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플라즈마 공정 장치 및 이의 제어 방법(Plasma processing apparatus and method of controlling the same)

  • 기술번호 : KST2017016722
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 플라즈마 공정 장치 및 이의 제어 방법에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 플라즈마를 이용하여 공정이 수행되는 피처리체가 장착되는 기판부 전극, 플라즈마 방전을 위한 전력이 인가되는 플라즈마 전극, 및 상기 플라즈마 전극의 국부적 온도 제어를 위해 상기 플라즈마 전극에 결합되는 냉각부를 갖는 플라즈마 공정 장치가 제공될 수 있다.
Int. CL H01L 21/02 (2016.05.24) H05H 1/46 (2016.05.24) H01L 21/3065 (2016.05.24) H01L 21/66 (2016.05.24)
CPC H01L 21/02274(2013.01) H01L 21/02274(2013.01) H01L 21/02274(2013.01) H01L 21/02274(2013.01) H01L 21/02274(2013.01) H01L 21/02274(2013.01)
출원번호/일자 1020160049132 (2016.04.22)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0121357 (2017.11.02) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.04.22)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 오훈정 대한민국 경기도 고양시 덕양구
2 고대홍 대한민국 경기도 고양시 일산서구
3 신현수 대한민국 서울특별시 서대문구
4 장현철 대한민국 경기도 의정부시 녹양로 *
5 이인근 대한민국 인천광역시 계양구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김권석 대한민국 서울특별시 서초구 논현로**, B동 *층(양재동, 삼호물산빌딩)(아이피맥스특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.04.22 수리 (Accepted) 1-1-2016-0387538-16
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.03.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.06.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0079551-79
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.06.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0393467-40
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.08.02 수리 (Accepted) 1-1-2017-0744892-28
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.09.01 수리 (Accepted) 1-1-2017-0850402-90
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.09.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0926984-44
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2017-0926925-61
9 등록결정서
Decision to grant
2018.04.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0225085-07
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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플라즈마를 이용하여 공정이 수행되는 피처리체가 장착되는 기판부 전극;플라즈마 방전을 위한 전력이 인가되는 플라즈마 전극;상기 플라즈마 전극의 국부적 온도 제어를 위해 각각 서로 다른 온도로 제어될 수 있는 복수의 분할된 독립 영역들을 가지며, 상기 플라즈마 전극에 결합되는 냉각부; 및상기 냉각부의 기존 온도 보정 관계식에 의해 결정된 복수의 분할된 독립 영역들의 온도를 제어하여, 상기 플라즈마를 이용한 공정을 수행하고,상기 피처리체의 위치에 따른 플라즈마 공정 결과의 분포를 산출하고,상기 공정 결과의 분포와 상기 분할된 복수의 독립 영역들의 온도 분포를 비교하여, 상기 냉각부의 상기 기존 온도 보정 관계식을 보정하며,상기 보정된 온도 보정 관계식에 의해 산출된 결과를 반영하여 후속 플라즈마를 이용하는 공정을 위한 상기 분할된 복수의 독립 영역들의 온도를 각각 제어하는 제어 모듈을 포함하며,상기 플라즈마 전극의 일 측면 쪽에 배치되는 가스 인렛을 통해 공정 가스가 유입되는 경우, 상기 분할된 독립 영역들은 선형 형태를 가지며, 상기 분할된 독립 영역들의 폭은 상기 가스 인렛으로부터 멀어질수록 증가되는 플라즈마 공정 장치
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 냉각부는 각각 서로 다른 온도로 제어될 수 있는 복수의 분할된 독립 영역들을 갖는 플라즈마 공정 장치
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
삭제
6 6
삭제
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 피처리체에 대한 공정 결과가 측정되는 측정 위치는 상기 분할된 독립 영역들의 위치와 서로 대응되는 플라즈마 공정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 피처리체의 표면과 상기 플라즈마 전극 사이의 간격은 1 mm 이하인 플라즈마 공정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 플라즈마 공정 장치는 박막 증착 장치, 식각 장치, 표면 처리 장치 또는 불순물 도핑 장치인 플라즈마 공정 장치
10 10
플라즈마를 이용하여 공정이 수행되는 플라즈마 공정 장치의 제어 방법으로서, 플라즈마 방전을 위한 전력이 인가되는 플라즈마 전극의 국부적 온도 제어를 위해, 상기 플라즈마 전극에 결합되는 복수의 분할된 독립 영역을 갖는 냉각부를 제공하는 단계;기판부 전극에 피처리체를 장착하고, 상기 냉각부의 기존 온도 보정 관계식에 의해 결정된 복수의 분할된 독립 영역들의 온도를 제어하여, 상기 플라즈마를 이용한 공정을 수행하는 단계;상기 피처리체의 위치에 따른 플라즈마 공정 결과의 분포를 산출하는 단계;상기 공정 결과의 분포와 상기 분할된 복수의 독립 영역들의 온도 분포를 비교하여, 상기 냉각부의 기존 온도 보정 관계식을 보정하는 단계; 및상기 보정된 온도 보정 관계식에 의해 산출된 결과를 반영하여 후속 플라즈마를 이용하는 공정을 위한 상기 분할된 복수의 독립 영역들의 온도를 각각 제어하는 단계를 포함하며,상기 플라즈마 전극의 일 측면 쪽에 배치되는 가스 인렛을 통해 공정 가스가 유입되는 경우, 상기 분할된 독립 영역들은 선형 형태를 가지며, 상기 분할된 독립 영역들의 폭은 상기 가스 인렛으로부터 멀어질수록 증가되는 플라즈마 공정 장치의 제어 방법
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제 10 항에 있어서, 상기 플라즈마를 이용하는 공정은 상기 피처리체의 표면과 상기 플라즈마 전극 사이의 거리가 1 mm 이하인 조건에서 수행되는 플라즈마 공정 장치의 제어 방법
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제 10 항에 있어서, 상기 플라즈마를 이용하는 공정은 1 Torr 이상의 압력 하에서 수행되는 플라즈마 공정 장치의 제어 방법
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제 10 항에 있어서, 상기 복수의 분할된 독립 영역들은 서로 다른 온도로 제어될 수 있는 플라즈마 공정 장치의 제어 방법
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제 10 항에 있어서, 상기 피처리체에 대한 공정 결과가 측정되는 측정 위치는 상기 분할된 독립 영역들의 위치와 서로 대응되는 플라즈마 공정 장치의 제어 방법
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제 10 항에 있어서, 상기 플라즈마 공정의 공정 결과는 박막의 두께, 식각 속도, 표면 모폴로지, 조성비, 전기적 특성, 자기적 특성, 화학적 특성, 강도 중 적어도 어느 하나를 포함하는 플라즈마 공정 장치의 제어 방법
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 한경대학교 기타사업 상압 플라즈마를 이용한 저온 에피택시 박막 성장 원천기술