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하만법(Harman method)을 이용하여 열전소재의 AC전압(Vac), 전기저항(R), 비저항(ρ), DC전압(Vdc), 열전 성능지수(ZT) 및 열전도도(k)를 측정하되, 서로 크기가 다른 시료로 최소 4번 이상 시행하는 1차 데이터 측정단계;상기 1차 데이터 측정과 별도로 열전소재의 제백계수(αt)를 측정하는 제백계수 측정단계;상기 1차 데이터 측정단계에서 측정한 DC전압(Vdc)을 이용하여 열전소재 양단의 온도차(△Ｔ)를 하기의 식 1을 적용하여 계산하는 온도차 계산단계;003c#식 1003e#하기의 식 2를 적용하여 하만법에서 측정될 Z값을 계산하는 Z값 계산단계;003c#식 2003e#(단, 상기 식 2에서 α는 제백계수(Seebeck coefficient), ｋ는 열전도도(Thermal conductivity), Kw는 도선의 열전도성(Effective thermal conductance of wires), ρ는 전기 비저항(Electrical resistivity), I는 전류의 세기(Current amplitude), L은 열전소재의 길이(Sample length), A는 열전소재의 단면적(Sample cross-section area), △Ｔ는 열전 소재 양단의 온도차(Temperature difference across the sample)이며, 아래 첨자 t는 열전 소재 샘플이고, 아래첨자 w는 도선이다
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청구항 1에 있어서,상기 1차 데이터 측정단계는 열전 소재에 AC전류를 가하여 AC전압(Vac), 전기저항(R), 비저항(ρ)을 측정하는 단계 및 열전 소재에 DC전류를 가하여 DC전압(Vdc), 열전성능지수(ZT), 열전도도(ｋt)를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 열전 반도체의 열전도도 및 열전 성능지수의 측정방법
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청구항 3에 있어서,상기 1차 데이터 측정단계는 DC전류를 가한 후 DC전압(Vdc)이 안정화된 이후에 DC전압, 열전성능지수(ZT), 열전도도(ｋ)를 측정하는 것을 특징으로 하는 열전 반도체의 열전도도 및 열전 성능지수의 측정방법
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청구항 1에 있어서,상기 ｋt 및 Kw값을 결정하는 단계는 하기 식 3의 최소자승법을 이용하여 오차가 최소가 되도록 하는 것을 특징으로 하는 열전 반도체의 열전도도 및 열 전성능지수의 측정방법:003c#식 3003e#상기 식 3에서 Z1은 다른 규격의 시료에서 측정한 성능지수 값이고, Z2는 임의의 시료의 열전도도(ｋt)와 도선의 열전도성(Kw)으로 계산한 성능지수 값이다
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청구항 1에 있어서,상기 성능지수 결정단계는 보정된 열전소재의 성능지수(Z)가 하기의 식 4에 의하여 결정되는 것을 특징으로 하는 열전 반도체의 열전도도 및 열전 성능지수의 측정방법:003c#식 4003e#
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청구항 1에 있어서,상기 1차 데이터 측정단계에서 측정된 열전성능지수(Zc)와 실제 열전소재의 열전 성능지수(Zi)는 하기의 식 5를 만족하는 것을 특징으로 하는 열전 반도체의 열전도도 및 열전 성능지수의 측정방법:003c#식 5003e#
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청구항 1에 있어서,하만법의 보정계수는 하기 식 6으로 표현되는 것을 특징으로 하는 열전 반도체의 열전도도 및 열전 성능지수의 측정방법:003c#식 6003e#
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