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방사선 감지부 및 검사대상과 대향하도록 상기 방사선 감지부의 전방에 위치하는 콜리메이터부; 상기 콜리메이터부의 가변형 핀홀을 형성하는 핀홀 형성 모듈과, 상기 핀홀의 크기와 상기 핀홀 형성 모듈의 위치를 변경하는 핀홀 구동 모듈과, 상기 핀홀 구동 모듈에 제어신호를 출력하는 제어부; 상기 방사선 감지부의 감지 평면 상에서 상기 핀홀 형성 모듈의 위치를 변경하여 조절하는 위치 조절 구동기; 및 상기 핀홀 형성 모듈과 상기 방사선 감지부 사이의 거리가 가변되도록 상기 제어부의 제어신호에 따라 상기 방사선 감지부를 이동시키는 감지부 거리 조절 구동기;를 포함하는 방사선 검출장치를 이용한 방사선 검출방법에 있어서,상기 콜리메이터부는 비활성 상태이며, 상기 방사선 감지부를 이용하여 상기 방사선 감지부의 검출가능 최대 영역에서 방사선의 존재를 확인하는 방사선 확인 단계; 및상기 방사선 확인 단계에서 방사선이 검출되는 경우, 상기 콜리메이터부를 활성화하여 상기 방사선 감지부가 검출하는 영역을 축소하여 방사선 검출 영역을 판단하는 검출 영역 판단 단계;를 포함하며,상기 검출 영역 판단 단계는,상기 핀홀 형성 모듈의 핀홀의 크기가 가변되고, 상기 핀홀 형성 모듈의 핀홀의 크기가 축소되어 상기 방사선 감지부가 검출하는 영역을 축소하고, 상기 방사선 감지부가 상기 핀홀 형성 모듈로부터 멀어져서 전체 촬영 영역 중 특정 관심영역을 확대하며, 상기 관심영역의 확대 전에 상기 전체 촬영 영역 중 상기 특정 관심영역이 상기 핀홀에 대응하여 가운데 위치하지 않는 경우에, 상기 핀홀의 위치가 상기 관심영역에 위치하도록 상기 핀홀 형성 모듈의 위치가 변경되는 것이 복수 회 진행되며, 상기 복수 회 진행되는 검출 영역 판단 단계에서 상기 핀홀의 크기는 이전 단계의 핀홀의 크기보다 작아지며,상기 감지부 거리 조절 구동기는,특정 영역에 대한 확대를 위해, 상기 방사선 감지부가 상기 핀홀 형성 모듈로부터 멀어지도록 구동하며,상기 위치 조절 구동기는,전체 촬영 영역 중 특정 관심 영역이 초기 설정된 중심 위치에 있지 않을 경우에, 상기 핀홀의 위치가 관심 영역의 중심에 위치하도록 상기 핀홀 형성 모듈의 위치를 변경하며,상기 제어부는,상기 핀홀 형성 모듈의 복수의 조리개 각각의 개방부가 독립적으로 가변되도록 상기 복수의 조리개 각각을 제어하여 상기 핀홀 형성 모듈에 방사선이 통과하는 핀홀을 형성하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출방법
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일정 면적의 영역 내에서 방사선을 검출하는 방사선 감지부; 검사 대상과 대향하도록 상기 방사선 감지부의 전방에 위치하는 콜리메이터부;상기 콜리메이터부의 가변형 핀홀을 형성하는 핀홀 형성 모듈과, 상기 핀홀의 크기와 상기 핀홀 형성 모듈의 위치를 변경하는 핀홀 구동 모듈과, 상기 핀홀 구동 모듈에 제어신호를 출력하는 제어부; 상기 방사선 감지부의 감지 평면 상에서 상기 핀홀 형성 모듈의 위치를 변경하여 조절하는 위치 조절 구동기; 및상기 핀홀 형성 모듈과 상기 방사선 감지부 사이의 거리가 가변되도록 상기 제어부의 제어신호에 따라 상기 방사선 감지부를 이동시키는 감지부 거리 조절 구동기;를 포함하고,상기 제어부는,상기 핀홀 형성 모듈의 복수의 조리개 각각의 개방부가 독립적으로 가변되도록 상기 복수의 조리개 각각을 제어하여 상기 핀홀 형성 모듈에 방사선이 통과하는 핀홀을 형성하며,상기 감지부 거리 조절 구동기는,특정 영역에 대한 확대를 위해, 상기 방사선 감지부가 상기 핀홀 형성 모듈로부터 멀어지도록 구동하며,상기 거리 조절 구동기는,전체 촬영 영역 중 특정 관심 영역이 초기 설정된 중심 위치에 있지 않을 경우에, 상기 핀홀의 위치가 관심 영역의 중심에 위치하도록 상기 핀홀 형성 모듈의 위치를 변경하며,상기 콜리메이터부가 활성화되면, 상기 핀홀 형성 모듈의 핀홀의 크기가 가변되고, 상기 핀홀 형성 모듈의 핀홀의 크기가 축소되어 상기 방사선 감지부가 검출하는 영역을 축소하고, 상기 방사선 감지부가 상기 핀홀 형성 모듈로부터 멀어져서 전체 촬영 영역 중 특정 관심영역을 확대하며, 상기 관심영역의 확대 전에 상기 전체 촬영 영역 중 상기 특정 관심영역이 상기 핀홀에 대응하여 가운데 위치하지 않는 경우에, 상기 핀홀의 위치가 상기 관심영역에 위치하도록 상기 핀홀 형성 모듈의 위치가 변경되는 것을 특징으로 하는 방사선 검출장치
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