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온 칩 DRAM을 사용한 멀티코어 환경에서의 포스트 실리콘 디버그 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2018011004
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 온 칩 DRAM을 사용하여 멀티코어 환경에서 포스트 실리콘 디버그 시 에러라고 추정되는 데이터만 선택적으로 디버깅하는 기술로서, 일실시예에 따른 포스트 실리콘의 디버그 방법은 디버그 시작 전 시뮬레이션에 기초하여 디버그 구간에 해당하는 골든 데이터를 생성하고, 상기 생성된 골든 데이터를 트레이스 버퍼에 업로드 하여 상기 디버그 구간 중에서 에러 구간들을 파악하는 단계, 상기 파악된 에러 구간들에 상응하는 에러 사이클을 검출하는 단계, 및 상기 검출된 에러 사이클에 해당하는 에러 데이터를 선별적으로 디버그하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL G06F 11/07 (2006.01.01) G06F 11/36 (2006.01.01)
CPC G06F 11/0793(2013.01) G06F 11/0793(2013.01) G06F 11/0793(2013.01) G06F 11/0793(2013.01)
출원번호/일자 1020170013806 (2017.01.31)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0089121 (2018.08.08) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.01.31)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성호 대한민국 서울특별시 마포구
2 오형교 대한민국 서울특별시 송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김연권 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, ****/****호(문정동, 문정대명벨리온)(시안특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.01.31 수리 (Accepted) 1-1-2017-0101524-94
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.12.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0867118-06
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.01.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0082979-21
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.01.23 수리 (Accepted) 1-1-2019-0082990-24
5 등록결정서
Decision to grant
2019.03.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0157103-47
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번호 청구항
1 1
디버그 시작 전 시뮬레이션에 기초하여 디버그 구간에 해당하는 골든 데이터를 생성하고, 상기 생성된 골든 데이터를 트레이스 버퍼에 업로드 하여 상기 디버그 구간 중에서 에러 구간들을 파악하는 단계;상기 파악된 에러 구간들에 상응하는 에러 사이클을 검출하는 단계; 및상기 검출된 에러 사이클에 해당하는 에러 데이터를 선별적으로 디버그하는 단계를 포함하고,상기 검출된 에러 사이클에 해당하는 에러 데이터를 선별적으로 디버그하는 단계는,상기 검출된 에러 사이클에 해당하는 에러 데이터를 선별적으로 저장하는 단계; 및상기 저장된 에러 데이터를 선별하여 디버그하는 단계를 포함하는 포스트 실리콘의 디버그 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 에러 구간들을 파악하는 단계는,상기 골든 데이터를 상기 트레이스 버퍼에 업로드 하되, JTAG(Joint Test Action Group)를 포함하는 외부 인터페이스를 통해 업로드 하는 단계를 포함하는 포스트 실리콘의 디버그 방법
3 3
디버그 시작 전 시뮬레이션에 기초하여 디버그 구간에 해당하는 골든 데이터를 생성하고, 상기 생성된 골든 데이터를 트레이스 버퍼에 업로드 하여 상기 디버그 구간 중에서 에러 구간들을 파악하는 단계;상기 파악된 에러 구간들에 상응하는 에러 사이클을 검출하는 단계; 및상기 검출된 에러 사이클에 해당하는 에러 데이터를 선별적으로 디버그하는 단계를 포함하고,상기 에러 구간들을 파악하는 단계는,상기 시뮬레이션을 통해 에러가 아닌 것으로 예측되는 구간에 해당하는 데이터를 상기 골든 데이터로 결정하는 단계;상기 디버그를 진행하면서 MISR(Multiple Input Signature Register)를 통해 압축하여 실시간으로 에러인 구간과, 상기 골든 데이터를 비교하며 에러 여부를 판단하는 단계; 및상기 판단 결과 에러가 발생하는 데이터에 대해 1비트(bit)의 태그 비트(EI tag)를 이용하여 기록하는 단계를 포함하는 포스트 실리콘의 디버그 방법
