득하고,상기 세그먼트 지정부는, 상기 제4 세그먼트에 추가된 셀을 포함하는 제5 세그먼트를 지정하며,상기 우회 데이터 획득부는, 상기 지정된 제5 세그먼트에 포함된 패턴에 기반하여 상기 제5 세그먼트의 우회 데이터를 획득하고, 상기 제4 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제4 바이패스 비트로부터 상기 제5 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제5 바이패스 비트의 증가 여부를 판단하며,상기 바이패스 비트 판단부는, 상기 제4 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제4 바이패스 비트로부터 상기 제4 세그먼트에 추가된 셀을 포함하는 제5 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제5 바이패스 비트의 증가 여부를 판단하는스캔 체인 분할 장치
9 9
삭제
10 10
복수 개의 셀을 포함하는 스캔 체인에서 기설정된 세그먼트 길이에 기반하여 상기 스캔 체인 내의 시작 셀을 포함하는 제1 세그먼트를 지정하고, 상기 지정된 제1 세그먼트에 포함된 패턴에 기반하여 상기 제1 세그먼트의 우회 데이터를 획득하며, 상기 제1 세그먼트에 추가된 셀을 포함하는 제2 세그먼트를 지정하고, 상기 지정된 제2 세그먼트에 포함된 패턴에 기반하여 상기 제2 세그먼트의 우회 데이터를 획득하며, 상기 제1 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제1 바이패스 비트로부터 상기 제2 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제2 바이패스 비트의 증가 여부를 판단하고, 상기 제1 바이패스 비트가 상기 제2 바이패스 비트보다 큰 경우, 상기 제1 바이패스 비트와 기설정된 문턱 값을 비교하며, 상기 제1 바이패스 비트가 상기 기설정된 문턱 값보다 큰 경우, 상기 제1 세그먼트의 크기로 상기 스캔 체인을 분할하고, 상기 제1 바이패스 비트가 상기 기설정된 문턱 값보다 작거나 같은 경우, 상기 시작 셀로부터 시프트(shift)된 셀로부터 상기 기설정된 세그먼트 길이를 갖는 제4 세그먼트를 지정하는 스캔 체인 분할 장치; 및상기 분할된 스캔 체인의 상기 세그먼트를 우회하여 테스트 패턴을 설정하는 스캔 바이패스를 포함하고,상기 제1 세그먼트의 우회 데이터 및 상기 제2 세그먼트의 우회 데이터는, 상기 스캔 바이패스를 이용하여 우회 입력되는스캔 바이패스를 이용한 스캔 체인 분할 장치
11 11
제10항에 있어서,상기 스캔 바이패스는컨트롤 입력(control input)에 기반하여 상기 제1 세그먼트를 포함하는 상기 분할된 스캔 체인 내의 상기 테스트 패턴을 획득하여 설정하는스캔 바이패스를 이용한 스캔 체인 분할 장치
12 12
기설정된 세그먼트 길이에 기반하여 스캔 체인 내의 시작 셀을 포함하는 제1 세그먼트를 지정하는 단계;상기 지정된 제1 세그먼트에 포함된 패턴에 기반하여 상기 제1 세그먼트의 우회 데이터를 획득하는 단계;상기 제1 세그먼트에 추가된 셀을 포함하는 제2 세그먼트를 지정하는 단계;상기 지정된 제2 세그먼트에 포함된 패턴에 기반하여 상기 제2 세그먼트의 우회 데이터를 획득하는 단계;상기 제1 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제1 바이패스 비트로부터 상기 제2 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제2 바이패스 비트의 증가 여부를 판단하는 단계; 및상기 제2 바이패스 비트의 증가 여부에 기반하여 상기 제2 세그먼트의 크기를 상기 제1 세그먼트 또는 제3 세그먼트의 크기로 조정하거나, 상기 제1 바이패스 비트가 상기 제2 바이패스 비트보다 큰 경우, 상기 제1 바이패스 비트와 기설정된 문턱 값을 비교하여 상기 스캔 체인의 분할을 수행하는 단계를 포함하고,상기 스캔 체인의 분할을 수행하는 단계는,상기 제1 바이패스 비트가 상기 기설정된 문턱 값보다 큰 경우, 상기 제1 세그먼트의 크기로 상기 스캔 체인을 분할하는 단계; 및상기 제1 바이패스 비트가 상기 기설정된 문턱 값보다 작거나 같은 경우, 상기 시작 셀로부터 시프트(shift)된 셀로부터 상기 기설정된 세그먼트 길이를 갖는 제4 세그먼트를 지정하는 단계를 포함하고,상기 제1 세그먼트의 우회 데이터 및 상기 제2 세그먼트의 우회 데이터는, 스캔 바이패스를 이용하여 우회 입력되는스캔 체인 분할 방법
13 13
제12항에 있어서,상기 스캔 체인의 분할을 수행하는 단계는상기 제1 바이패스 비트가 상기 제2 바이패스 비트보다 작거나 같은 경우, 상기 제2 세그먼트에 추가된 셀을 포함하는 제3 세그먼트를 지정하는 단계;상기 지정된 제3 세그먼트에 포함된 패턴에 기반하여 상기 제3 세그먼트의 우회 데이터를 획득하는 단계; 및상기 제2 바이패스 비트로부터 상기 제3 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제3 바이패스 비트의 증가 여부를 판단하는 단계를 포함하는스캔 체인 분할 방법
14 14
제12항에 있어서,상기 스캔 체인의 분할을 수행하는 단계는상기 제1 바이패스 비트가 상기 제2 바이패스 비트보다 큰 경우, 상기 제1 세그먼트에 포함된 셀을 기준으로 상기 제1 세그먼트의 크기를 고정하는스캔 체인 분할 방법
15 15
삭제
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삭제
17 17
제12항에 있어서,상기 스캔 체인의 분할을 수행하는 단계는상기 지정된 제4 세그먼트에 포함된 패턴에 기반하여 상기 제4 세그먼트의 우회 데이터를 획득하는 단계;상기 제4 세그먼트에 추가된 셀을 포함하는 제5 세그먼트를 지정하는 단계;상기 지정된 제5 세그먼트에 포함된 패턴에 기반하여 상기 제5 세그먼트의 우회 데이터를 획득하는 단계;상기 제4 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제4 바이패스 비트로부터 상기 제5 세그먼트의 우회 데이터에 대한 제5 바이패스 비트의 증가 여부를 판단하는 단계; 및상기 제5 바이패스 비트의 증가 여부에 기반하여 상기 제5 세그먼트의 크기를 조정하거나, 상기 제4 바이패스 비트와 상기 기설정된 문턱 값을 비교하는 단계를 포함하는 스캔 체인 분할 방법
18 18
제12항 내지 제14항 및 제17항 중 어느 한 항의 방법을 수행하기 위한 프로그램이 기록된 컴퓨터로 판독 가능한 기록 매체
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 연세대학교 산학협력단 중견연구자지원사업 초미세폭 3차원 반도체 제조비용 절감을 위한 설계 및 테스트 기술 연구