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수신 탐촉자가 부착된 피검사체에 초음파 신호를 송수신하는 수신부의 캘리브레이션 단계;송수신 탐촉자가 부착된 피검사체에 고전압 펄서를 이용하여 발생되는 톤 버스트 신호를 송신하고, 상기 피검사체를 통과한 톤 버스트 신호를 수신하는 수신부의 고조파 측정 단계;송신 탐촉자가 부착된 피검사체에 톤 버스트 신호를 송신하고, 상기 송신되는 톤 버스트 신호를 수신하는 송신부의 고조파 측정 단계;송신 탐촉자가 부착된 피검사체에 초음파 신호를 송수신하는 송신부의 캘리브레이션 단계; 및상기 수신부에서 측정되는 기본 주파수 및 고조파 성분과 상기 송신부에서 측정되는 기본 주파수 및 고조파 성분을 비교하여 상기 피검사체의 초음파 비선형성을 측정하는 단계를 포함하고,상기 송신부의 캘리브레이션 단계는,상기 송신부의 초음파 신호에 의해 송수신되는 전압과 전류로부터 하기 수학식 15로 표현되는 변환계수를 측정하는 것을 특징으로 하는 고전압 펄서에서 발생되는 초음파 비선형성 측정 방법
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제1항에 있어서,상기 초음파 신호는 광대역의 초음파 펄서 리시버를 이용하여 송수신하는 것을 특징으로 하는 고전압 펄서에서 발생되는 초음파 비선형성 측정 방법
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제1항에 있어서,상기 수신부의 고조파 측정 단계는 상기 수신 탐촉자가 부착된 피검사체에 송신 탐촉자를 추가로 부착하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 초음파 비선형성 측정 방법
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제1항에 있어서,상기 송신부의 고조파 측정 단계는 상기 송수신 탐촉자가 부착된 피검사체에서 수신 탐촉자를 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 초음파 비선형성 측정 방법
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제1항에 있어서,상기 수신부의 캘리브레이션 단계는,상기 수신부의 초음파 신호에 의해 송수신되는 전압과 전류로부터 하기 수학식 11로 표현되는 변환계수를 측정하는 것을 특징으로 하는 초음파 비선형성 측정 방법
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제1항에 있어서,상기 수신부에서 측정된 기본 주파수 및 고조파 성분은 하기 수학식 16으로부터 산출되는 것을 특징으로 하는 초음파 비선형성 측정 방법
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제7항에 있어서,상기 송신부에서 측정된 기본 주파수 및 고조파 성분은 하기 수학식 17로부터 산출되는 것을 특징으로 하는 초음파 비선형성 측정 방법
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제8항에 있어서,상기 피검사체의 초음파 비선형을 측정하는 단계는,상기 수신부에서 측정된 기본 주파수 성분과 상기 송신부에서 측정된 기본 주파수 성분의 차이를 통해 상기 피검사체의 기본 주파수 성분을 측정하고,상기 수신부에서 측정된 고조파 성분과 상기 송신부에서 측정된 고조파 성분의 차이를 통해 상기 피검사체의 고조파 성분을 측정하는 것을 특징으로 하는 초음파 비선형성 측정 방법
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제9항에 있어서,상기 피검사체의 기본 주파수 성분 및 고조파 성분 각각은 기본 주파수 성분 및 2차 고조파 성분의 변위 진폭이고,상기 피검사체의 절대 비선형 파라미터는 하기 수학식 18로 표현되는 것을 특징으로 하는 초음파 비선형성 측정 방법
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송신 탐촉자가 부착된 피검사체에 초음파 신호를 송수신하는 송신부의 캘리브레이션 단계;송신 탐촉자가 부착된 피검사체에 톤 버스트 신호를 송신하고, 상기 송신되는 톤 버스트 신호를 수신하는 송신부의 고조파 측정 단계;송수신 탐촉자가 부착된 피검사체에 톤 버스트 신호를 송신하고, 상기 피검사체를 통과한 톤 버스트 신호를 수신하는 수신부의 고조파 측정 단계;수신 탐촉자가 부착된 피검사체에 초음파 신호를 송수신하는 수신부의 캘리브레이션 단계;상기 수신부에서 측정되는 기본 주파수 및 고조파 성분과 상기 송신부에서 측정되는 기본 주파수 및 고조파 성분을 비교하여 상기 피검사체의 초음파 비선형성을 측정하는 단계를 포함하고,상기 송신부의 캘리브레이션 단계는,상기 송신부의 초음파 신호에 의해 송수신되는 전압과 전류로부터 하기 수학식 15로 표현되는 변환계수를 측정하는 것을 특징으로 하는 초음파 비선형성 측정 방법
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제11항에 있어서,상기 수신부의 고조파 측정 단계는 상기 송신 탐촉자가 부착된 피검사체에 수신 탐촉자를 추가로 부착하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 초음파 비선형성 측정 방법
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제11항에 있어서,상기 수신부의 캘리브레이션 단계는 상기 송수신 탐촉자가 부착된 피검사체에서 송신 탐촉자를 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 초음파 비선형성 측정 방법
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