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타원해석기(Ellipsometer)

  • 기술번호 : KST2018006302
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 타원해석기는, 수평 방향으로 이동 가능하게 마련되는 스테이지(stage); 및 스테이지의 상부에 마련되는 광학대; 를 포함하고, 광학대는, 선편광된 광을 발생키는 광원부; 선편광된 광을 두 편광성분으로 분리하여 시편에 입사시키고, 시편으로부터 반사된 두 편광성분을 결합하여 출사시키는 빔 디스프레이서(beam displacer); 및 출사된 두 편광성분을 이용하여 시편 표면의 영상을 획득하는 광영상부; 를 포함할 수 있다. 이와 같은 타원해석기에 의하면, 수직입사 방식을 이용하므로 입사각 설정의 어려움을 해소할 수 있으며, 광부품의 정렬에 용이하다. 또한, ‘p-파’ 와 ‘s-파’ 가 시편 표면의 서로 다른지점에서 반사되도록 구조화되어, 표면 전반을 검사할 수 있으며, 표면상의 박막이나 결함 등으로 인해 높이차가 있는 표면 검사에 유용하게 사용될 수 있다.
Int. CL G01J 4/00 (2006.01.01) G02B 27/30 (2006.01.01) G01N 21/21 (2006.01.01)
CPC G01J 4/00(2013.01) G01J 4/00(2013.01) G01J 4/00(2013.01) G01J 4/00(2013.01)
출원번호/일자 1020160149520 (2016.11.10)
출원인 한양대학교 에리카산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0052328 (2018.05.18) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.11.10)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 대한민국 경기도 안산시 상록구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 안일신 대한민국 경기도 안산시 상록구
2 김슬기 대한민국 경기도 수원시 팔달구
3 이창호 대한민국 경기도 시흥시 인선
4 박성모 대한민국 부산광역시 사상구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 홍성욱 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***(역삼동) 동아빌딩 *층(주식회사에스와이피)
2 심경식 대한민국 서울시 강남구 역삼로 *** 동아빌딩 *층(에스와이피특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 경기도 안산시 상록구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.11.10 수리 (Accepted) 1-1-2016-1099857-77
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.08.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.10.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0149208-09
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0751193-33
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.12.07 수리 (Accepted) 1-1-2017-1220696-64
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.12.07 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-1220697-10
7 등록결정서
Decision to grant
2018.05.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0322475-08
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번호 청구항
1 1
수평 방향으로 이동 가능하게 마련되는 스테이지(stage); 및상기 스테이지의 상부에 마련되는 광학대; 를 포함하고, 상기 광학대는, 선편광된 광을 발생키는 광원부;상기 선편광된 광을 두 편광성분으로 분리하여 상기 스테이지의 상부에 위치한 시편에 수직으로 입사시키고, 상기 시편으로부터 반사된 상기 두 편광성분을 결합하여 출사시키는 빔 디스플레이서(beam displacer); 및상기 출사된 두 편광성분을 이용하여 상기 시편의 표면의 영상을 획득하는 광영상부;를 포함하는 타원해석기
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 분리된 두 편광성분은, 진동방향이 서로 수직인 타원해석기
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 빔 디스플레이서는, 상기 시편으로부터 수직으로 반사된 상기 두 편광성분을 결맞음 결합하여 출사시키는 타원해석기
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 빔 디스플레이서는, 상기 분리된 두 편광성분을 상기 시편의 서로 다른 지점에 입사시키는 타원해석기
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 광영상부는, 상기 출사된 두 편광성분의 위상차 또는 전기장의 세기 비율을 측정하는 타원해석기
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 광영상부는, 상기 위상차 또는 전기장의 세기 비율을 이용하여 상기 출사된 두 편광성분의 차이값을 획득하는 타원해석기
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 차이값은, 상기 출사된 두 편광성분의 경로차 또는 반사율의 차인 타원해석기
8 8
제 6 항에 있어서,상기 광영상부는, 상기 차이값을 이용하여 상기 시편 표면의 영상을 획득하는 타원해석기
9 9
제 7 항에 있어서,상기 광영상부는, 상기 위상차를 이용하여 상기 경로차를 획득하는 타원해석기
10 10
제 7 항에 있어서,상기 광영상부는, 상기 전기장의 세기 비율을 이용하여 상기 반사율의 차를 획득하는 타원해석기
11 11
제 6 항에 있어서,상기 광원부는, 상기 스테이지가 이동하는 동안 선편광된 광을 복수회 발생시키는 타원해석기
12 12
제 11 항에 있어서,상기 광영상부는, 상기 선편광된 광의 발생 횟수에 대응하여 상기 차이값을 복수개 산출하고, 상기 복수개의 차이값을 이용하여 상기 시편 표면에 대한 영상을 획득하는 타원해석기
13 13
제 1 항에 있어서,상기 광원부는, 광을 조사하는 광원; 및 상기 조사되는 광을 선편광시키는 편광발생기; 를 포함하고, 상기 조사되는 광은, 단색광인 타원해석기
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패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 한양대학교 에리카산학협력단 산업기술혁신사업 / 산업핵심기술개발사업 / 전자정보디바이스산업원천기술개발사업(RCMS) Lithography 공정에서 박막 및 표면을 고해상도 (100μm x100μm이하) 로 검사할 수 있는 in-line ellipsometry 기술 개발