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질량 분석 장치, 질량 분석 방법 및 반도체 웨이퍼의 분석 방법

  • 기술번호 : KST2019018077
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 국부적인 저분자량 피분석물의 분석이 가능한 질량 분석 장치, 질량 분석 방법 및 반도체 웨이퍼의 분석 방법이 제공된다. 질량 분석 장치는, 유기물을 포함하는 반도체 웨이퍼가 배치되는 플레이트, 반도체 웨이퍼 상의 소정의 영역에, ZnO-그래핀 하이브리드를 제공하는 하이브리드 제공부, 및 레이저 탈착/이온화 질량 분석법(LDI-MS)을 이용하여, 소정의 영역에서 유기물을 검출하는 질량 분석부를 포함한다.
Int. CL H01J 49/04 (2006.01.01) H01L 27/146 (2006.01.01)
CPC H01J 49/0418(2013.01) H01J 49/0418(2013.01)
출원번호/일자 1020180026121 (2018.03.06)
출원인 삼성전자주식회사, 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0105715 (2019.09.18) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김국주 경기도 성남시 분당구
2 이강택 서울특별시 양천구
3 엄기주 서울특별시 서대문구
4 윤철상 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인가산 대한민국 서울 서초구 남부순환로 ****, *층(서초동, 한원빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.03.06 수리 (Accepted) 1-1-2018-0223678-78
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번호 청구항
1 1
유기물을 포함하는 반도체 웨이퍼가 배치되는 플레이트;상기 반도체 웨이퍼 상의 소정의 영역에, ZnO-그래핀 하이브리드를 제공하는 하이브리드 제공부; 및레이저 탈착/이온화 질량 분석법(LDI-MS)을 이용하여, 상기 소정의 영역에서 상기 유기물을 검출하는 질량 분석부를 포함하는 질량 분석 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 ZnO-그래핀 하이브리드는, 나노입자형 ZnO(ZnO nanoparticle) 및 환원된 산화그래핀(rGO)을 포함하는 질량 분석 장치
3 3
제 2항에 있어서,상기 ZnO-그래핀 하이브리드는, 상기 ZnO-그래핀 하이브리드 100 중량%에 대하여, 1
4 4
제 1항에 있어서,상기 유기물은 1000 Da 이하의 분자량을 갖는 질량 분석 장치
5 5
제 1항에 있어서,상기 하이브리드 제공부는, 상기 소정의 영역에, 상기 ZnO-그래핀 하이브리드가 분산된 현탁액을 제공하는 질량 분석 장치
6 6
제 1항에 있어서,상기 하이브리드 제공부는, 상기 소정의 영역의 단위 면적(0
7 7
피분석물(analyte)을 포함하는 기판이 배치되는 플레이트;상기 피분석물과 흡착되는 ZnO-그래핀 하이브리드를 제공하여, 상기 기판 상에 혼합 시료를 형성하는 하이브리드 제공부;상기 피분석물을 이온화시키는 광을 조사하여, 이온화된 피분석물을 생성하는 광 조사부;상기 이온화된 피분석물을 검출하여, 상기 피분석물의 질량 데이터를 생성하는 이온 검출부를 포함하는 질량 분석 장치
8 8
제 7항에 있어서,상기 피분석물은 고체상의 유기물을 포함하는 질량 분석 장치
9 9
제 7항에 있어서,상기 하이브리드 제공부는 마이크로 피펫(micropipette)을 포함하는 질량 분석 장치
10 10
유기물을 포함하는 반도체 웨이퍼를 제공하고,상기 반도체 웨이퍼 상의 소정의 영역에, ZnO-그래핀 하이브리드를 제공하고,레이저 탈착/이온화 질량 분석법(LDI-MS)을 이용하여, 상기 소정의 영역에서 상기 유기물을 검출하는 것을 포함하는 반도체 웨이퍼의 분석 방법
지정국 정보가 없습니다
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1 CN110231393 CN 중국 FAMILY
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