4 4
제3항에 있어서,상기 판단 결과 에러가 발생하지 않는 구간에 대해서는 인덱스(EI index)를 이용하여 기록하는 단계를 더 포함하는 포스트 실리콘의 디버그 방법
5 5
제3항에 있어서,상기 디버그 구간 중에서 에러 구간들을 파악하는 단계는,상기 디버그 구간에 해당하는 골든 데이터를 상기 MISR(Multiple Input Signature Register) 사이즈로 분할하여 압축하는 단계; 및상기 분할 및 압축된 골든 데이터를 칩 내 디램(DRAM)에 저장하는 단계를 포함하는 포스트 실리콘의 디버그 방법
6 6
삭제
7 7
제1항에 있어서,상기 파악된 에러 구간 내의 모든 코어가 에러인 경우, 디램(DRAM)에 상기 생성된 골든 데이터를 추가하는 단계를 더 포함하는 포스트 실리콘의 디버그 방법
8 8
디버그 시작 전 시뮬레이션에 기초하여 디버그 구간에 해당하는 골든 데이터를 생성하고, 상기 생성된 골든 데이터를 트레이스 버퍼에 업로드 하여 상기 디버그 구간 중에서 에러 구간들을 파악하는 단계;상기 파악된 에러 구간들에 상응하는 에러 사이클을 검출하는 단계; 및상기 검출된 에러 사이클에 해당하는 에러 데이터를 선별적으로 디버그하는 단계를 포함하고,상기 에러 사이클을 검출하는 단계는,사이클 별로 에러 사이클을 판별하여 태그 비트(EC tag) 형태로 저장하되, 쉐도우(shadow) 버퍼를 이용하여 상기 판별된 에러 사이클을 저장하는 단계를 포함하는 포스트 실리콘의 디버그 방법
9 9
디버그 시작 전 시뮬레이션에 기초하여 디버그 구간에 해당하는 골든 데이터를 생성하고, 상기 생성된 골든 데이터를 트레이스 버퍼에 업로드 하여 상기 디버그 구간 중에서 에러 구간들을 파악하는 세션 1 처리부;상기 파악된 에러 구간들에 상응하는 에러 사이클을 검출하는 세션 2 처리부; 및상기 검출된 에러 사이클에 해당하는 에러 데이터를 선별적으로 디버그하는 세션 3 처리부를 포함하고,상기 세션 3 처리부는,상기 검출된 에러 사이클에 해당하는 에러 데이터를 선별적으로 저장하고, 상기 저장된 에러 데이터를 선별하여 디버그하는를 포함하는 포스트 실리콘의 디버그 장치
10 10
제9항에 있어서,상기 세션 1 처리부는,상기 골든 데이터를 상기 트레이스 버퍼에 업로드 하되, JTAG(Joint Test Action Group)를 포함하는 외부 인터페이스를 통해 업로드 하는 단계를 포함하는 포스트 실리콘의 디버그 장치
11 11
디버그 시작 전 시뮬레이션에 기초하여 디버그 구간에 해당하는 골든 데이터를 생성하고, 상기 생성된 골든 데이터를 트레이스 버퍼에 업로드 하여 상기 디버그 구간 중에서 에러 구간들을 파악하는 세션 1 처리부;상기 파악된 에러 구간들에 상응하는 에러 사이클을 검출하는 세션 2 처리부; 및상기 검출된 에러 사이클에 해당하는 에러 데이터를 선별적으로 디버그하는 세션 3 처리부를 포함하고,상기 세션 1 처리부는,상기 시뮬레이션을 통해 에러가 아닌 것으로 예측되는 구간에 해당하는 데이터를 상기 골든 데이터로 결정하고, 상기 디버그를 진행하면서 MISR(Multiple Input Signature Register)를 통해 압축하여 실시간으로 에러인 구간과, 상기 골든 데이터를 비교하며 에러 여부를 판단하며, 상기 판단 결과 에러가 발생하는 데이터에 대해 1비트(bit)의 태그 비트(EI tag)를 이용하여 기록하는 포스트 실리콘의 디버그 장치
12 12
제11항에 있어서,상기 세션 1 처리부는,상기 판단 결과 에러가 발생하지 않는 구간에 대해서는 인덱스(EI index)를 이용하여 기록하는 포스트 실리콘의 디버그 장치
13 13
제11항에 있어서,상기 세션 1 처리부는,상기 디버그 구간에 해당하는 골든 데이터를 상기 MISR(Multiple Input Signature Register) 사이즈로 분할하여 압축하고, 상기 분할 및 압축된 골든 데이터를 칩 내 디램(DRAM)에 저장하는 포스트 실리콘의 디버그 장치
14 14
삭제
15 15
제9항에 있어서,상기 세션 1 처리부는,상기 파악된 에러 구간 내의 모든 코어가 에러인 경우, 디램(DRAM)에 상기 생성된 골든 데이터를 추가하는 포스트 실리콘의 디버그 장치
16 16
디버그 시작 전 시뮬레이션에 기초하여 디버그 구간에 해당하는 골든 데이터를 생성하고, 상기 생성된 골든 데이터를 트레이스 버퍼에 업로드 하여 상기 디버그 구간 중에서 에러 구간들을 파악하는 세션 1 처리부;상기 파악된 에러 구간들에 상응하는 에러 사이클을 검출하는 세션 2 처리부; 및상기 검출된 에러 사이클에 해당하는 에러 데이터를 선별적으로 디버그하는 세션 3 처리부를 포함하고,상기 세션 2 처리부는,사이클 별로 에러 사이클을 판별하여 태그 비트(EC tag) 형태로 저장하되, 쉐도우(shadow) 버퍼를 이용하여 상기 판별된 에러 사이클을 저장하는 포스트 실리콘의 디버그 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 연세대학교 산학협력단 중견연구자지원사업 초미세폭 3차원 반도체 제조비용 절감을 위한 설계 및 테스트 기술 연구(2/3)(2015.5.1~2018.4.30)