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이종 결합 구조를 포함하는 임베디드 기판 및 그 제조 방법(EMBEDDED SUBSTRATE COMPRISING HYBRID COMBINATION STRUCTURE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME)

  • 기술번호 : KST2018006394
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 임베디드 기판 및 그 제조 방법을 개시한다. 본 발명의 실시예에 따른 임베디드 기판은 내부의 선정된 음각 패턴을 포함하는 음각 패턴 구조체 및 상기 음각 패턴에 대응되는 적어도 하나 이상의 선택적 특성을 갖는 적어도 하나 이상의 물질로 형성되는 양각 패턴을 포함하는 양각 패턴 구조체를 포함하고, 상기 음각 패턴 구조체에 상기 양각 패턴 구조체를 결합하여, 선택적으로 결합된 이종 결합 구조를 형성하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H01L 21/768 (2006.01.01) H01L 21/18 (2006.01.01)
CPC H01L 21/76804(2013.01) H01L 21/76804(2013.01) H01L 21/76804(2013.01) H01L 21/76804(2013.01) H01L 21/76804(2013.01)
출원번호/일자 1020160151801 (2016.11.15)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0054179 (2018.05.24) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.11.15)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 오정우 대한민국 인천광역시 연수구
2 기부근 대한민국 인천광역시 연수구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김연권 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, ****/****호(문정동, 문정대명벨리온)(시안특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.11.15 수리 (Accepted) 1-1-2016-1113563-89
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.08.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.01.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0000330-02
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.01.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0009863-01
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.02.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0207303-08
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2018-0207277-08
7 심사처리보류(연기)보고서
Report of Deferment (Postponement) of Processing of Examination
2018.07.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0094350-30
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2018.08.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0519648-64
9 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2018.09.03 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2018-0872015-73
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.09.03 수리 (Accepted) 1-1-2018-0871941-58
11 등록결정서
Decision to Grant Registration
2018.09.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0648840-16
12 [명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정)
2018.11.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-5021094-71
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
내부의 선정된 복수의 음각 패턴을 포함하는 음각 패턴 구조체; 및상기 복수의 음각 패턴에 대응되고, 각각 상이한 선택적 특성을 갖는 서로 다른 복수의 물질로 형성되는 양각 패턴을 포함하는 양각 패턴 구조체; 를 포함하고상기 음각 패턴 구조체에 상기 양각 패턴 구조체를 결합하여, 선택적으로 특성의 제어가 가능한 이종 결합 구조를 형성하는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 선택적 특성은,상기 음각 패턴 구조체 및 상기 양각 패턴 구조체를 구성하는 물질의 종류로 제어되는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
4 4
제3항에 있어서,상기 물질의 종류는 실리콘(Si), 게르마늄(Ge), 실리콘 게르마늄(SiGe), 실리콘 카바이드(SiC), 갈륨 아스나이드 (GaAs), 인듐 포스파이드(InP), 인듐 아스나이드(InAs), 갈륨 포스파이드(GaP), 갈륨 안티모나이드(GaSb), 인듐 안티모나이드(InSb), 알루미늄 포스파이드(AlP), 알루미늄 아스나이드(AlAs), 갈륨 나이트라이드(GaN), 알루미늄 나이트라이드(AlN), 인듐 나이드라이드(InN), 알루미늄 갈륨 비소(AlGaAs), 알루미늄 질화 갈륨(AlGaN), 셀렌화마그네슘(MgSe), 텔루르화아연(ZnTe), 셀렌화마그네슘카드뮴(CdSe) 및 셀렌화아연(ZnSe)으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
5 5
제1항에 있어서,상기 선택적 특성은,상기 음각 패턴 구조체 및 상기 양각 패턴 구조체를 구성하는 물질의 도핑 타입으로 제어되는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
6 6
제5항에 있어서,상기 물질의 도핑 타입은,N 타입 또는 P 타입인 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
7 7
제1항에 있어서,상기 선택적 특성은,상기 음각 패턴 구조체 및 상기 양각 패턴 구조체를 구성하는 물질의 도핑 농도로 제어되는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
8 8
제1항에 있어서,상기 선택적 특성은,상기 음각 패턴 구조체 및 상기 양각 패턴 구조체를 구성하는 결정 방향으로 제어되는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
9 9
제8항에 있어서,상기 물질의 결정 방향은,(001) 또는 (111)인 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
10 10
제1항에 있어서,상기 선택적 특성은,상기 음각 패턴 구조체 및 상기 양각 패턴 구조체의 도펀트 물질의 종류로 제어되는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
11 11
제1항에 있어서,상기 선택적 특성은,상기 음각 패턴 구조체 및 상기 양각 패턴 구조체의 물질의 상태로 제어되는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
12 12
제11항에 있어서,상기 물질의 상태는,비정질(amorphous), 다결정(poly crystalline) 또는 결정질(crystalline)인 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
13 13
제1항에 있어서,상기 복수의 음각 패턴과 상기 복수의 양각 패턴 사이에 접착층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
14 14
제13항에 있어서,상기 접착층은 실리콘 산화물(SiO2), 실리콘 질화물(Si3N4), 실리콘(Si), 게르마늄(Ge), 갈륨비소(GaAs), 금(Au), 은(Ag), 망간(Mn), 철(Fe), 구리(Cu), 크롬(Cr), 바나듐(V), 코발트(Co), 세륨(Ce), 니켈(Ni), 팔라듐(Pd), 백금(Pt), 아연(Zn), 텅스텐(W), 루테늄(Ru), 지르코늄(Zr), 알루미늄 갈륨 비소(AlGaAs), 알루미늄 질화 갈륨(AlGaN)과 같은 3-5족(III-V), 게르마늄(Ge), 실리콘게르마늄(SiGe), 폴리-실리콘(poly-Si), 하프늄 산화물(HfO), 지르코늄 산화물(ZrO2)과 같은 고유전(High-k) 물질 및 산화물(Oxide), 질화물(Nitride)과 같은 세라믹(Ceramic)으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판
15 15
내부에 선정된 복수의 음각 패턴을 포함하는 음각 패턴 구조체를 준비하는 단계;상기 복수의 음각 패턴에 대응되고 각각 상이한 선택적 특성을 갖는 서로 다른 복수의 물질로 형성되는 복수의 양각 패턴을 포함하는 양각 패턴 구조체를 준비하는 단계; 및상기 음각 패턴 구조체 및 상기 양각 패턴 구조체를 결합하여 선택적으로 특성의 제어가 가능한 이종 결합 구조를 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판의 제조 방법
16 16
제15항에 있어서,상기 결합하는 단계는,상기 복수의 음각 패턴 내에 상기 복수의 음각 패턴에 대응되는 상기 복수의 양각 패턴이 위치하도록 결합되는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판의 제조 방법
17 17
제15항에 있어서,상기 임베디드 기판의 제조 방법은,상기 음각 패턴 구조체에 결합된 상기 복수의 양각 패턴을 컷팅하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판 제조 방법
18 18
제15항에 있어서,상기 임베디드 기판의 제조 방법은,상기 복수의 음각 패턴과 상기 복수의 양각 패턴 사이에 접착층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판 제조 방법
19 19
제15항에 있어서,상기 임베디드 기판의 제조 방법은상기 음각 패턴 구조체 및 상기 복수의 양각 패턴의 표면을 평탄화하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 임베디드 기판 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.