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트레이닝 모드에서 클럭 신호를 기준으로 미리 설정된 단위 간격의 범위 내에서 제1 데이터 신호를 지연시킨 제1 타이밍 정보를 제공하고 가장 느린 송수신기와의 타이밍 차이에 대응하는 제2 타이밍 정보를 수신하며, 오퍼레이션 모드에서 상기 제2 타이밍 정보에 대응하여 제2 데이터 신호를 상기 미리 설정된 단위 간격의 배수로 지연시킨 보상 데이터를 다수의 피 시험 장치들에게 동시에 제공하는 송수신기들; 및상기 트레이닝 모드에서 상기 제1 타이밍 정보를 수신하고, 상기 제1 타이밍 정보에 대응하여 가장 느린 상기 송수신기와의 타이밍 차이를 연산하고, 상기 타이밍 차이에 대응하는 상기 제2 타이밍 정보를 상기 송수신기들에 제공하는 글로벌 디-스큐(De-skew)부;를 포함하는 테스트 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 송수신기들은,상기 트레이닝 모드에서 상기 클럭 신호를 기준으로 상기 제1 데이터 신호를 상기 미리 설정된 단위 간격의 범위 내에서 지연시키는 지연고정루프; 및상기 오퍼레이션 모드에서 상기 제2 데이터 신호를 상기 제2 타이밍 정보에 대응하는 상기 미리 설정된 단위 간격의 배수로 지연시키는 로컬 디-스큐부;를 포함하는 테스트 장치
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제 2 항에 있어서, 상기 송수신기들은,상기 트레이닝 모드에서 상기 미리 설정된 단위 간격의 위상 차이를 가지는 다중 위상 클록 신호들을 생성하고, 상기 오퍼레이션 모드에서 상기 다중 위상 클록 신호들을 상기 로컬 디-스큐부에 제공하는 위상 생성기;를 더 포함하는 테스트 장치
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제 3 항에 있어서, 상기 로컬 디-스큐부는,상기 오퍼레이션 모드에서 상기 제2 타이밍 정보에 대응하여 상기 제2 데이터 신호를 상기 미리 설정된 단위 간격의 배수로 지연시키는 디-플립플롭들; 및상기 오퍼레이션 모드에서 상기 제2 타이밍 정보에 대응하여 상기 다중 위상 클록 신호들 중 하나를 선택하는 클록 선택기;를 포함하는 테스트 장치
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제 2 항에 있어서, 상기 송수신기들은,상기 클록 신호를 미리 설정된 비로 분할하고 분할된 클록 신호를 출력하는 클록 디바이더;상기 클록 신호와 상기 분할된 클록 신호에 응답하여 상기 지연고정루프에 의해 지연된 상기 제1 데이터 신호를 병렬화하는 병렬 변환기; 및상기 병렬 변환기의 출력 신호를 엔코딩한 상기 제1 타이밍 정보를 상기 글로벌 디-스큐부에 제공하는 엔코더;를 더 포함하는 테스트 장치
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제 2 항에 있어서, 상기 송수신기들은상기 클럭 신호와 선택된 위상 클럭 신호에 응답하여 지연된 상기 제2 데이터 신호를 직렬화하는 직렬 변환기;상기 지연고정루프에 의해 지연된 클록 신호에 응답하여 상기 직렬 변환기의 출력 신호를 래치하는 래치부; 및상기 래치부의 출력 신호에 응답하여 상기 보상 데이터를 상기 피 시험 장치에 제공하는 출력 구동부;를 더 포함하는 테스트 장치
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제 6 항에 있어서, 상기 지연고정루프는상기 오퍼레이션 모드에서 상기 클럭 신호를 상기 트레이닝 모드에서 락된(locked) 지연량으로 지연시키고, 지연된 상기 클럭 신호를 상기 래치부에 제공하는 테스트 장치
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제 1 항에 있어서,상기 클럭 신호를 생성하는 클럭 생성부; 및상기 트레이닝 모드에서 상기 제1 데이터 신호를 생성하고, 상기 오퍼레이션모드에서 상기 제2 데이터 신호를 생성하는 데이터 생성부;를 더 포함하는 테스트 장치
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클럭 신호를 기준으로 미리 설정된 단위 간격(Unit Interval)의 범위 내에서 제1 데이터 신호를 지연시키는 지연고정루프, 상기 지연고정루프에 의해 지연된 상기 제1 데이터 신호에 대응하는 제1 타이밍 정보를 제공하는 엔코더, 및가장 느린 송수신기와의 타이밍 차이에 대응하는 제2 타이밍 정보에 대응하여 제2 데이터 신호를 상기 미리 설정된 단위 간격의 배수로 지연시키는 로컬 디-스큐부를 포함하는 송수신기들; 및상기 제1 타이밍 정보를 수신하고, 상기 제1 타이밍 정보에 대응하여 가장 느린 상기 송수신기와의 타이밍 차이를 연산하며, 상기 타이밍 차이에 대응하는 상기 제2 타이밍 정보를 상기 로컬 디-스큐부에 제공하는 글로벌 디-스큐(De-skew)부;를 포함하는 테스트 장치
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제 9 항에 있어서, 상기 지연고정루프는,상기 미리 설정된 단위 간격의 범위 내에서 지연시키도록 설정된 지연 라인을 포함하는 테스트 장치
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11
제 9 항에 있어서, 상기 로컬 디-스큐부는,상기 제2 타이밍 정보에 대응하여 상기 제2 데이터 신호를 상기 미리 설정된 단위 간격의 배수로 지연시키는 로직 회로를 포함하는 테스트 장치
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제 9 항에 있어서, 상기 송수신기들은,상기 미리 설정된 단위 간격의 위상 차이를 가지는 다중 위상 클록 신호들을 생성하고, 이를 상기 로컬 디-스큐부에 제공하는 위상 생성기;를 더 포함하는 테스트 장치
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제 12 항에 있어서, 상기 로컬 디-스큐부는,상기 제2 타이밍 정보에 대응하여 상기 제2 데이터 신호를 상기 미리 설정된 단위 간격의 배수로 지연시키는 디 플립플롭들; 및상기 제2 타이밍 정보에 대응하여 상기 다중 위상 클록 신호들 중 하나를 선택하는 클록 선택기;를 포함하는 테스트 장치
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제 9 항에 있어서,상기 제1 데이터 신호는 상기 송수신기들에 대응하는 채널들의 타이밍 정보를 얻기 위한 구간에 제공되는 신호이고, 상기 제2 데이터 신호는 피 시험 장치들을 동시에 테스트하는 구간에 제공되는 신호로 설정된 테스트 장치
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